PD636BANIKO Semicon ↓ Twoj uklad | N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 48A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.8V | 150°C | PDF → | — |
MDD50N03DMDD(Microdiode Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.02V | 150°C | PDF → | — |
SE30P50BSINO-IC Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
WSF3013Winsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 48A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1nC | 1.8V | 175°C | PDF → | — |
PD616BANIKO Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 55A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.7V | 150°C | PDF → | — |
AP9410GH-HFAPEC(Advanced Power Elec) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 75A | 6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 0.5V | — | PDF → | — |
SE3080KSINO-IC Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 4.56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.6V | 175°C | PDF → | — |
SE3090KSINO-IC Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 90A | 4.15mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 5V | 175°C | PDF → | — |
SE30100BSINO-IC Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 3.04V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 100A | 3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 3.04V | 175°C | PDF → | — |
AP72T03GH-HFAPEC(Advanced Power Elec) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 62A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 1V | — | PDF → | — |
PD632BANIKO Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 105A | 3.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.7V | 150°C | PDF → | — |
TSM090N03CP ROGTaiwan Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 55A | 7.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 1.6V | — | PDF → | — |
SE30150BSINO-IC Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 150A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 2V | 150°C | PDF → | — |
DMG4468LK3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | 175°C | PDF → | — |
DMN3016LK3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | 175°C | PDF → | — |
NTD4302-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 2000mΩ Vgs=10V, 25°C | 4.5nC | 1.2V | 175°C | PDF → | — |
PHD71NQ03LT-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 2000mΩ Vgs=10V, 25°C | 4.5nC | 1.2V | 175°C | PDF → | — |
STN484D-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 2000mΩ Vgs=10V, 25°C | 4.5nC | 1.2V | 175°C | PDF → | — |
IRLR7821TRPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 60A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | — | PDF → | — |
BRD70N03Foshan Blue Rocket Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 62.8A | 5.6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.2V | 150°C | PDF → | — |
AOD4185-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | — | PDF → | — |
FDD6680Sonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 3.3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.2nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 55A | 17mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.2nC | 3.3V | 150°C | PDF → | — |
AP83T03GHAPEC(Advanced Power Elec) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 75A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.5nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
FDD8453LZ-F085onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 5.06mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 3V | 175°C | PDF → | — |
15N03-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 7.5V | — | PDF → | — |
APM2054NUC-TRL-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 7.5V | — | PDF → | — |
K2046-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 7.5V | — | PDF → | — |
NTD20N03L27T4G-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 7.5V | — | PDF → | — |
NTD40N03RT4G-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 7.5V | — | PDF → | — |
NTD4815NT4G-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 7.5V | — | PDF → | — |
DC004NG-YDOINGTER Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 120A | 3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
DOD120N03DOINGTER Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 120A | 3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
2SK4080-ZK-E2-AY-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | — | PDF → | — |
60T03H-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | — | PDF → | — |
DC010NGDOINGTER Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.8nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 55A | 1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.8nC | 1.2V | 175°C | PDF → | — |
DOD50N03DOINGTER Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.8nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 55A | 1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.8nC | 1.2V | 175°C | PDF → | — |
AOD206-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | — | PDF → | — |
AOD452-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | — | PDF → | — |
AOD518-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | — | PDF → | — |
AOD558-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 6.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
AP70T03GH-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | — | PDF → | — |
AP80N03DA Power microelectronics Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 4.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
FDD8880-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | — | PDF → | — |
HXY80N03DHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 6.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
IPD30N03S2L-10-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | — | PDF → | — |
IRFR3708TRPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | — | PDF → | — |
IRFR3709ZTRPBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 6.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
IRLR3103TRPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | — | PDF → | — |
IRLR8726THXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 6.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
ISL9N306AD3ST-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | — | PDF → | — |
MTD3302-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | — | PDF → | — |
PHD55N03LT-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | — | PDF → | — |
SM3024NSUC-TRG-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | — | PDF → | — |
STD60NF3LLT4-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | — | PDF → | — |
SUD50N024-09P-E3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | — | PDF → | — |
SUD50N03-12P-E3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | — | PDF → | — |
SUD50N03A-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | — | PDF → | — |
ISL9N312AD3_NLonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (13nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
ISL9N312AD3STonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (13nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
ISL9N312AD3STNLonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (13nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
AP30H60KALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (13.3nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13.3nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
G86N03GOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 86A | 4.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.6V | — | PDF → | — |
HSU3004HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 55A | 7.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.6nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
HSU3006HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 4.7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
HSU80N03HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 4.9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.8V | 175°C | PDF → | — |
BUK624R5-30C,118BUK624R5-30C,118 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 1.8V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 90A | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | — | Szukaj PDF → | — |
HKTD90N03Guangdong Hottech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 90A | 1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | — | PDF → | — |
IPD075N03LGInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (18nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 7.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 18nC | 2.2V | 175°C | PDF → | — |
JSZ3095KFoshan Blue Rocket Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 1.8V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 95A | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | — | Szukaj PDF → | — |
SM4146T9RLSPS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (16nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 55A | 3.9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 16nC | 1.52V | 150°C | PDF → | — |
ME60N03MATSUKI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (22nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 48.5A | 6.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 22nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
