HSU60P02HUASHUO ↓ Twoj uklad | P | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 60A | 6.6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 0.65V | 150°C | PDF → |
HYG065P03LQ1DHUAYI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 70A | 5.9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.5V | 175°C | PDF → |
WSF70P02Winsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 70A | 6.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 0.6V | 150°C | PDF → |
HSU60P03HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 60A | 7.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1V | 150°C | PDF → |
AP6679BGHAPEC(Advanced Power Elec) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 63A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1V | 150°C | PDF → |
IPD068P03L3GInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 70A | 6.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.7nC | 1.5V | 175°C | PDF → |
IPD068P03L3GATMA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 70A | 6.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.7nC | 1.5V | 175°C | PDF → |
PD537BANIKO Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 71A | 6.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.6V | 150°C | PDF → |
WSF90P03Winsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 85A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.6V | 150°C | PDF → |
HSU70P06HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 70A | 7.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.6V | 150°C | PDF → |
HXY70P03DHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 70A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.2V | 175°C | PDF → |
IPD80P03P4L-07-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 70A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.2V | 175°C | PDF → |
SQD50P03-07-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 70A | 2000mΩ Vgs=0V, 25°C | 10nC | 1.2V | 175°C | PDF → |
SUD45P03-09-GE3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 70A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.2V | 175°C | PDF → |
AGM60P90DAGM-Semi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 90A | 8.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 2V | 175°C | PDF → |
ASDM30P100KQ-RASDsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 100A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 1.5V | 175°C | PDF → |
HSU3031HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 70A | 6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.2V | 175°C | PDF → |
G80P03KGOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 4.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.4V | — | PDF → |
IPD90P03P4L-04-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 100A | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1V | 175°C | PDF → |
DI068P04D1-AQDiotec Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 0.65V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 68A | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | — | Szukaj PDF → |
SQD50P03-07_GE3SQD50P03-07_GE3 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 70A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 2V | 175°C | PDF → |
TJ90S04M3L,LXHQTOSHIBA Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (18nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 90A | 6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 18nC | 2V | — | PDF → |
IPD70P04P4L-08Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 70A | 7.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.7V | 175°C | PDF → |
P1203ED-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (75nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 60A | 13mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 75nC | 1V | 175°C | PDF → |
VBE2311VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (75nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 60A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 75nC | 1V | 175°C | PDF → |
VBZE80P03VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (75nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 65A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 75nC | 1V | 175°C | PDF → |
IPD70P04P4-09Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 73A | 6.48mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 2.03V | 175°C | PDF → |
AP80P04KALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 0.65V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 80A | 5.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | — | PDF → |
HSU100P03HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 100A | 4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1V | 175°C | PDF → |
IPD85P04P4-07Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 85A | 7.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 3V | — | PDF → |
TTD90P03ATWUXI UNIGROUP MICRO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 90A | 6.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 1.7V | 175°C | PDF → |
ME50P06-GMATSUKI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 61A | 14mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1V | 150°C | PDF → |
AP70P03KALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 0.65V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (35nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 70A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 35nC | — | 150°C | PDF → |
NVATS4A103PZT4Gonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (55nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 60A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 55nC | 1.2V | 175°C | PDF → |
DMP3010LK3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 0.65V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (45nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 5.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 45nC | — | 150°C | PDF → |
IPD068P03L3G-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (45nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 5.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 45nC | 2.5V | 150°C | PDF → |
AGM30P85DAGM-Semi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 82A | 4.9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 1.6V | 150°C | PDF → |
ME85P03-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (75nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 75nC | 1V | 175°C | PDF → |
IPD80P03P4L07ATMA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (80nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 6.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 80nC | 1.5V | 175°C | PDF → |
ME85P03MATSUKI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (88nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 6.7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 88nC | 1V | 150°C | PDF → |
VBZE100P03VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (75nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 110A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 75nC | 1V | 175°C | PDF → |
G70P04KGOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (42nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 70A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 42nC | 1.4V | 150°C | PDF → |
IPD90P03P4L04ATMA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (160nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 90A | 5.16mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 160nC | 1.5V | 175°C | PDF → |
HSU4119HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 120A | 3.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1V | 150°C | PDF → |
IPD042P03L3G-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (20nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 120A | 3.74mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 1.7V | 175°C | PDF → |
IPD90P03P4L-04-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (20nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 120A | 3.74mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 1.7V | 175°C | PDF → |
G65P06KGOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (30nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 65A | 65mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 2.5V | 175°C | PDF → |
IPD70P04P4L08ATMA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (92nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 70A | 7.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 92nC | 1.7V | 175°C | PDF → |
IPD70P04P4L08ATMA2Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (92nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 70A | 7.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 92nC | 1.7V | 175°C | PDF → |
NCE40P70KWuxi NCE Power Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (106nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 70A | 7.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 106nC | 1.9V | 150°C | PDF → |
