SL3415Slkor(SLKORMICRO Elec.) ↓ Twoj uklad | P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 45mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1.3nC | 0.65V | 150°C | PDF → |
SI2305B-TPMCC(Micro Commercial Components) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.2A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1nC | 0.5V | 150°C | PDF → |
AO3415Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Qg wyzsze (2nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 41mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 0.57V | 150°C | PDF → |
PJA3415_R1_00001PANJIT International Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Qg wyzsze (2nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 0.62V | 150°C | PDF → |
PJA3415AE_R1_00001PANJIT International Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Qg wyzsze (2nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.3A | 4.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 0.55V | 150°C | PDF → |
PJA3415A_R1_00001PANJIT International Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Qg wyzsze (2nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.5A | 4.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 0.74V | 150°C | PDF → |
PMV30XPANexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 0.65V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.9A | 3038mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1.9nC | — | 175°C | PDF → |
PM597BANIKO Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5.3A | 40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 0.8V | 150°C | PDF → |
NTR1P02T3G-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 0.65V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | — | PDF → |
SM2305SRLSPS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.7nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.5A | 100mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.7nC | 0.85V | 150°C | PDF → |
SE3407SINO-IC Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.5V | 150°C | PDF → |
SE2305SINO-IC Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.7A | 52mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.4V | 150°C | PDF → |
BM3415EBORN Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.8A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.2V | 125°C | PDF → |
IRLML6402MSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 50mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 0.65V | 150°C | PDF → |
APM2321AAC-TRG-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 0.65V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 35mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | — | PDF → |
ST2301-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 0.65V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 43mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | — | PDF → |
LPB3407LT1GLRC Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 4.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 4.5V | — | PDF → |
SI2343CDS-T1-GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 53mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 1V | 150°C | PDF → |
BRCS3415MCFoshan Blue Rocket Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 35mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 0.6V | 150°C | PDF → |
CJ3407Jiangsu Changjing Electronics Technology Co., Ltd. Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | 150°C | PDF → |
GL3401KGL Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.5V | 150°C | PDF → |
MMFTP3401-AQDiotec Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (9)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (SOT-23) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SOT-23) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- oryginal to logic-level (Vgs(th) 0.65V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | SOT-23 | 30V | 4A | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | — | Szukaj PDF → |
SKML5203Shikues Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 120mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.3V | 125°C | PDF → |
SL2343Slkor(SLKORMICRO Elec.) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | 150°C | PDF → |
AS3407AnBon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 65mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | 150°C | PDF → |
FS3401MFOSAN Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 4250mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.6V | 150°C | PDF → |
MEM2307XGMICRONE(Nanjing Micro One Elec) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 4.1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.3V | — | PDF → |
PJM3401PSAPJSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | 150°C | PDF → |
PJM3407PSAPJSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 50mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 2V | 150°C | PDF → |
KY2305AKY Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.1A | 35mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 0.7V | 150°C | PDF → |
WTM2305WPMtek(Wei Pan Microelectronics) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.1A | 4.1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 0.7V | 150°C | PDF → |
LP3415ELT1GLRC Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.97nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.97nC | 0.3V | 150°C | PDF → |
SI2365EDS-T1-BE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.9nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.5A | 32mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.9nC | 2.5V | 150°C | PDF → |
AFP2307AS23-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.8A | 35mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
SI2333DDS-T1-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.8A | 35mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
VBZ3401AVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 4.4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 25V | 5.6A | 4200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 4.4V | — | PDF → |
AO3415A-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
AP2301N-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
APM2321AC-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
CMN2305M-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
EMFA0P02J-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
IM2132-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
KY3407KY Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.8nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.1A | 48mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.8nC | 1.4V | 150°C | PDF → |
DMP2045U-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.8nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.3A | 32mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.8nC | 0.3V | 150°C | PDF → |
IRLML2244TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.9nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.3A | 1000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.9nC | 0.4V | 150°C | PDF → |
AS3415EFMS(Formosa Microsemi) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.2nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 3543mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.2nC | 0.3V | 150°C | PDF → |
AO3415AI-MSMSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.49nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 41mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.49nC | 0.57V | 150°C | PDF → |
BLM2305BL(Shanghai Belling) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.8nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.1A | 43mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.8nC | 0.7V | 150°C | PDF → |
SK2305Shikues Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.8nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.1A | 58mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.8nC | 0.7V | 150°C | PDF → |
DMP2120U-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 0.65V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.8nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.2A | 55mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.8nC | — | — | PDF → |
DMP2123L-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 0.65V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.8nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.2A | 55mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.8nC | — | — | PDF → |
DMP2130L-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 0.65V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.8nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.2A | 55mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.8nC | — | — | PDF → |
DMP2305U-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 0.65V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.8nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.2A | 55mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.8nC | — | — | PDF → |
