FDC8886onsemi ↓ Twoj uklad | N | SOT-23-6 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 125mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.37nC | 1.21V | 150°C | PDF → |
PJS6412_S1_00001PANJIT International Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23-6 2.9×1.6mm | 30V | 8A | 8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.7V | 150°C | PDF → |
G8N03GOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SOT-23-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (13nC vs 5.37nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23-6 2.9×1.6mm | 30V | 8A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13nC | 1.4V | 150°C | PDF → |
YJJ09N03AYangzhou Yangjie Elec Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (23.6nC vs 5.37nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23-6 2.9×1.6mm | 30V | 9A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 23.6nC | 1.5V | 150°C | PDF → |
FDC5661NFDC5661N Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (14.5nC vs 5.37nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23-6 2.9×1.6mm | 60V | 7A | 47mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 14.5nC | 1V | — | PDF → |
TDM3420TRTechcode Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- UWAGA: Id 6.3A < 6.5A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23-6 2.9×1.6mm | 30V | 6.3A | 26mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.8nC | 1.9V | 150°C | PDF → |
AGM312MEAGM-Semi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.21V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 6A < 6.5A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23-6 2.9×1.6mm | 30V | 6A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 4V | 150°C | PDF → |
CPH6443-TL-Wonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 6A < 6.5A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 5.37nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23-6 2.9×1.6mm | 35V | 6A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.2V | 150°C | PDF → |
DMG6402LVT-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 6A < 6.5A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11.4nC vs 5.37nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23-6 2.9×1.6mm | 30V | 6A | 22mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11.4nC | 1.5V | 150°C | PDF → |
STT6N3LLH6STMicroelectronics Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 6A < 6.5A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (14nC vs 5.37nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23-6 2.9×1.6mm | 30V | 6A | 3000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 14nC | 1V | 150°C | PDF → |
G3404LLGOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 6A < 6.5A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15nC vs 5.37nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23-6 2.9×1.6mm | 30V | 6A | 6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 2V | 150°C | PDF → |
FDC645Nonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 5.5A < 6.5A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (13nC vs 5.37nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23-6 2.9×1.6mm | 30V | 5.5A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13nC | 1.4V | 150°C | PDF → |