Zamienniki dla NDT3055L

NDT3055L (onsemi)

Typ ukladu: MOSFET N-channel
Obudowa: SOT-223-4
Wymiary: —

Brakuje danych: wymiary, Vgs pomiaru Rds(on) — sprawdz datasheet przed dobieraniem zamiennika.

Pelne szczegoly ukladu (parametry, pinout) →

Kandydaci do weryfikacji (18)

Pierwszy wiersz = Twoj uklad. Kolejne pozycje nie spelniaja kompletu regul dla pewnego zamiennika, wiec pokazujemy je tylko jako kandydatow do recznej weryfikacji.

MPN	Polar.	Obudowa	Vds	Id	Rds(on)	Qg	Vgs(th)	Tj max	Datasheet
`NDT3055L` onsemi ↓ Twoj uklad	N	SOT-223-4	20V	4A	100mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	1.7nC	2V	150°C	PDF →
`FDT459N` onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (SOT-223-4) — form-fit w obrebie rodziny obudowy rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2V vs 4.2V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	SOT-223-4	30V	6.5A	35mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	2.2nC	4.2V	150°C	PDF →
`HUF76113T3ST` onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (SOT-223-4) — form-fit w obrebie rodziny obudowy rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (17.02nC vs 1.7nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	SOT-223-4	20V	4.7A	31mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	17.02nC	5V	150°C	PDF →
`BUK98180-100A/CU115` Nexperia USA Inc. Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (SOT-223-4) — form-fit w obrebie rodziny obudowy rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	SOT-223-4	100V	4.6A	173mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	2V	150°C	PDF →
`BSP135 H6906` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (SOT-223-4) — form-fit w obrebie rodziny obudowy rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Rds(on)	N	SOT-223-4	20V	200A	— Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	1.4V	150°C	PDF →
`NDT3055` NDT3055 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (9) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (SOT-223-4) — form-fit w obrebie rodziny obudowy pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SOT-223-4) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (15nC vs 1.7nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: wymiary Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	SOT-223-4	60V	4A	100mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	15nC	4V	150°C	Szukaj PDF →
`BSP135 H6327` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (SOT-223-4) — form-fit w obrebie rodziny obudowy rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (4.9nC vs 1.7nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: wymiary Brak danych: Rds(on)	N	SOT-223-4	20V	200A	— Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	4.9nC	2.1V	150°C	PDF →
`BSP135L6433` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (SOT-223-4) — form-fit w obrebie rodziny obudowy rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (4.9nC vs 1.7nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: wymiary Brak danych: Rds(on)	N	SOT-223-4	20V	200A	— Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	4.9nC	1V	150°C	PDF →
`BSP135L6906` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (SOT-223-4) — form-fit w obrebie rodziny obudowy rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (4.9nC vs 1.7nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: wymiary Brak danych: Rds(on)	N	SOT-223-4	20V	200A	— Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	4.9nC	1V	150°C	PDF →
`BSP129 H6906` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (SOT-223-4) — form-fit w obrebie rodziny obudowy rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (5.7nC vs 1.7nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: wymiary Brak danych: Rds(on)	N	SOT-223-4	20V	200A	— Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	5.7nC	1.4V	150°C	PDF →
`NDT451AN` NDT451AN Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (9) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (SOT-223-4) — form-fit w obrebie rodziny obudowy pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SOT-223-4) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (30nC vs 1.7nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: wymiary Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	SOT-223-4	30V	7.2A	35mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	30nC	3V	150°C	Szukaj PDF →
`MCT04N15-TP` MCC(Micro Commercial Components) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (SOT-223-4) — form-fit w obrebie rodziny obudowy rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (19nC vs 1.7nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: wymiary Brak danych: Rds(on)	N	SOT-223-4	94V	4A	— Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	19nC	1.522V	150°C	PDF →
`FL014N-VB` VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (9) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (SOT-223-4) — form-fit w obrebie rodziny obudowy rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs kandydat nie ma potwierdzonego Vds w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (33nC vs 1.7nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: wymiary Brak danych: Vds Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	SOT-223-4	—	4.5A	4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	33nC	4V	150°C	PDF →
`AOH3254` Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (SOT-223-4) — form-fit w obrebie rodziny obudowy rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (20nC vs 1.7nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	SOT-223-4	150V	5A	63mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	20nC	1.72V	150°C	PDF →
`FQT7N10TF` FQT7N10TF Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (SOT-223-4) — form-fit w obrebie rodziny obudowy rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (5.87nC vs 1.7nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	SOT-223-4	100V	7A	100mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	5.87nC	2V	150°C	PDF →
`IPN60R600PFD7SATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (SOT-223-4) — form-fit w obrebie rodziny obudowy rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2V vs 3.544V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (8.5nC vs 1.7nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	SOT-223-4	650V	6A	1219mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	8.5nC	3.544V	150°C	PDF →
`FDT86106LZ` onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (SOT-223-4) — form-fit w obrebie rodziny obudowy UWAGA: Id 3.2A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (50nC vs 1.7nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	SOT-223-4	100V	3.2A	108mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	50nC	1.01V	150°C	PDF →
`IRLL024NTR-VB` VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (SOT-223-4) — form-fit w obrebie rodziny obudowy rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (27nC vs 1.7nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	SOT-223-4	60V	7A	28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	27nC	1V	175°C	PDF →
`BSP149 H6906` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (SOT-223-4) — form-fit w obrebie rodziny obudowy rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (14nC vs 1.7nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: wymiary	N	SOT-223-4	200V	200A	3500mΩ Vgs=0V, temperatura nieznana	14nC	2V	150°C	PDF →