AP40P04GALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) ↓ Twoj uklad | P | DFN-5x6 5×6mm | 40V | 40A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | — | PDF → |
NVMFS014P04M8LT1Gonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | DFN-5x6 5×6mm | 40V | 52.1A | 13.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1V | 100°C | PDF → |
NVMFWS014P04M8LT1Gonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | DFN-5x6 5×6mm | 40V | 52.1A | 13.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1V | 100°C | PDF → |
TDM3405Techcode Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | DFN-5x6 5×6mm | 40V | 55A | 55mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 59nC | 2V | 150°C | PDF → |
WSD40L60DN56Winsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | DFN-5x6 5×6mm | 40V | 60A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.7V | 150°C | PDF → |
AGM60P40AAGM-Semi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | DFN-5x6 5×6mm | 60V | 40A | 23mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 25nC | 1.6V | 150°C | PDF → |
G300P06D5GOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | DFN-5x6 5×6mm | 60V | 40A | 40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 2.4V | — | PDF → |
S40P06FHL Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
| P | DFN-5x6 5×6mm | 60V | 40A | 1924mΩ Vgs=0V, temperatura nieznana | 22nC | 1.3V | 150°C | PDF → |
WSD60P06DN56Winsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | DFN-5x6 5×6mm | 60V | 60A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 1.85V | 150°C | PDF → |
AP85P04GALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | DFN-5x6 5×6mm | 40V | 85A | 4.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 118nC | 1.7V | 150°C | PDF → |
WSD90P06DN56Winsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | DFN-5x6 5×6mm | 60V | 90A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12nC | 1.8V | 150°C | PDF → |
AGM40P100AAGM-Semi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Id
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | DFN-5x6 5×6mm | 40V | — | 5000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 106nC | 1.2V | 175°C | PDF → |
G35P04D5GOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- UWAGA: Id 35A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | DFN-5x6 5×6mm | 40V | 35A | 35mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 7V | — | PDF → |
NVMFWS025P04M8LT1Gonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- UWAGA: Id 34.6A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | DFN-5x6 5×6mm | 40V | 34.6A | 23mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.56nC | 1V | 100°C | PDF → |