MDD2305MDD(Microdiode Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.8nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.2A | 48mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.8nC | 1V | 150°C | PDF → |
PMV48XP-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 0.65V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.8nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.2A | 55mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.8nC | — | — | PDF → |
ST2341SRG-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 0.65V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.8nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.2A | 55mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.8nC | — | — | PDF → |
PMV48XP/MI215Nexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (8.511nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.2A | 0.01mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8.511nC | 1V | — | PDF → |
NDS332P-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.8A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
DMG3415U-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.1nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 31mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.1nC | 0.55V | 150°C | PDF → |
DMG3415UQ-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.1nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 31mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.1nC | 0.55V | 150°C | PDF → |
LP3407LT3GLRC Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.2nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.1A | 70mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.2nC | 5V | 150°C | PDF → |
DMP2100U-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.1nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.3A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.1nC | 0.3V | 150°C | PDF → |
SSM3J328R,LFTOSHIBA Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 47.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 3V | — | PDF → |
3407/HShenzhen Fuman Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 39mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 1.5V | 150°C | PDF → |
AO3407A-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 1.2V | — | PDF → |
SI2323CDS-T1-GE3Vishay Siliconix Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 150mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 2.4V | 150°C | PDF → |
AM2327P-T1-PF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
AO3435A-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
AP3415EALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 41mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 0.8V | 150°C | PDF → |
KD2305-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
ME2301-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
MT2301ACTR-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 57mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
PM513BA-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
SPP2301S23RG-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
WST2305Winsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10.2nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.4A | 50mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10.2nC | 0.8V | 150°C | PDF → |
WST2335Winsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10.2nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.4A | 50mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10.2nC | 0.8V | 150°C | PDF → |
ME2323DMATSUKI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10.5nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.2A | 45mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10.5nC | 0.5V | 150°C | PDF → |
SI2399DS-T1-BE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5.1A | 34mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
JY2305XShenzhen JingYang Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10.6nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.2A | 53mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10.6nC | 0.5V | — | PDF → |
3415AGOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12nC | 0.7V | 150°C | PDF → |
AO3415-SOT23PUOLOP Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 44mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12nC | 0.65V | 150°C | PDF → |
G2305LGE Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 35mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12nC | 1V | 150°C | PDF → |
KY3415BKY Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 38mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12nC | 0.4V | 150°C | PDF → |
NCE3415Wuxi NCE Power Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 44mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12nC | 0.55V | 150°C | PDF → |
WTM3415WPMtek(Wei Pan Microelectronics) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 44mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12nC | 0.65V | 150°C | PDF → |
FDN306P-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (8.41nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.8A | 150mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8.41nC | 0.45V | 175°C | PDF → |
AO3407-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
BSS308PE-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
BSS314PEH6327-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
DMG2307L-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
DMP3125L-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
DMP3160L-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
FDN358P-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
FDN360P-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
HXY3407AIHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
IRLML5103PBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
IRLML9301TRPBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
IRLML9303TRPBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
KMB3D0P30SA-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
NDS352AP-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
NDS356AP-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
NTR4502P-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
SI2303CDS-T1-GE3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
SI2307BDS-T1-E3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
SI2307BDS-T1-GE3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
SI2307CDS-T1-E3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
SI2307CDS-T1-GE3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
SI2343DS-T1-E3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
SI2343DS-T1-GE3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
SI2323DDS-T1-GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.8V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (13.6nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.1A | 39mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13.6nC | 2.8V | 150°C | PDF → |
KO3415KEXIN Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 2468mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.4nC | 0.3V | 150°C | PDF → |
NP3407VR-GNATLINEAR Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (14nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 14nC | 1.3V | 150°C | PDF → |
KO3407KEXIN Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (14.3nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.1A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 14.3nC | 1.8V | 125°C | PDF → |
DMP2035UQ-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 45mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15.4nC | 0.7V | 150°C | PDF → |
PMV32UP,215Nexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15.5nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 3236mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15.5nC | 0.7V | 150°C | PDF → |
PMV27UPEARNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (14.722nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.5A | 2732mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 14.722nC | 2V | 150°C | PDF → |
PJM3415PSAPJSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (17.2nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 17.2nC | 1V | 150°C | PDF → |
KSI2305CDS-T1-GE3KUU Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (18nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 4465mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 18nC | 0.5V | 150°C | PDF → |
HSS2305AHUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10.2nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.9A | 40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10.2nC | 0.4V | 150°C | PDF → |
