PSMN7R5-30YLDXNexperia USA Inc. ↓ Twoj uklad | N | LFPAK 4.9×3.9mm | 30V | — | 6.17mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13nC | 1.21V | 175°C | PDF → |
BUK9Y22-30B,115BUK9Y22-30B,115 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (LFPAK) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (LFPAK) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- PSMN7R5-30YLDX nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
| N | LFPAK | 30V | 37.7A | 1722mΩ Vgs=5V, 25°C | 10.5nC | 1.11V | 175°C | PDF → |
PSMN013-30YLC,115Nexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (LFPAK) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (LFPAK) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- PSMN7R5-30YLDX nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
| N | LFPAK | 30V | 32A | 16.9mΩ Vgs=4.5V, 25°C | 8.3nC | 1.95V | 175°C | PDF → |
BUK7S0R9-40HJBUK7S0R9-40HJ Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (LFPAK) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (LFPAK) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.21V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- PSMN7R5-30YLDX nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | LFPAK | 40V | 375A | 0.51mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 3V | 175°C | PDF → |
BUK7S1R2-40HJBUK7S1R2-40HJ Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (LFPAK) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (LFPAK) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.21V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- PSMN7R5-30YLDX nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | LFPAK | 40V | 300A | 0.741mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13nC | 3V | 175°C | PDF → |
BUK7S1R5-40HJBUK7S1R5-40HJ Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (LFPAK) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (LFPAK) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.21V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- PSMN7R5-30YLDX nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | LFPAK | 40V | 260A | 0.91mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13nC | 3V | 175°C | PDF → |
BUK7Y25-40B,115BUK7Y25-40B,115 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (LFPAK) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (LFPAK) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.21V vs 4.4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- PSMN7R5-30YLDX nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | LFPAK | 40V | 35.3A | 100mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.1nC | 4.4V | 175°C | PDF → |
BUK7Y25-40B/C3115Nexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (LFPAK) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (LFPAK) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.21V vs 4.4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- PSMN7R5-30YLDX nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | LFPAK | 40V | 35.3A | 100mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.1nC | 4.4V | 175°C | PDF → |
BUK7Y10-30B,115BUK7Y10-30B,115 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (LFPAK) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (LFPAK) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.21V vs 4.4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- PSMN7R5-30YLDX nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | LFPAK | 30V | 67A | 35mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 18.8nC | 4.4V | 175°C | PDF → |
BUK9Y14-40B,115BUK9Y14-40B,115 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (LFPAK) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (LFPAK) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- PSMN7R5-30YLDX nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | LFPAK | 40V | 56A | 13mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 14nC | 2.3V | 175°C | PDF → |
BUK9Y07-30B,115Nexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (9)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (LFPAK) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (LFPAK) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- PSMN7R5-30YLDX nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (28.1nC vs 13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | LFPAK | 30V | 75A | 4.97mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 28.1nC | 1.11V | 175°C | PDF → |
BUK7Y07-30B,115BUK7Y07-30B,115 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (10)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (LFPAK) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (LFPAK) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.21V vs 4.4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- PSMN7R5-30YLDX nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (31nC vs 13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | LFPAK | 30V | 75A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 31nC | 4.4V | 175°C | PDF → |
BUK9K35-60RAXBUK9K35-60RAX Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (LFPAK) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (LFPAK) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- PSMN7R5-30YLDX nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | LFPAK | 60V | 22A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.8nC | 2.45V | — | PDF → |
BUK9K52-60RAXBUK9K52-60RAX Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (LFPAK) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (LFPAK) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- PSMN7R5-30YLDX nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | LFPAK | 60V | 16A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 2.45V | — | PDF → |
BUK9Y09-40B,115BUK9Y09-40B,115 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (9)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (LFPAK) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (LFPAK) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- PSMN7R5-30YLDX nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (30nC vs 13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
| N | LFPAK | 40V | 75A | 6.99mΩ Vgs=5V, 25°C | 30nC | 1.251V | 175°C | PDF → |
BUK9Y3R5-40E,115BUK9Y3R5-40E,115 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (LFPAK) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- PSMN7R5-30YLDX nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (30.2nC vs 13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | LFPAK 4.9×3.9mm | 40V | 25A | 2.93mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30.2nC | 0.5V | 175°C | PDF → |