ASDM3050KQ-RASDsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (23nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 11.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 23nC | 1.4V | 175°C | PDF → | — |
IPD060N03LGATMA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (TO-252) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (23nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 | 30V | 50A | 6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 23nC | 2.2V | 155°C | PDF → | — |
NCE3050KWuxi NCE Power Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (23nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 23nC | 1.6V | 175°C | PDF → | — |
AP0403GH-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 100A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.5V | — | PDF → | — |
AP85U03GH-HF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 100A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.5V | — | PDF → | — |
ASDM30N100KQ-RASDsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 100A | 3.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.6V | 175°C | PDF → | — |
B04N03-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 100A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.5V | — | PDF → | — |
BUK9213-30A-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 100A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.5V | — | PDF → | — |
CMD04N03-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 1.8V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 100A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | — | PDF → | — |
HY3003DHUAYI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 100A | 3.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 2.5V | — | PDF → | — |
IRFR3709ZT-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 100A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.5V | — | PDF → | — |
IRLR8103VTRPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 100A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.5V | — | PDF → | — |
QM3016D-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 100A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.5V | — | PDF → | — |
STD95N2LH5-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 100A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.5V | — | PDF → | — |
SUD70N03-04P-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 100A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.5V | — | PDF → | — |
FDD8453LZonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 5.86mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.01V | 150°C | PDF → | — |
IPD50N04S408ATMA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 7.27mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 2.03V | 175°C | PDF → | — |
IPD50N04S4L08ATMA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 7.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.21V | 175°C | PDF → | — |
AOD4144-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 60A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.6nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
AOD4144-MSMSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12.617nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 60A | 7.58mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.617nC | 1.21V | 175°C | PDF → | — |
BUK9214-30A-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 60A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.6nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
FDD6680AS-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 60A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.6nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
FDD8780-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 60A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.6nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
FDD8782-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 60A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.6nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
FDD8880-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 60A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.6nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
HXY60N03DHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 60A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.6nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
IPD30N03S2L-10-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 60A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.6nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
IRFR3707ZPBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 60A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.6nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
IRLR7821PBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 60A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.6nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
NTD4809N-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 60A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.6nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
NTD4813NH-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 60A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.6nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
SM418T9RL-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 60A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.6nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
SUD50N03-10-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 60A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.6nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
FDD8880onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 58A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 1.2V | 175°C | PDF → | Zobacz ofertę → |
YJD50N03AYangzhou Yangjie Elec Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (28nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 6.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 28nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
FDD6692onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (25nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 54A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 25nC | 3V | 175°C | PDF → | — |
HSU90N03HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 90A | 3.7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
ISL9N306AD3STonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (30nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 5.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
IPD050N03LGATMA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (31nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 31nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
MOT50N03DMOT Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (32.3nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 8.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 32.3nC | 2.5V | 150°C | PDF → | — |
SM3116NAUC-TRGSinopower Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 48A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 1.8V | 150°C | PDF → | — |
STN8882DSTANSON Tech. Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (41.3nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 35mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 41.3nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
IPD50N04S3-08Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 5.97mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12nC | 2.13V | 175°C | PDF → | — |
IPD50N04S3-09Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12nC | 2.13V | 175°C | PDF → | — |
HSU3016HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 96A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
IPD50N03S2-07Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (68nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 5.77mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 68nC | 2.13V | 175°C | PDF → | — |
IPD50N03S207ATMA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (68nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 5.77mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 68nC | 2.13V | 175°C | PDF → | — |
SPD50N03S2LInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (68nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 6.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 68nC | 2.134V | 175°C | PDF → | — |
10N03LA-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 70A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 7.5V | 175°C | PDF → | — |
AOD400-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 70A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 7.5V | 175°C | PDF → | — |
AOD408-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 70A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 7.5V | 175°C | PDF → | — |
AOD522-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 70A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 7.5V | 175°C | PDF → | — |
AP20T03GH-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 70A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 7.5V | — | PDF → | — |
FDD8778-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 70A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 7.5V | — | PDF → | — |