YJL2305BYangzhou Yangjie Elec Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.2nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5.4A | 29mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.2nC | 0.62V | 150°C | PDF → |
AO3415-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 43mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
AP2307GN-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 43mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
BSS215P-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 43mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
DMG2301U-7-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
DMG2305UX-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10.2nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10.2nC | 0.5V | 150°C | PDF → |
DMG2305UX-7HXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10.2nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 45mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10.2nC | 0.4V | 150°C | PDF → |
DMG2305UXQ-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10.2nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10.2nC | 0.5V | 150°C | PDF → |
FDN306P-NL-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
FDV304P-NL-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 35mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
HXY2305AIHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10.2nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 45mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10.2nC | 0.4V | — | PDF → |
IRLML2244PBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10.2nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 45mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10.2nC | 0.4V | — | PDF → |
IRLML2244TRPBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10.2nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 45mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10.2nC | 0.4V | — | PDF → |
IRLML6401PBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10.2nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 45mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10.2nC | 0.4V | — | PDF → |
LP4101LT1G-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 43mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
NTR4101PT1G-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 43mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
QM2415K-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 43mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
RTR025P02TL-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 43mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
SI2305-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10.2nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 45mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10.2nC | 0.4V | 150°C | PDF → |
SI2311DS-T1-GE3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 43mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
SI2323HXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10.2nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 45mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10.2nC | 0.4V | 150°C | PDF → |
SI2333DDS-T1-GE3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 35mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
SI2351DS-T1-GE3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
SI2399DS-T1-GE3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 35mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
SM2305SRL-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10.2nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 45mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10.2nC | 0.4V | — | PDF → |
VBZ2301AVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 43mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
SI2399DS-T1-GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5.8A | 34mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
AO3415ALAlpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 41mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 0.57V | 150°C | PDF → |
LP3407LT1GLRC Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 25V | 4.1A | 70mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 2V | 150°C | PDF → |
SI2323DDS-T1-BE3Vishay Siliconix Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.8V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (36nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.1A | 39mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 36nC | 2.8V | 150°C | PDF → |
FS3415KFUXINSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.2nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5.6A | 1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.2nC | 1V | 150°C | PDF → |
SI2323DS-T1-GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (19nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.7A | 4700mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 19nC | 0.4V | 150°C | PDF → |
AP2323GN-HFAPEC(Advanced Power Elec) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (14.523nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 2323mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 14.523nC | 0.3V | 150°C | PDF → |
PMV32UP/MI215PMV32UP/MI215 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15.5nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 3236mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15.5nC | 0.7V | — | PDF → |
FS3407FUXINSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.8nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 48mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.8nC | 1.4V | 150°C | PDF → |
JMTL3407AJiangsu JieJie Microelectronics Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.8nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 42mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.8nC | 1.5V | 150°C | PDF → |
PMV48XPA2RNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 0.65V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (710nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 710nC | — | 175°C | PDF → |
ZXMP3F30FHTADiodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 80mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7nC | 1V | 150°C | PDF → |
AO3415AAlpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (17.2nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 41mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 17.2nC | 0.57V | 150°C | PDF → |
MDD3407MDD(Microdiode Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (8.2nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8.2nC | 1.2V | 150°C | PDF → |
SL3401SSlkor(SLKORMICRO Elec.) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (8.5nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 130mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8.5nC | 1V | 150°C | PDF → |
VB2140VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5.8A | 33mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
3415GOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5.6A | 44mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12nC | 0.65V | 150°C | PDF → |
KAO3407KUU Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.2nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 4880mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.2nC | 1V | 150°C | PDF → |
KDMP3099L-7KUU Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.2nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 4880mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.2nC | 1V | 150°C | PDF → |
KSI2343CDS-T1-GE3KUU Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.2nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 4880mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.2nC | 1V | 150°C | PDF → |
AO3401AAlpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.4nC | 0.9V | 150°C | PDF → |
AO3401Alpha & Omega Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 50mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.3V | 150°C | PDF → |
AP3407ALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 55mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 1.5V | 150°C | PDF → |
HL3407Ahongjiacheng Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 50mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12nC | 1.5V | 150°C | PDF → |
NCE3407Wuxi NCE Power Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12.5nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.5nC | 1.5V | 150°C | PDF → |
SI3415B-TPMCC(Micro Commercial Components) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (21nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5.6A | 42mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 21nC | 0.62V | 150°C | PDF → |
PMV41XPARPMV41XPAR Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (21nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 28V | 4A | 50mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 21nC | 1V | 150°C | PDF → |