BUK9Y153-100E,115BUK9Y153-100E,115 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (LFPAK) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- PSMN7R5-30YLDX nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | LFPAK 4.9×3.9mm | 100V | 2A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.8nC | 0.5V | 175°C | PDF → |
BUK7Y18-55B,115BUK7Y18-55B,115 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (10)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (LFPAK) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (LFPAK) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.21V vs 4.4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- PSMN7R5-30YLDX nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (21.9nC vs 13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
| N | LFPAK | 55V | 47.4A | 12.718mΩ Vgs=10V, 25°C | 21.9nC | 4.4V | 175°C | PDF → |
PSMN017-60YSNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (10)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (LFPAK) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (LFPAK) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.21V vs 4.7V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- PSMN7R5-30YLDX nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (20nC vs 13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | LFPAK | 60V | 44A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 4.7V | 175°C | PDF → |
PSMN017-60YS,115Nexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (10)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (LFPAK) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (LFPAK) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.21V vs 4.7V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- PSMN7R5-30YLDX nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (20nC vs 13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | LFPAK | 60V | 44A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 4.7V | 175°C | PDF → |
BUK9K13-60EXBUK9K13-60EX Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (9)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (LFPAK) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (LFPAK) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- PSMN7R5-30YLDX nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (22.4nC vs 13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | LFPAK | 60V | 40A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 22.4nC | 0.5V | 175°C | PDF → |
BUK9K12-60EXNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (9)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (LFPAK) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (LFPAK) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- PSMN7R5-30YLDX nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (24.5nC vs 13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | LFPAK | 60V | 35A | 9.511mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 24.5nC | 0.5V | 175°C | PDF → |
BUK9Y12-55B,115BUK9Y12-55B,115 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (9)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (LFPAK) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (LFPAK) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- PSMN7R5-30YLDX nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (32nC vs 13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
| N | LFPAK | 55V | 61.8A | 8.111mΩ Vgs=10V, 25°C | 32nC | 2.45V | 175°C | PDF → |
BUK9Y6R0-60E,115Nexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (9)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (LFPAK) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (LFPAK) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- PSMN7R5-30YLDX nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (39.4nC vs 13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | LFPAK | 60V | 25A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 39.4nC | 0.5V | 175°C | PDF → |
BUK7Y4R8-60EXNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (9)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (LFPAK) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (LFPAK) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- PSMN7R5-30YLDX nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (73.1nC vs 13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | LFPAK | 60V | 25A | 2.94mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 73.1nC | 1V | 175°C | PDF → |
BUK7Y38-100EXBUK7Y38-100EX Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (9)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (LFPAK) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (LFPAK) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- PSMN7R5-30YLDX nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (30.9nC vs 13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | LFPAK | 100V | 5A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30.9nC | 1V | 175°C | PDF → |
PSMN011-80YS,115Nexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (10)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (LFPAK) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (LFPAK) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.21V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- PSMN7R5-30YLDX nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (45nC vs 13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
| N | LFPAK | 80V | 67A | 8.611mΩ Vgs=10V, 100°C | 45nC | 4V | 175°C | PDF → |
BUK9Y22-100E,115Nexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (9)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (LFPAK) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (LFPAK) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- PSMN7R5-30YLDX nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (35.8nC vs 13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | LFPAK | 100V | 49A | 21.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 35.8nC | 2.1V | 175°C | PDF → |
BUK7Y7R8-80EXBUK7Y7R8-80EX Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (LFPAK) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- PSMN7R5-30YLDX nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (63.3nC vs 13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | LFPAK 4.9×3.9mm | 80V | 25A | 5.97mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 63.3nC | 1V | 175°C | PDF → |
BUK7Y15-100EXBUK7Y15-100EX Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (9)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (LFPAK) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (LFPAK) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- PSMN7R5-30YLDX nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (54.5nC vs 13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | LFPAK | 100V | 20A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 54.5nC | 1V | 175°C | PDF → |