PDFN8Unknown ↓ Twoj uklad | N | QFN-8 | 30V | 229A | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | — | Szukaj PDF → | Zobacz ofertę → |
PKCH2BBUnknown Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (QFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (QFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | QFN-8 | 30V | 229A | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | — | Szukaj PDF → | Zobacz ofertę → |
IRFH5300TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (QFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (QFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | QFN-8 5×6mm | 30V | 336A | 1.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 50nC | 1.8V | 150°C | PDF → | — |
FDMS8670onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (QFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (QFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Id
- Brak danych: Rds(on)
| N | QFN-8 5×6mm | 30V | — | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.01V | 150°C | PDF → | — |
SE30200SINO-IC Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (QFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (QFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- UWAGA: Id 200A < 229A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | QFN-8 4.9×5.8mm | 30V | 200A | 1.41mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 2V | 150°C | PDF → | — |
AO36352Alpha & Omega Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (12)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (QFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (QFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- kandydat nie ma potwierdzonego Vds w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vds
- Brak danych: Id
- Brak danych: Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | QFN-8 | — | — | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | — | Szukaj PDF → | Zobacz ofertę → |
AON36336Alpha & Omega Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (12)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (QFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (QFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- kandydat nie ma potwierdzonego Vds w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vds
- Brak danych: Id
- Brak danych: Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | QFN-8 | — | — | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | — | Szukaj PDF → | Zobacz ofertę → |
AON36352Alpha & Omega Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (12)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (QFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (QFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- kandydat nie ma potwierdzonego Vds w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vds
- Brak danych: Id
- Brak danych: Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | QFN-8 | — | — | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | — | Szukaj PDF → | Zobacz ofertę → |
M0930MUnknown Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (12)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (QFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (QFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- kandydat nie ma potwierdzonego Vds w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vds
- Brak danych: Id
- Brak danych: Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | QFN-8 | — | — | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | — | Szukaj PDF → | Zobacz ofertę → |
M3816NUnknown Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (12)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (QFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (QFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- kandydat nie ma potwierdzonego Vds w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vds
- Brak danych: Id
- Brak danych: Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | QFN-8 | — | — | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | — | Szukaj PDF → | Zobacz ofertę → |
MDU2653Magnachip Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (12)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (QFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (QFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- kandydat nie ma potwierdzonego Vds w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vds
- Brak danych: Id
- Brak danych: Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | QFN-8 | — | — | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | — | Szukaj PDF → | Zobacz ofertę → |
PK5E4BAUnknown Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (12)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (QFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (QFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- kandydat nie ma potwierdzonego Vds w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vds
- Brak danych: Id
- Brak danych: Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | QFN-8 | — | — | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | — | Szukaj PDF → | Zobacz ofertę → |
QA3118Unknown Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (12)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (QFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (QFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- kandydat nie ma potwierdzonego Vds w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vds
- Brak danych: Id
- Brak danych: Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | QFN-8 | — | — | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | — | Szukaj PDF → | Zobacz ofertę → |
QA3118M6NUnknown Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (12)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (QFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (QFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- kandydat nie ma potwierdzonego Vds w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vds
- Brak danych: Id
- Brak danych: Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | QFN-8 | — | — | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | — | Szukaj PDF → | Zobacz ofertę → |
QM0930MUBIQ Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (12)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (QFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (QFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- kandydat nie ma potwierdzonego Vds w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vds
- Brak danych: Id
- Brak danych: Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | QFN-8 | — | — | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | — | Szukaj PDF → | Zobacz ofertę → |
QM0930M3UBIQ Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (12)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (QFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (QFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- kandydat nie ma potwierdzonego Vds w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vds
- Brak danych: Id
- Brak danych: Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | QFN-8 | — | — | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | — | Szukaj PDF → | Zobacz ofertę → |
QM3816NUBIQ Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (12)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (QFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (QFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- kandydat nie ma potwierdzonego Vds w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vds
- Brak danych: Id
- Brak danych: Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | QFN-8 | — | — | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | — | Szukaj PDF → | Zobacz ofertę → |
QM3816N6UBIQ Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (12)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (QFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (QFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- kandydat nie ma potwierdzonego Vds w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vds
- Brak danych: Id
- Brak danych: Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | QFN-8 | — | — | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | — | Szukaj PDF → | Zobacz ofertę → |
TPN11003NLToshiba Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (12)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (QFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (QFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- kandydat nie ma potwierdzonego Vds w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vds
- Brak danych: Id
- Brak danych: Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | QFN-8 | — | — | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | — | Szukaj PDF → | Zobacz ofertę → |