AON6552Alpha & Omega Semiconductor ↓ Twoj uklad | N | DFN-5x6 4.9×3.9mm | 30V | 30A | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | — | PDF → | — |
NTMFS4C03NT1Gonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-5x6 4.9×3.9mm | 30V | 30A | 2.1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 45.2nC | 2.2V | 150°C | PDF → | — |
NTMFS4C324NT1Gonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-5x6 4.9×3.9mm | 30V | 30A | 1.7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20.8nC | 2.2V | 150°C | PDF → | — |
NTMFS4C922NAT3Gonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-5x6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-5x6 | 30V | 30A | 1.7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 45.2nC | 2.2V | 150°C | PDF → | — |
NTMFS4C302NT1Gonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-5x6 4.9×3.9mm | 30V | 41A | 1.15mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 82nC | 2.2V | 150°C | PDF → | — |
NTMFS5C426NT1Gonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-5x6 4.9×3.9mm | 40V | 41A | 1.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 65nC | 3.5V | 175°C | PDF → | — |
NTMFS4C10NT1G-001onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-5x6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-5x6 | 30V | 46A | 6.95mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 18.6nC | 2.2V | 150°C | PDF → | — |
NTMFS0D9N03CGT1Gonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-5x6 4.9×3.9mm | 30V | 48A | 0.9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 131.4nC | 2.2V | 175°C | PDF → | — |
QM3052M6UBIQ Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-5x6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-5x6 | 30V | 62A | 8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.4nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
NTMFS5C410NT1Gonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-5x6 4.9×3.9mm | 40V | 46A | 0.92mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 86nC | 3.5V | 175°C | PDF → | — |
NTMFS5H400NLT3Gonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-5x6 4.9×3.9mm | 40V | 46A | 0.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 2V | 150°C | PDF → | — |
QM3054M6UBIQ Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-5x6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-5x6 | 30V | 97A | 4.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11.5nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
QM3058M6UBIQ Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-5x6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-5x6 | 30V | 140A | 2.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.5V | 150°C | PDF → | Zobacz ofertę → |
QN3109M6NUBIQ Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-5x6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-5x6 | 30V | 154A | 1.35mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.2V | 150°C | PDF → | — |
NTMFS4983NFT1Gonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-5x6 4.9×3.9mm | 30V | 160A | 2.1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 47.9nC | 2.3V | 150°C | PDF → | Zobacz ofertę → |
NTMFS4983NFT3Gonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-5x6 4.9×3.9mm | 30V | 160A | 2.1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 47.9nC | 2.3V | 150°C | PDF → | — |
IRFH7440TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-5x6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-5x6 | 32V | 159A | 1.82mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 138nC | 2.2V | 125°C | PDF → | — |
PK5C8EANIKO-SEM Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-5x6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: Id
| N | DFN-5x6 | 30V | — | 2.4mΩ Vgs=10V, 100°C | — | 2V | — | PDF → | — |
PK6D0BANIKO-SEM Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-5x6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: Id
| N | DFN-5x6 | 30V | — | 10.5mΩ Vgs=4.5V, temperatura nieznana | — | 1V | — | PDF → | — |
SM4500NHKPSinopower Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-5x6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: Id
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-5x6 | 30V | — | 1.1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 76nC | 1.6V | — | PDF → | — |
SM4513NHKPC-TRGSinopower Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-5x6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: Id
| N | DFN-5x6 | 30V | — | 2.7mΩ Vgs=10V, 125°C | 36.5nC | 1.5V | — | PDF → | — |
AON6510Alpha & Omega Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-5x6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- UWAGA: Id 28A < 30A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-5x6 | 30V | 28A | 4.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 42nC | 2.2V | 150°C | PDF → | — |
NTMFS4982NFT1Gonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- UWAGA: Id 26.5A < 30A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-5x6 4.9×3.9mm | 30V | 26.5A | 1.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 84nC | 2.2V | 150°C | PDF → | — |
NTMFS4C908NAT3Gonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-5x6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- UWAGA: Id 25.3A < 30A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-5x6 | 30V | 25.3A | 4.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8.4nC | 1.32V | 150°C | PDF → | — |
NTMFS5C442NT3Gonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- UWAGA: Id 29A < 30A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-5x6 4.9×3.9mm | 40V | 29A | 2.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 32nC | 4V | 175°C | PDF → | — |
NTMFS5C442NLTT3Gonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- UWAGA: Id 28A < 30A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-5x6 4.9×3.9mm | 40V | 28A | 2.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 50nC | 2V | 175°C | PDF → | — |