IPD20N03L-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 70A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 7.5V | 175°C | PDF → | — |
IRFR7807ZTRPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 70A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 7.5V | 175°C | PDF → | — |
NCE3030K-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 70A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 7.5V | — | PDF → | — |
NTD20N03L27-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 70A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 7.5V | 175°C | PDF → | — |
NTD40N03R-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 70A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 7.5V | 175°C | PDF → | — |
P1402CDG-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 70A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 7.5V | 175°C | PDF → | — |
P1603BD-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 70A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 7.5V | 175°C | PDF → | — |
STD17NF03LT4-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 70A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 7.5V | 175°C | PDF → | — |
AOD4132-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 100A | 3.85mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
AOD516-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 100A | 3.85mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
HXY100N03DHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 100A | 3.85mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
IPD050N03LG-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 100A | 3.85mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
IRLR8726PBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 100A | 3.85mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
PSMN4R3-30BL-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 100A | 3.85mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
SM4146T9RL-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 100A | 3.85mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
SM514T9RL-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 100A | 3.85mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
STN8882D-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 100A | 3.85mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
SM4184T9RLSPS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (14nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 6.7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 14nC | 1.322V | 150°C | PDF → | — |
IRLR3103TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (50nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 55A | 19mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 50nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
FDD6682onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 7V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 75A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 7V | 175°C | PDF → | — |
FDD6682_NLonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 7V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 75A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 7V | 175°C | PDF → | — |
IRFR3707PBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (19nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 61A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 19nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
G50N03KGOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 65A | 65mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
FDD6670Sonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (17nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 64A | 12.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 17nC | 2V | 150°C | PDF → | — |
HSU3018BHUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 110A | 2.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | 150°C | PDF → | — |
MS60N03MSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (28nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 60A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 28nC | 1.01V | 175°C | PDF → | — |
SKTD055N03LCRMICRO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (47nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 58A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 47nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
3060KShenzhen Fuman Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (35nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 60A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 35nC | 1.01V | 175°C | PDF → | — |
AOD403-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (75nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 58A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 75nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
AOD4186-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (22.9nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 18.9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 22.9nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
FDD8447L-F085-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (22.9nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 18.9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 22.9nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
SM4186T9RL-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (22.9nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 18.9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 22.9nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
IPD50N04S309ATMA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (26nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 26nC | 4V | 175°C | PDF → | — |
BUK9214-30A,118Nexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (31nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 63A | 15.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 31nC | 2.3V | 175°C | PDF → | — |
SP30N02AGTHSiliup Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 150A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.01V | — | PDF → | — |
FDD9410L-F085onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (29nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 5.06mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 29nC | 1.01V | 175°C | PDF → | — |
AOD210-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 160A | 2.24mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.22V | 150°C | PDF → | — |
AOD508-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 160A | 2.24mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.22V | 150°C | PDF → | — |
DMN3009SK3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 160A | 2.24mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.22V | 150°C | PDF → | — |
IPD90N03S4L-03-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 160A | 2.24mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.22V | 150°C | PDF → | — |
IRFR8314PBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 160A | 2.24mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.22V | 150°C | PDF → | — |
FDD6672Aonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (33nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 65A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 33nC | 1.2V | 150°C | PDF → | — |
NCE3065KWuxi NCE Power Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (32.3nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 65A | 7.7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 32.3nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
WSF3087Winsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (20nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 70A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
STD96N3LLH6STD96N3LLH6 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (8.2nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 4.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8.2nC | 2.5V | 175°C | PDF → | — |
ME90N03MATSUKI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 74A | 4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.2V | 150°C | PDF → | — |
MDT70N03Minos Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (23nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 70A | 6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 23nC | 1.01V | 175°C | PDF → | — |
AOD4189-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (60nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 60nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
MOT90N03DMOT Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 90A | 4.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
HSU150N03HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 150A | 2.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | 150°C | PDF → | — |
AP30H80KALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11.1nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 75A | 6.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11.1nC | 2.5V | 175°C | PDF → | — |
ASDM30N75KQ-RASDsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11.1nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 75A | 4.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11.1nC | 1.6V | 175°C | PDF → | — |
IPD70N03S4L-04Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 70A | 4.96mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 1.01V | 175°C | PDF → | — |
