FQD12P10TMonsemi ↓ Twoj uklad | P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 9.4A | 290mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.6nC | 2V | 150°C | PDF → |
FQD12P10TM-F085onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 9.4A | 290mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.6nC | 2V | 150°C | PDF → |
WSF15P10Winsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 13A | 100mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 3V | 150°C | PDF → |
ST13P10STANSON Tech. Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (8.3nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 13A | 13mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8.3nC | 2V | 150°C | PDF → |
SE01P13KSINO-IC Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 13A | 110mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.9V | 150°C | PDF → |
WSF50P10Winsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 34A | 100mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 2V | 150°C | PDF → |
G2K8P15KGOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 150V | 12A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 2.2V | — | PDF → |
YJD18GP10AYangzhou Yangjie Elec Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 18A | 75mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.8V | 150°C | PDF → |
STD10P10F6STMicroelectronics Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (80nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 10A | 1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 80nC | 2V | 175°C | PDF → |
G12P10KGOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (33nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 12A | 200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 33nC | 3V | 150°C | PDF → |
ASDM100R750PKQ-RASDsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 20A | 75mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.8V | 150°C | PDF → |
G12P10KEGOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (50nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 12A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 50nC | 1.7V | — | PDF → |
RD3P130SPFRATLROHM Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 13A | 200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 2.5V | — | Szukaj PDF → |
RD3P130SPTL1ROHM Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 13A | 135mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 1V | 150°C | PDF → |
SUD50P08-25L-E3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (55nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 12.5A | 17mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 55nC | 1V | 175°C | PDF → |
IRFR5410TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (58nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 13A | 205mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 58nC | 4V | 150°C | PDF → |
VBE2104NVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 40A | 33mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9nC | 1V | 175°C | PDF → |
VBZE40P10VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.2nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 40A | 33mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.2nC | 1V | 175°C | PDF → |
CEU30P10-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 40A | 33mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1V | 175°C | PDF → |
E40P100KCExistar Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 40A | 31mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.8V | 150°C | PDF → |
SUD50P10-43L-E3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 40A | 33mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1V | 175°C | PDF → |
G1K6P15KGOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 150V | 24A | 24mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 2.5V | — | PDF → |
SFT1345-TL-Honsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 44A | 210mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 1.2V | 150°C | PDF → |
SPD15P10PLGBTMA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (62nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 15A | 200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 62nC | 1.5V | 175°C | PDF → |
IRFR6215TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (66nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 150V | 13A | 295mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 66nC | 4V | 175°C | PDF → |
IXTY18P10TLittelfuse/IXYS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (39nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 18A | 120mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 39nC | 2.5V | 150°C | PDF → |
IXTY18P10T-TRLLittelfuse/IXYS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (39nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 18A | 120mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 39nC | 2.5V | 150°C | PDF → |
HSU0115HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (44.5nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 18A | 78mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 44.5nC | 1.7V | 150°C | PDF → |
AP18P10GH-HF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 2V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (34.8nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 20A | 3600mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 34.8nC | — | 150°C | PDF → |
VBE2101MVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (34.8nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 20A | 3600mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 34.8nC | 1V | 150°C | PDF → |
17P10L-TN3-RUTC(Unisonic Tech) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (140nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 17A | 180mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 140nC | 2V | — | PDF → |
G20P10KEGOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (70nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 20A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 70nC | 1.5V | 150°C | PDF → |
IXTY15P15TLittelfuse/IXYS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (48nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 150V | 15A | 240mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 48nC | 2V | 150°C | PDF → |
NVATS68301PZT4Gonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (28nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 31A | 57mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 28nC | 2V | 175°C | PDF → |
GT750P10KGOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (50nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 24A | 24mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 50nC | 1.9V | — | PDF → |
WSF45P10Winsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (20nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 46A | 44mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 2V | 175°C | PDF → |
IXTY26P10T-TRLLittelfuse/IXYS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (52nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 26A | 90mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 52nC | 2.5V | 150°C | PDF → |
KPD7910AKIA Semicon Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (60nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 28A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 60nC | 2.5V | 150°C | PDF → |
GL30P10A4GL Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (50nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 30A | 252mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 50nC | 1V | 150°C | PDF → |
MDT35P10DMinos Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 35A | 26mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 2V | — | PDF → |
HSU0139HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (92nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 30A | 42mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 92nC | 1.8V | 150°C | PDF → |
SQD40P10-40L_GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (50nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 38A | 40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 50nC | 2V | 175°C | PDF → |
