Zamienniki dla CSD19532KTT

CSD19532KTT (Texas Instruments)auto

Typ ukladu: MOSFET N-channel
Obudowa: TO-252
Wymiary: 6.5 × 6.1 × 2.3 mm

Brakuje danych: Vgs pomiaru Rds(on) — sprawdz datasheet przed dobieraniem zamiennika.

Pelne szczegoly ukladu (parametry, pinout) →

Kandydaci do weryfikacji (7)

Pierwszy wiersz = Twoj uklad. Kolejne pozycje nie spelniaja kompletu regul dla pewnego zamiennika, wiec pokazujemy je tylko jako kandydatow do recznej weryfikacji.

MPN	Polar.	Obudowa	Vds	Id	Rds(on)	Qg	Vgs(th)	Tj max	Datasheet
`CSD19532KTT` Texas Instruments ↓ Twoj uklad	N	TO-252 6.5×6.1mm	100V	200A	5.36mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	9.6nC	2.6V	175°C	PDF →
`BUK7275-100A,118` Nexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5) kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Id Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	TO-252 6.5×6.1mm	100V	—	187mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	4.4V	175°C	PDF →
`BUK9275-100A,118` BUK9275-100A,118 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) rozny typ bramki: standard -> logic-level (Vgs(th) 2.6V vs 0.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Id Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	TO-252 6.5×6.1mm	100V	—	84mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	0.5V	175°C	PDF →
`CSD19505KTTT` Texas Instruments Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5) UWAGA: Vds 80V < 100V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (15nC vs 9.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	TO-252 6.5×6.1mm	80V	200A	3.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	15nC	2.6V	175°C	PDF →
`SQD70140EL_GE3` SQD70140EL_GE3 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) rozny typ bramki: standard -> logic-level (Vgs(th) 2.6V vs 1.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (26.54nC vs 9.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: Id	N	TO-252 6.5×6.1mm	100V	—	15mΩ Vgs=10V, 25°C	26.54nC	1.5V	—	PDF →
`BUK9230-100B,118` BUK9230-100B,118 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) rozny typ bramki: standard -> logic-level (Vgs(th) 2.6V vs 0.4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (33nC vs 9.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: Id Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	TO-252 6.5×6.1mm	100V	—	2428mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	33nC	0.4V	185°C	PDF →
`CSD19506KTT` Texas Instruments Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) rozny typ bramki: standard -> logic-level (Vgs(th) 2.6V vs 2.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs UWAGA: Vds 80V < 100V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (25nC vs 9.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	TO-252 6.5×6.1mm	80V	200A	2.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	25nC	2.5V	175°C	PDF →
`KND3203B` KIA Semicon Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) rozny typ bramki: standard -> logic-level (Vgs(th) 2.6V vs 1.31V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs UWAGA: Vds 82.3V < 100V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (50nC vs 9.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	TO-252 6.5×6.1mm	82.3V	320A	3.14mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	50nC	1.31V	150°C	PDF →

Niezgodne lub nieobsługiwane propozycje ze źródeł (12)

FDD8447L-F085: id-too-low
HSU0048: id-too-low
IPD050N10N5: id-too-low
IPD050N10N5ATMA1: id-too-low
IPD068N10N3G: id-too-low
IPD90N10S4-06: id-too-low
IPD90N10S4L06ATMA1: id-too-low
NCE8295AK: id-too-low
STD105N10F7AG: id-too-low
VBE1105: id-too-low
VBZE80N10: id-too-low
YFW120N10AD: id-too-low