PSMN017-60YSNexperia ↓ Twoj uklad | N | LFPAK | 60V | 44A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 4.7V | 175°C | PDF → |
PSMN017-60YS,115Nexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (LFPAK) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (LFPAK) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | LFPAK | 60V | 44A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 4.7V | 175°C | PDF → |
BUK9Y22-100E,115Nexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (9)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (LFPAK) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (LFPAK) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rozny typ bramki: standard -> logic-level (Vgs(th) 4.7V vs 2.1V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (35.8nC vs 20nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | LFPAK | 100V | 49A | 21.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 35.8nC | 2.1V | 175°C | PDF → |
PSMN011-80YS,115Nexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (LFPAK) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (LFPAK) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (45nC vs 20nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
| N | LFPAK | 80V | 67A | 8.611mΩ Vgs=10V, 100°C | 45nC | 4V | 175°C | PDF → |
BUK7Y18-55B,115BUK7Y18-55B,115 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (LFPAK) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (LFPAK) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- UWAGA: Vds 55V < 60V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
| N | LFPAK | 55V | 47.4A | 12.718mΩ Vgs=10V, 25°C | 21.9nC | 4.4V | 175°C | PDF → |
BUK9K13-60EXBUK9K13-60EX Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (LFPAK) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (LFPAK) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rozny typ bramki: standard -> logic-level (Vgs(th) 4.7V vs 0.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 40A < 44A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | LFPAK | 60V | 40A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 22.4nC | 0.5V | 175°C | PDF → |
BUK9Y12-55B,115BUK9Y12-55B,115 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (10)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (LFPAK) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (LFPAK) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rozny typ bramki: standard -> logic-level (Vgs(th) 4.7V vs 2.45V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Vds 55V < 60V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (32nC vs 20nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
| N | LFPAK | 55V | 61.8A | 8.111mΩ Vgs=10V, 25°C | 32nC | 2.45V | 175°C | PDF → |