Zamienniki dla SED14N65G
Kandydaci do weryfikacji (2)
Pierwszy wiersz = Twoj uklad. Kolejne pozycje nie spelniaja kompletu regul dla pewnego zamiennika, wiec pokazujemy je tylko jako kandydatow do recznej weryfikacji.
| MPN | Polar. | Obudowa | Vds | Id | Rds(on) | Qg | Vgs(th) | Tj max | Datasheet |
|---|
SED14N65GSINO-IC ↓ Twoj uklad | N | DFN-5x6 5×6mm | 650V | 14A | 300mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 2V | 150°C | PDF → |
WSD2090DN56Winsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11.05nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-5x6 5×6mm | 651V | 80A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11.05nC | 0.5V | 175°C | PDF → |
IPLK60R360PFD7Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2V vs 3.544V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 13A < 14A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12.7nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-5x6 5×6mm | 650V | 13A | 711mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.7nC | 3.544V | 150°C | PDF → |
Niezgodne lub nieobsługiwane propozycje ze źródeł (1)