Zamienniki dla JSM6435

JSM6435 (JSMSEMI)auto

Typ ukladu: MOSFET P-channel
Obudowa: DFN-5x6
Wymiary: 5 × 6 × 1 mm

Brakuje danych: pinout, Vgs pomiaru Rds(on) — sprawdz datasheet przed dobieraniem zamiennika.

Pelne szczegoly ukladu (parametry, pinout) →

Kandydaci do weryfikacji (42)

Pierwszy wiersz = Twoj uklad. Kolejne pozycje nie spelniaja kompletu regul dla pewnego zamiennika, wiec pokazujemy je tylko jako kandydatow do recznej weryfikacji.

MPN	Polar.	Obudowa	Vds	Id	Rds(on)	Qg	Vgs(th)	Tj max	Datasheet
`JSM6435` JSMSEMI ↓ Twoj uklad	P	DFN-5x6 5×6mm	30V	34A	25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	13.5nC	2.3V	100°C	PDF →
`PK501BA` NIKO Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	P	DFN-5x6 5×6mm	30V	43A	8.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	2nC	1.5V	150°C	PDF →
`G40P03D5` GOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	P	DFN-5x6 5×6mm	30V	35A	35mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	15nC	1.4V	—	PDF →
`NVMFWS025P04M8LT1G` onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	P	DFN-5x6 5×6mm	40V	34.6A	23mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	7.56nC	1V	100°C	PDF →
`CJAC50P03` Jiangsu Changjing Electronics Technology Co., Ltd. Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	P	DFN-5x6 5×6mm	30V	50A	7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	11.7nC	1.5V	150°C	PDF →
`HXY50P03NF` HXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	P	DFN-5x6 5×6mm	30V	50A	11.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	1.5V	—	PDF →
`FKBA3115` FETek Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	P	DFN-5x6 5×6mm	30V	59A	30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	4.5nC	1V	150°C	PDF →
`NVMFS014P04M8LT1G` onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	P	DFN-5x6 5×6mm	40V	52.1A	13.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	4.5nC	1V	100°C	PDF →
`NVMFWS014P04M8LT1G` onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	P	DFN-5x6 5×6mm	40V	52.1A	13.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	4.5nC	1V	100°C	PDF →
`G35P04D5` GOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2.3V vs 7V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	P	DFN-5x6 5×6mm	40V	35A	35mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	20nC	7V	—	PDF →
`WSD40L60DN56` Winsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	P	DFN-5x6 5×6mm	40V	60A	10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	4.5nC	1.7V	150°C	PDF →
`WSD30L90DN56` Winsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	P	DFN-5x6 5×6mm	30V	90A	5.26mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	4.5nC	1.8V	150°C	PDF →
`TPM0730N5X` Shenzhen JingYang Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	P	DFN-5x6 5×6mm	30V	70A	7.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	15nC	1.2V	—	PDF →
`HXY100P03NF` HXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2.3V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	P	DFN-5x6 5×6mm	30V	100A	4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	3V	150°C	PDF →
`BSC030P03NS3G-HXY` HXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2.3V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	P	DFN-5x6 5×6mm	30V	110A	4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	3V	150°C	PDF →
`WSD30L120DN56` Winsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	P	DFN-5x6 5×6mm	30V	120A	2.93mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	4.5nC	1.5V	150°C	PDF →
`AP40P04G` ALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem oryginal to logic-level (Vgs(th) 2.3V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje) rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on) Brak danych: Vgs(th)	P	DFN-5x6 5×6mm	40V	40A	7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	—	—	PDF →
`WSD60P06DN56` Winsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	P	DFN-5x6 5×6mm	60V	60A	60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	11nC	1.85V	150°C	PDF →
`G80P03D5` GOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	P	DFN-5x6 5×6mm	30V	55A	5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	1.5V	—	PDF →
`S40P06F` HL Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (22nC vs 13.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: pinout	P	DFN-5x6 5×6mm	60V	40A	1924mΩ Vgs=0V, temperatura nieznana	22nC	1.3V	150°C	PDF →
`AGM60P40A` AGM-Semi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (25nC vs 13.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	P	DFN-5x6 5×6mm	60V	40A	23mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	25nC	1.6V	150°C	PDF →
`WSD90P06DN56` Winsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	P	DFN-5x6 5×6mm	60V	90A	60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	12nC	1.8V	150°C	PDF →
`BSC080P03LSG-HXY` HXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem oryginal to logic-level (Vgs(th) 2.3V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje) rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on) Brak danych: Vgs(th)	P	DFN-5x6 5×6mm	30V	70A	2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	—	150°C	PDF →
`VBQA2309` VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2.3V vs 6V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (60nC vs 13.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	P	DFN-5x6 5×6mm	30V	47.3A	8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	60nC	6V	150°C	PDF →