RD3G07BATTL1ROHM Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (105nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 70A | 7.1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 105nC | 2.5V | — | Szukaj PDF → |
IPD70P04P409ATMA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (70nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 73A | 6.48mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 70nC | 2.03V | 175°C | PDF → |
IPD70P04P409ATMA2Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (70nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 73A | 6.48mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 70nC | 2.03V | 175°C | PDF → |
VBE2305VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (75nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 100A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 75nC | 1V | 175°C | PDF → |
NVATS5A114PLZT4Gonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (55nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 60A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 55nC | 1.2V | 175°C | PDF → |
FDD9507L-F085onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (80nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 80A | 4.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 80nC | 2V | 175°C | PDF → |
HSU6117HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (85nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 60A | 14mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 85nC | 1V | 150°C | PDF → |
IPD85P04P407ATMA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (89nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 85A | 7.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 89nC | 3V | 175°C | PDF → |
IPD85P04P407ATMA2Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (89nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 85A | 7.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 89nC | 3V | 175°C | PDF → |
RD3L07BATTL1ROHM Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (105nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 70A | 12.7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 105nC | 2.5V | — | Szukaj PDF → |
IPD90P04P405Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (154nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 90A | 4.7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 154nC | 3V | 175°C | PDF → |
IPD90P04P405ATMA2Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (154nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 90A | 4.7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 154nC | 3V | 175°C | PDF → |
SQD90P04-9M4L_GE3VISHAY Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (155nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 90A | 9.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 155nC | 2.5V | 175°C | PDF → |
HXY50P02DHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 50A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 0.7V | 150°C | PDF → |
WSF70P03Winsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- UWAGA: Id 57A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 57A | 7.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.6V | 150°C | PDF → |
FDD6685-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 1V | 150°C | PDF → |
HSU4115HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 52A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 52A | 10.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.6V | 150°C | PDF → |
VBE2509VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 50V | 50A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1nC | 1V | 175°C | PDF → |
HYG120P06LR1DHUAYI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 55A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 55A | 12.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.8V | 125°C | PDF → |
SQD50P03-07-T4_GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 2V | 175°C | PDF → |
APM4050PUC-TRL-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | 175°C | PDF → |
HM40P04K-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | — | PDF → |
IPD50P04P4-13Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12.6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 3V | 175°C | PDF → |
IPD50P04P4L11UMW Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 10.6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.7V | — | PDF → |
ME12P04-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | — | PDF → |
NP20P04SLG-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | — | PDF → |
P1504EDG-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | — | PDF → |
P2504EDG-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | — | PDF → |
STP413D-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | — | PDF → |
SUD50P04-13L-E3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | — | PDF → |
50P03-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 0.65V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (75nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 50A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 75nC | — | 175°C | PDF → |
SUD50P04-08-BE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 10.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1V | 175°C | PDF → |
AP6679GH-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 58A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (75nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 58A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 75nC | 1V | 175°C | PDF → |
FDD6637-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 58A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (75nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 58A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 75nC | 1V | 175°C | PDF → |
SQD45P03-12_GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (45nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 100mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 45nC | 2V | 175°C | PDF → |
SQD45P03-12-T4_GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (45nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 100mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 45nC | 2V | 175°C | PDF → |
IPD50P03P4L11ATMA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (55nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 10.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 55nC | 1.5V | 175°C | PDF → |
IPD50P03P4L11ATMA2Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (55nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 10.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 55nC | 1.5V | 175°C | PDF → |
SPD50P03LGBTMA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (126nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 8.512mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 126nC | 1.5V | 175°C | PDF → |
DMPH4013SK3-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 55A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (31nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 55A | 40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 31nC | 1V | 175°C | PDF → |
DMPH4013SK3Q-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 55A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (31nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 55A | 40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 31nC | 1V | 175°C | PDF → |
NVATS5A107PLZT4Gonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 55A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (50nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 55A | 13mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 50nC | 1.2V | 175°C | PDF → |
SQD50P04-09L_T4GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (50nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 100mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 50nC | 1.5V | 175°C | PDF → |
SUD50P04-09L-E3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (50nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 7.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 50nC | 1V | 175°C | PDF → |
VBZE50P04VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 55A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (240nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 55A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 240nC | 1.5V | — | PDF → |
HM70P04K-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (60nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 60nC | 1V | 175°C | PDF → |
IPD50P04P4L11ATMA2Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (59nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 10.6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 59nC | 2.2V | 175°C | PDF → |
MDD3752RH-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (60nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 60nC | 1V | 175°C | PDF → |
ME45P04-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (60nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 60nC | 1V | 175°C | PDF → |
