Zamienniki dla CSD19505KTTT
CSD19505KTTT (Texas Instruments)
- Typ ukladu
- MOSFET N-channel
- Obudowa
- TO-252
- Wymiary
- 6.5 × 6.1 × 2.3 mm
Brakuje danych: Vgs pomiaru Rds(on) — sprawdz datasheet przed dobieraniem zamiennika.
Pelne szczegoly ukladu (parametry, pinout) →
Kandydaci do weryfikacji (4)
Pierwszy wiersz = Twoj uklad. Kolejne pozycje nie spelniaja kompletu regul dla pewnego zamiennika, wiec pokazujemy je tylko jako kandydatow do recznej weryfikacji.
| MPN | Polar. | Obudowa | Vds | Id | Rds(on) | Qg | Vgs(th) | Tj max | Datasheet |
|---|
CSD19505KTTTTexas Instruments ↓ Twoj uklad | N | TO-252 6.5×6.1mm | 80V | 200A | 3.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 2.6V | 175°C | PDF → |
CSD19532KTTTexas Instruments Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 200A | 5.36mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.6nC | 2.6V | 175°C | PDF → |
CSD19506KTTTexas Instruments Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: standard -> logic-level (Vgs(th) 2.6V vs 2.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (25nC vs 15nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 80V | 200A | 2.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 25nC | 2.5V | 175°C | PDF → |
KND3203BKIA Semicon Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: standard -> logic-level (Vgs(th) 2.6V vs 1.31V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (50nC vs 15nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 82.3V | 320A | 3.14mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 50nC | 1.31V | 150°C | PDF → |
BUK6215-75C,118-NEXBUK6215-75C,118-NEX Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- UWAGA: Vds 75V < 80V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Id
- Brak danych: Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 75V | — | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | — | Szukaj PDF → |
Niezgodne lub nieobsługiwane propozycje ze źródeł (3)
- AOD2816: id-too-low
- BUK6211-75C,118: id-too-low
- STD110N8F6: id-too-low