IPD70N03S4L04ATMA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (48nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 70A | 4.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 48nC | 2.2V | 175°C | PDF → | — |
PHD71NQ03LT,118Nexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 6V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (13.2nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 75A | 21.627mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13.2nC | 6V | 175°C | PDF → | — |
CJU80N03Jiangsu Changjing Electronics Technology Co., Ltd. Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (14nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 7.11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 14nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
G80N03KGOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 90mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 1.01V | 150°C | PDF → | — |
STD86N3LH5STMicroelectronics Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (16nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 3000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 16nC | 5V | 175°C | PDF → | — |
STD150N3LLH6STMicroelectronics Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (16.3nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 3000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 16.3nC | 2.5V | 175°C | PDF → | — |
FDD6606onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (24nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 75A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 24nC | 1.9V | 175°C | PDF → | — |
STD80N3LLSTMicroelectronics Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (18nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 18nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
DMN3009SK3-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (20nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 2.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
BUK9207-30B,118BUK9207-30B,118 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (31nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 75A | 4.45mΩ Vgs=10V, 25°C | 31nC | 2.3V | 185°C | PDF → | — |
FDD6670ASonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (29nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 76A | 10.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 29nC | 1.8V | 150°C | PDF → | — |
STD100N3LF3STD100N3LF3 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (27nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 5.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 27nC | 2.5V | 175°C | PDF → | — |
WSF3085Winsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (20nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 85A | 4.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
WSF3085AWinsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (20nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 85A | 4.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 1.2V | 175°C | PDF → | — |
1653 CMD1653-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (28.8nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 28.8nC | 7.5V | 175°C | PDF → | — |
BRCS80N03DPFoshan Blue Rocket Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (30nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 4.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 1.7V | 150°C | PDF → | — |
BUK724R5-30C118Nexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (62nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 75A | 300mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 62nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
FDD6676Sonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (41nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 78A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 41nC | 1.3V | 150°C | PDF → | — |
FDD6670A-NLJSMSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (33.7nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 4.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 33.7nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
IPD040N03L GInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (18nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 90A | 4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 18nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
PTD3006PUOLOP Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (38nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 4.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 38nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
WSF30100Winsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (13.8nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 100A | 3.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13.8nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
AOD21357-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 1.8V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (45nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 5.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 45nC | — | 150°C | PDF → | — |
MS80N03MSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (45nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 3.55mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 45nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
CRTD055N03LCRMICRO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (26nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 86A | 4.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 26nC | 0.8V | 175°C | PDF → | — |
NCE3080KAWuxi NCE Power Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (51nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 7.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 51nC | 1.1V | 175°C | PDF → | — |
YJD80N03AYangzhou Yangjie Elec Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (54nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 3.6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 54nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
YJD80N03BYangzhou Yangjie Elec Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (52.8nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 4.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 52.8nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
CS100N03B4Wuxi China Resources Huajing Microelectronics Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 100A | 4.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
ME95N03-GMATSUKI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 100A | 2.6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
FDD6670ALonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (37nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 84A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 37nC | 1.8V | 175°C | PDF → | — |
FDD6670AL_NLonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (37nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 84A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 37nC | 1.8V | 175°C | PDF → | — |
SM4132T9RLSPS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (33nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 85A | 4.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 33nC | 1.52V | 150°C | PDF → | — |
CRTD030N03LCRMICRO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (108nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 80A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 108nC | 1.8V | 150°C | PDF → | — |
100N03AUMW(Youtai Semiconductor Co., Ltd.) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (41nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 90A | 4.9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 41nC | 2.5V | 150°C | PDF → | — |
30N03AUMW(Youtai Semiconductor Co., Ltd.) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (41nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 90A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 41nC | 2.5V | 150°C | PDF → | — |
ASDM30N90KQ-RASDsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 90A | 3.6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 1.6V | 175°C | PDF → | — |
FDD6688Sonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (58nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 88A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 58nC | 1.4V | 150°C | PDF → | — |
3090KShenzhen Fuman Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (45nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 90A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 45nC | 1.01V | 175°C | PDF → | — |
DC004NG-BDOINGTER Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (24nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 100A | 3.1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 24nC | 1.6V | 175°C | PDF → | — |
DOD100N03DOINGTER Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (24nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 100A | 3.1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 24nC | 1.6V | 175°C | PDF → | — |
IRFR8314TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (54nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 90A | 2.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 54nC | 2.2V | 175°C | PDF → | — |
