HSS6107HUASHUO ↓ Twoj uklad | P | SOT-23-3 2.9×1.6mm | 60V | 1.7A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1V | 150°C | PDF → |
DMPH6250SQ-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23-3 2.9×1.6mm | 60V | 2.4A | 112mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 1.9V | 175°C | PDF → |
HSS2P10HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23-3 2.9×1.6mm | 100V | 2A | 255mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
WST03P06Winsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23-3 2.9×1.6mm | 60V | 3.5A | 110mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.3nC | 1.5V | 150°C | PDF → |
HSS2P15HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23-3 2.9×1.6mm | 150V | 2A | 780mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 3V | 150°C | PDF → |
SQ2361AEES-T1_GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23-3 2.9×1.6mm | 60V | 2.8A | 170mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 1.5V | 175°C | PDF → |
HSS4P06HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (20nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23-3 2.9×1.6mm | 60V | 4A | 75mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 1.5V | 150°C | PDF → |
NCE60P04YWuxi NCE Power Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (25nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23-3 2.9×1.6mm | 60V | 4A | 135mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 25nC | 2.2V | 150°C | PDF → |
AO3485CAlpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (17nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23-3 2.9×1.6mm | 80V | 4.5A | 40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 17nC | 0.55V | 150°C | PDF → |
AOSS21311CAlpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (23nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23-3 2.9×1.6mm | 80V | 4.3A | 45mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 23nC | 1.7V | 150°C | PDF → |
NDS0610-Gonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- UWAGA: Vds 48V < 60V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- Brak danych: Id
- Brak danych: Rds(on)
| P | SOT-23-3 2.9×1.6mm | 48V | — | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1.82nC | 1.7V | 150°C | PDF → |
SL2309Slkor(SLKORMICRO Elec.) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 1.6A < 1.7A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11.3nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23-3 2.9×1.6mm | 60V | 1.6A | 160mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11.3nC | 2V | 150°C | PDF → |