FDT459Nonsemi ↓ Twoj uklad | N | SOT-223-4 | 30V | 6.5A | 35mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.2nC | 4.2V | 150°C | PDF → |
NDT451ANNDT451AN Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (SOT-223-4) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SOT-223-4) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (30nC vs 2.2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-223-4 | 30V | 7.2A | 35mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 3V | 150°C | Szukaj PDF → |
FQT7N10TFFQT7N10TF Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (SOT-223-4) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- rozny typ bramki: standard -> logic-level (Vgs(th) 4.2V vs 2V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.87nC vs 2.2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-223-4 | 100V | 7A | 100mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.87nC | 2V | 150°C | PDF → |
IRLL024NTR-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (SOT-223-4) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- rozny typ bramki: standard -> logic-level (Vgs(th) 4.2V vs 1V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (27nC vs 2.2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-223-4 | 60V | 7A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 27nC | 1V | 175°C | PDF → |
IPN60R600PFD7SATMA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (SOT-223-4) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- UWAGA: Id 6A < 6.5A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (8.5nC vs 2.2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-223-4 | 650V | 6A | 1219mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8.5nC | 3.544V | 150°C | PDF → |
BSP149 H6906Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (SOT-223-4) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- rozny typ bramki: standard -> logic-level (Vgs(th) 4.2V vs 2V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (14nC vs 2.2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: wymiary
| N | SOT-223-4 | 200V | 200A | 3500mΩ Vgs=0V, temperatura nieznana | 14nC | 2V | 150°C | PDF → |