P5504EDG-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (60nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 60nC | 1V | 175°C | PDF → |
STD45P4LLF6AGSTD45P4LLF6AG Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (65.5nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 65.5nC | 1V | 175°C | PDF → |
APM4015PUC-TRL-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (80nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 80nC | 1V | 175°C | PDF → |
FDD4141-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (80nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 80nC | 1V | 175°C | PDF → |
FDD4243-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (80nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 80nC | 1V | 175°C | PDF → |
FDD4685-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (80nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 80nC | 1V | 175°C | PDF → |
RU40L10L-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (80nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 80nC | 1V | 175°C | PDF → |
SM4027PSU-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (80nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 80nC | 1V | 175°C | PDF → |
SUD50P04-09L-E3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (80nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 80nC | 1V | 175°C | PDF → |
SUD50P04-13L-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (80nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 80nC | 1V | 175°C | PDF → |
VBE2412VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (80nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 80nC | 1V | — | PDF → |
SQD50P04-13L_GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (90nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 13mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 90nC | 1.5V | 175°C | PDF → |
SQD50P04-13L_T4GE3SQD50P04-13L_T4GE3 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (90nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 13mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 90nC | 1.5V | 175°C | PDF → |
NP50P04SDG-E1-AYRENESAS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (100nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 9.6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 100nC | 1.6V | — | PDF → |
SQD40131EL_GE3SQD40131EL_GE3 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (115nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 11.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 115nC | 2.5V | 175°C | Szukaj PDF → |
SUD50P04-08-GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (159nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 159nC | 1V | 150°C | PDF → |
NCE60P55KWuxi NCE Power Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.6V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 55A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (49.8nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 55A | 23mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 49.8nC | 2.6V | 175°C | PDF → |
SQD40081EL_GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (210nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 8.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 210nC | 2V | 175°C | PDF → |
SQD50P06-15L_GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (30nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 50A | 15.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 1.5V | 175°C | PDF → |
SQD50P06-15L_T4GE3SQD50P06-15L_T4GE3 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (30nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 50A | 15.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 1.5V | 175°C | PDF → |
SQD50P06-15L-GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (30nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 50A | 15.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 1.5V | 175°C | PDF → |
BRD50P06Foshan Blue Rocket Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (32nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 50A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 32nC | 1V | 150°C | PDF → |
IXTY48P05TLittelfuse/IXYS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 48A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (53nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 50V | 48A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 53nC | 2V | 150°C | PDF → |
IXTY48P05T-TRLLittelfuse/IXYS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 48A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (53nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 50V | 48A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 53nC | 2V | 150°C | PDF → |
50P06-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 0.65V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 50A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | — | 175°C | PDF → |
HM50P06K-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 0.65V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 50A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | — | 175°C | PDF → |
RJJ0606JPD-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 0.65V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 50A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | — | 175°C | PDF → |
SQD50P06-15L-GE3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 0.65V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 50A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | — | 175°C | PDF → |
SUD50P06-15-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 50A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 1.5V | 175°C | PDF → |
SUD50P06-15L-GE3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 50A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 1.5V | 175°C | PDF → |
VBZE50P06VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 50A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 1.5V | 175°C | PDF → |
IPD90P04P4L04ATMA2Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (176nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 90A | 4.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 176nC | 1.7V | 175°C | PDF → |
NCE60P50K(TOKMAS)Tokmas Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (53nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 50A | 24mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 53nC | 1.8V | 175°C | PDF → |
NVATS5A302PLZT4Gonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (70nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 80A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 70nC | 1.2V | 175°C | PDF → |
HSU8119HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (190nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 80V | 70A | 13.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 190nC | 1.8V | 150°C | PDF → |
SQD50P08-25L_GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 80V | 50A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 2V | 175°C | PDF → |
SUD50P06-15-BE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (165nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 50A | 15mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 165nC | 1V | 175°C | PDF → |
SUD50P08-25L-E3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 5.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 50A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (50nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 80V | 50A | 21mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 50nC | 5.5V | 175°C | PDF → |
SQD50P08-28_GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 48A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 80V | 48A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 3V | 175°C | PDF → |
SQD50P08-28-T4_GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 48A < 60A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 80V | 48A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 3V | 175°C | PDF → |
HSU100P04HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (115nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 100A | 4.6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 115nC | 1.8V | 150°C | PDF → |
SQD40061EL_GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (280nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 100A | 2000mΩ Vgs=10V, 125°C | 280nC | 2V | 175°C | PDF → |
SQD90P04_9M4LT4GE3SQD90P04_9M4LT4GE3 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (50nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Id
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | — | 9.4mΩ Vgs=0V, 125°C | 50nC | 1.5V | — | PDF → |
SQD40061EL-T4_GE3SQD40061EL-T4_GE3 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (280nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Id
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | — | 2000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 280nC | 2V | — | PDF → |