`G300P06D5` GOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (30nC vs 13.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	P	DFN-5x6 5×6mm	60V	40A	40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	30nC	2.4V	—	PDF →
`NTMFS005P03P8ZST1G` onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (22nC vs 13.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	P	DFN-5x6 5×6mm	30V	164A	2.7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	22nC	1V	150°C	PDF →
`SM4307PSKPC-TRG-VB` VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2.3V vs 6V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (60nC vs 13.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	P	DFN-5x6 5×6mm	30V	60A	8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	60nC	6V	150°C	PDF →
`TDM3405` Techcode Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (59nC vs 13.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	P	DFN-5x6 5×6mm	40V	55A	55mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	59nC	2V	150°C	PDF →
`MOT3337G` MOT Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (118.7nC vs 13.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	P	DFN-5x6 5×6mm	30V	60A	3.03mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	118.7nC	1.6V	150°C	PDF →
`AP90P03G` ALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (60nC vs 13.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	P	DFN-5x6 5×6mm	30V	90A	7.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	60nC	1V	150°C	PDF →
`IRFH9310TRPBF-HXY` HXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (146nC vs 13.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	P	DFN-5x6 5×6mm	30V	90A	3.54mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	146nC	1.6V	150°C	PDF →
`VBQA2305` VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2.3V vs 6.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (120nC vs 13.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	P	DFN-5x6 5×6mm	30V	100A	4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	120nC	6.5V	150°C	PDF →
`VBZQA50P03` VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2.3V vs 6.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (120nC vs 13.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	P	DFN-5x6 5×6mm	30V	100A	4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	120nC	6.5V	150°C	PDF →
`E030P4P0HL1` Existar Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (130nC vs 13.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	P	DFN-5x6 5×6mm	30V	99A	4.96mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	130nC	1.7V	100°C	PDF →
`BSC030P03NS3G` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (186nC vs 13.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	P	DFN-5x6 5×6mm	30V	100A	3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	186nC	1.9V	150°C	PDF →
`HM50P03D-VB` VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2.3V vs 6.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (120nC vs 13.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	P	DFN-5x6 5×6mm	30V	120A	4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	120nC	6.5V	150°C	PDF →
`AP85P04G` ALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (118nC vs 13.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	P	DFN-5x6 5×6mm	40V	85A	4.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	118nC	1.7V	150°C	PDF →
`AGM30P110A` AGM-Semi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2.3V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (150nC vs 13.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	P	DFN-5x6 5×6mm	30V	138A	4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	150nC	4V	150°C	PDF →
`WSD40P10DN56` Winsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem UWAGA: Id 30A < 34A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	P	DFN-5x6 5×6mm	100V	30A	100mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	9nC	1.7V	150°C	PDF →
`NCE30P30G` Wuxi NCE Power Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2.3V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs UWAGA: Id 30A < 34A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (81.3nC vs 13.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	P	DFN-5x6 5×6mm	30V	30A	11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	81.3nC	5V	150°C	PDF →
`TPCA8103-VB` VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2.3V vs 6.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs UWAGA: Id 30A < 34A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (120nC vs 13.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: pinout	P	DFN-5x6 5×6mm	30V	30A	4000mΩ Vgs=0V, 55°C	120nC	6.5V	150°C	PDF →
`AGM40P100A` AGM-Semi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (106nC vs 13.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: pinout Brak danych: Id Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	P	DFN-5x6 5×6mm	40V	—	5000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	106nC	1.2V	175°C	PDF →
`WSD45P10DN56` Winsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem UWAGA: Id 27.5A < 34A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (75nC vs 13.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	P	DFN-5x6 5×6mm	100V	27.5A	62mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	75nC	1V	150°C	PDF →

Niezgodne lub nieobsługiwane propozycje ze źródeł (4)

AON6413-HXY: polarity-mismatch (P vs N)
AONS21321-HXY: polarity-mismatch (P vs N)
AONS21357-HXY: polarity-mismatch (P vs N)
ESN6435: id-too-low