SK30P10Shikues Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (136nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 30A | 50mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 136nC | 1.8V | 155°C | PDF → |
CMD5950-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (147nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 30A | 57.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 147nC | 1.8V | 175°C | PDF → |
HCJU30P10HXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (147nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 30A | 57.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 147nC | 1.8V | 175°C | PDF → |
SK35P10Shikues Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (90nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 35A | 100mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 90nC | 1.8V | 150°C | PDF → |
DMP10H400SK3-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 9A < 9.4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (8.4nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 9A | 190mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8.4nC | 1V | 150°C | PDF → |
AP15P10GH-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 8.8A < 9.4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11.7nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 8.8A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11.7nC | 2.5V | 150°C | PDF → |
IRFR9120NTRPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 8.8A < 9.4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11.7nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 8.8A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11.7nC | 1V | 150°C | PDF → |
MTD6P10ET4-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 8.8A < 9.4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11.7nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 8.8A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11.7nC | 1V | 150°C | PDF → |
ZXMP10A18K-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 8.8A < 9.4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11.7nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 8.8A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11.7nC | 1V | 150°C | PDF → |
SUD09P10-195-GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 8.8A < 9.4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (17.6nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 8.8A | 3600mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 17.6nC | 1V | 150°C | PDF → |
SUD50P10-43L-BE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2V vs 5.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 9.2A < 9.4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (37nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 9.2A | 43mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 37nC | 5.9V | 150°C | PDF → |
SUD50P10-43L-E3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2V vs 5.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 9.2A < 9.4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (37nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 9.2A | 43mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 37nC | 5.9V | 175°C | PDF → |
SUD50P10-43L-GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2V vs 5.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 9.2A < 9.4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (37nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 9.2A | 43mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 37nC | 5.9V | 175°C | PDF → |
TDM31035Techcode Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 8A < 9.4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (20.9nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 8A | 13mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20.9nC | 1V | 150°C | PDF → |
FQD12P10-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 8.8A < 9.4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (34.8nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 8.8A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 34.8nC | 1V | 150°C | PDF → |
IRFR5410TRPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 2V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- UWAGA: Id 8.8A < 9.4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (34.8nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 8.8A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 34.8nC | — | 150°C | PDF → |
SSD12P10-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 8.8A < 9.4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (34.8nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 8.8A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 34.8nC | 1V | 150°C | PDF → |
SUD09P10-195-GE3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 2V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- UWAGA: Id 8.8A < 9.4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (34.8nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 8.8A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 34.8nC | — | 150°C | PDF → |
VBE2102MVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 8.8A < 9.4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (34.8nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 8.8A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 34.8nC | 2.5V | 150°C | PDF → |
MCU18P10Y-TPMCC(Micro Commercial Components) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Vds 94V < 100V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (20nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 94V | 18A | 110mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 1.8V | 150°C | PDF → |
GT700P08KGOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Vds 80V < 100V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 80V | 20A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 3V | — | PDF → |
G20P08KGOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Vds 80V < 100V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (48nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 80V | 20A | 58mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 48nC | 1.7V | 150°C | PDF → |
E100P045CL1Existar Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (98nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 40A | 3845mΩ Vgs=10V, temperatura nieznana | 98nC | 1.6V | 150°C | PDF → |
SQD50P08-28_GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Vds 80V < 100V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 80V | 48A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 3V | 175°C | PDF → |
SQD50P08-28-T4_GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Vds 80V < 100V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 80V | 48A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 3V | 175°C | PDF → |
SQD50P08-25L_GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Vds 80V < 100V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 80V | 50A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 2V | 175°C | PDF → |
STD40P8F6AGSTMicroelectronics Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Vds 80V < 100V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (73nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 80V | 40A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 73nC | 2V | 175°C | PDF → |
SUD50P08-25L-E3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2V vs 5.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Vds 80V < 100V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (50nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 80V | 50A | 21mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 50nC | 5.5V | 175°C | PDF → |
HSU8119HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Vds 80V < 100V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (190nC vs 4.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 80V | 70A | 13.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 190nC | 1.8V | 150°C | PDF → |