FDD8874onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 116A | 4.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 1.2V | 175°C | PDF → | — |
AD90N03SAnBon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (60nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 90A | 4.1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 60nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
NCE3095KWuxi NCE Power Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (38.4nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 95A | 5.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 38.4nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
IPD90N03S4L03ATMA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (80nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 90A | 3.44mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 80nC | 1.01V | 175°C | PDF → | — |
JMTK3004AJiangsu JieJie Microelectronics Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (30nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 100A | 2.9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
TPM3090NK3-7TECH PUBLIC Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (103nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 90A | 3.88mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 103nC | 1.4V | 175°C | PDF → | — |
IPD90N03S4L-02Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (120nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 90A | 2.22mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 120nC | 1.01V | 175°C | PDF → | — |
IPD90N03S4L02ATMA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (120nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 90A | 2.22mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 120nC | 1.01V | 175°C | PDF → | — |
WSF30100DWinsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (45nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 100A | 3.64mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 45nC | 1.01V | 175°C | PDF → | — |
BRD100N03Foshan Blue Rocket Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (50nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 100A | 3.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 50nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
HYG030N03LQ1DHUAYI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (54.8nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 100A | 2.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 54.8nC | 1.3V | 175°C | PDF → | — |
30H10KShenzhen Fuman Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (58nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 100A | 3.64mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 58nC | 5V | 175°C | PDF → | — |
MOT100N03MDMOT Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (57.2nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 100A | 4.6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 57.2nC | 2.5V | 150°C | PDF → | — |
DMTH3004LK3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (20.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 120A | 3.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20.6nC | 1.7V | 150°C | PDF → | — |
FDD8870-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (20.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 120A | 3.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20.6nC | 1.7V | 150°C | PDF → | — |
NTD4804N-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (20.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 120A | 3.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20.6nC | 1.7V | 150°C | PDF → | — |
NTD4904N-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (20.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 120A | 3.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20.6nC | 1.7V | 150°C | PDF → | — |
PSMN3R4-30BLE-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (20.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 120A | 3.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20.6nC | 1.7V | 150°C | PDF → | — |
NCE30H10KWuxi NCE Power Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (70nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 100A | 4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 70nC | 1.6V | 175°C | PDF → | — |
AP30H100KAALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (84nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 100A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 84nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
IRFR3709ZCT-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (100nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 100A | 5000mΩ Vgs=10V, 25°C | 100nC | 7.5V | — | PDF → | — |
SQD100N03-3M2L_GE3Vishay Siliconix Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (116nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 100A | 3.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 116nC | 2.5V | 175°C | PDF → | — |
SQD100N03-3M4_GE3Vishay Siliconix Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 3.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (124nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 100A | 3.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 124nC | 3.5V | 175°C | PDF → | — |
VBZE7843VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (160nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 100A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 160nC | 7.5V | 175°C | PDF → | — |
IRLR7843TRPBF&-2-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (257nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 100A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 257nC | 7.5V | — | PDF → | — |
ME96N03-GMATSUKI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (62nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 107.2A | 2.9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 62nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
NCE30H11BKWuxi NCE Power Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (66.3nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 110A | 4.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 66.3nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
NCE30H11KWuxi NCE Power Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (70nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 110A | 4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 70nC | 1.6V | 175°C | PDF → | — |
NCE30H12KWuxi NCE Power Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (79nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 120A | 3.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 79nC | 1.6V | 175°C | PDF → | — |
SK120N03BShikues Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (81nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 120A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 81nC | 1.7V | 150°C | PDF → | — |
IRLR8743TRPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (257nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 120A | 2.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 257nC | 7.5V | — | PDF → | — |
LR7833-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (257nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 120A | 2.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 257nC | 7.5V | — | PDF → | — |
LR7843-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (257nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 120A | 2.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 257nC | 7.5V | — | PDF → | — |
NCE30H15KWuxi NCE Power Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (38nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 150A | 4.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 38nC | 1.7V | 175°C | PDF → | — |
NCE30H14KWuxi NCE Power Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (80nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 140A | 2.9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 80nC | 1.6V | 175°C | PDF → | — |
MOT130N03DMOT Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 240A | 2.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
AP30H150KALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (54nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 150A | 3.1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 54nC | 1.2V | 150°C | PDF → | — |
AP30H150KAALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (70nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 150A | 6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 70nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
KND2803AKIA Semicon Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (110nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 32V | 150A | 1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 110nC | 2V | 175°C | PDF → | — |
WSF3013BWinsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- UWAGA: Id 45A < 48A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 45A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1.4nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
FDD6690Aonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 46A < 48A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 46A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.5nC | 5V | 175°C | PDF → | — |
AOD32334CAOD32334C Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Id
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | — | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.31V | — | PDF → | — |
BUK6213-30C,118BUK6213-30C,118 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 1.8V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Id
- Brak danych: Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | — | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | — | Szukaj PDF → | — |
BUK6213-30C,118-NEXBUK6213-30C,118-NEX Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 1.8V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Id
- Brak danych: Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | — | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | — | Szukaj PDF → | — |
AOD417-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 40A < 48A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 40A | 23mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
AOD417-MSMSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 40A < 48A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 40A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
TDM3428BTechcode Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 45A < 48A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (8nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 45A | 9.7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8nC | 1.8V | 150°C | PDF → | — |
SM514T9RLSPS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 46A < 48A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (8.8nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 46A | 8.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8.8nC | 1.21V | 150°C | PDF → | — |
WSF3040Winsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 43A < 48A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.8nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 43A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.8nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
BRCS120N03DPFoshan Blue Rocket Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 42A < 48A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 42A | 11.7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
BRD50N03Foshan Blue Rocket Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 45A < 48A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (14nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 45A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 14nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
BUK6209-30C,118BUK6209-30C,118 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (30.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Id
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | — | 2040mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30.5nC | 1.82V | 175°C | PDF → | — |
KND3306BKIA Semicon Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Vds 25V < 30V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 25V | 80A | 263mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 4V | — | PDF → | — |
CRTD110N03LCRMICRO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 45A < 48A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (23nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 45A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 23nC | 0.8V | 175°C | PDF → | — |
TTD85N03ATWUXI UNIGROUP MICRO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 46A < 48A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 46A | 85mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 1.6V | 175°C | PDF → | — |
FDD8878onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 40A < 48A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 40A | 15mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 1.2V | 175°C | PDF → | — |
FDD6030BLonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 42A < 48A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (22nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 42A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 22nC | 1.6V | 175°C | PDF → | — |
FDD6690Sonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 40A < 48A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (17nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 40A | 24mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 17nC | 2V | 150°C | PDF → | — |
IRLR3114ZPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- UWAGA: Vds 26.5V < 30V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- UWAGA: Id 42A < 48A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 26.5V | 42A | 40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
IPD40N03S4L08ATMA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 40A < 48A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (20nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 40A | 8.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 1.01V | 175°C | PDF → | — |
ME20N03MATSUKI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 39A < 48A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (18nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 39A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 18nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
RU3060LShenzhen ruichips Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 41A < 48A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (30nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 41A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 1.4V | 175°C | PDF → | — |
LNG04R120LONTEN Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 47A < 48A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (24.2nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 47A | 47mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 24.2nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
STD40NF03LT4STMicroelectronics Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 40A < 48A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (30nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 40A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
AOD417-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 4.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 40A < 48A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 40A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 4.5V | 150°C | PDF → | — |
AOD425-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 4.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 40A < 48A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 40A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 4.5V | 150°C | PDF → | — |
AOD425A-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 4.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 40A < 48A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 40A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 4.5V | 150°C | PDF → | — |
IRLR2905PBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- UWAGA: Vds 27V < 30V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- UWAGA: Id 42A < 48A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (48nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 27V | 42A | 27mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 48nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
IRLR2905TRLPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- UWAGA: Vds 27V < 30V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- UWAGA: Id 42A < 48A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (48nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 27V | 42A | 27mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 48nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
IRLR2905TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- UWAGA: Vds 27V < 30V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- UWAGA: Id 42A < 48A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (48nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 27V | 42A | 27mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 48nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
HY1606DHUAYI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Vds 25V < 30V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (33nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 25V | 66A | 10.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 33nC | 3V | 175°C | PDF → | — |
STD100NH02LT4STD100NH02LT4 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Vds 24V < 30V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (84nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 24V | 60A | 4.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 84nC | 1.8V | 175°C | PDF → | — |
STD95NH02LT4STD95NH02LT4 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Vds 24V < 30V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (17nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 24V | 80A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 17nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
JMTK060N06AJiangsu JieJie Microelectronics Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.8V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Vds 25V < 30V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (103nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 25V | 120A | 4.55mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 103nC | 3V | 175°C | PDF → | — |