BLM3407BL(Shanghai Belling) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (14nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 14nC | 1.5V | 150°C | PDF → |
KAO3401KUU Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (14nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 14nC | 0.6V | 150°C | PDF → |
SSM3J334R,LF(TTOSHIBA Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 54mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 0.8V | — | PDF → |
LPSC3481LONTEN Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (19.3nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 19.3nC | 0.95V | 150°C | PDF → |
AO3481Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (20nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 50mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 0.9V | 150°C | PDF → |
SI2343DS-T1-E3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (21nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 21nC | 1V | 150°C | PDF → |
AO3401CI-MSMSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.1nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 10A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.1nC | 0.7V | 150°C | PDF → |
TSM260P02CX RFGTaiwan Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (17nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6.5A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 17nC | 0.6V | 150°C | PDF → |
PJM07P20SAPJSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15.3nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 7A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15.3nC | 2V | 150°C | PDF → |
WST2339Winsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (32nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 7.1A | 17mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 32nC | 0.5V | 150°C | PDF → |
AO3413AUMW(Youtai Semiconductor Co., Ltd.) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 15A | 180mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 0.65V | 150°C | PDF → |
PJA3413_R1_00001PANJIT International Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.4A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.4A | 3.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 0.65V | 150°C | PDF → |
AP2307GN-HFAPEC(Advanced Power Elec) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Vds 16V < 20V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 16V | 4A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1V | — | PDF → |
AS2305AnBon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 3.9A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.9A | 80mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.5V | 150°C | PDF → |
BML6402BORN Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 3.7A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.7A | 65mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.4V | 150°C | PDF → |
KWPM2341-3KUU Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 3.7A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.7A | 65mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.4V | 150°C | PDF → |
AP2305ALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 0.65V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- UWAGA: Id 3.5A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 65mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | — | PDF → |
BRCS2305MCFoshan Blue Rocket Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 3.5A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.4V | — | PDF → |
CES2307ACET(Chino-Excel Tech) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 3.2A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.2A | 78mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | — | PDF → |
HT2301ARTZHTCSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.5A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3.3nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 64mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.3nC | 0.7V | 150°C | PDF → |
NTR4101PT1G-MSMSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.2A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.2A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 0.7V | 150°C | PDF → |
VB2290AVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.7A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.7A | 89mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
NTR3A052PZT1Gonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.3A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3.5nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.3A | 47mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.5nC | 0.4V | 150°C | PDF → |
SQ2351ES-T1_BE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.2A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3.45nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.2A | 80mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.45nC | 1V | 175°C | PDF → |
SQ2351ES-T1_GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.2A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3.45nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.2A | 115mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.45nC | 1V | 175°C | PDF → |
AO3419Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.5A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 85mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.4nC | 1.4V | 150°C | PDF → |
SI2377EDS-T1-GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.5A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.4nC | 2.5V | 150°C | PDF → |
SK2301AAVPShikues Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.4A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.3nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.4A | 49mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.3nC | 0.62V | 150°C | PDF → |
YJL2301CYangzhou Yangjie Elec Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.4A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.3nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.4A | 49mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.3nC | 0.62V | 150°C | PDF → |
DMP2120U-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.8A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.3nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.8A | 90mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.3nC | 0.4V | 150°C | PDF → |
CJ3407-ESElecSuper Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.8A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.8A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 1.5V | 150°C | PDF → |
KIRLML6402TRPBFKUU Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.7A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (8nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.7A | 135mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8nC | 0.4V | 150°C | PDF → |
AO2301-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.5A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
AO3419-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.5A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
APM2301AC-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.5A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
CES2301-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.5A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
CES2321-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.5A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
DMP2215L-7-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.5A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
FDN338P-NL-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.5A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
IRLML2244TRPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.5A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
IRLML6401GTRPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.5A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
IRLML6402TRPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.5A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
KD2301-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.5A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
ME2323D-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.5A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
MEM2301-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.5A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
MTP2301N3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.5A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
PMV48XP-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.5A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
QM2409K-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.5A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
RU20P3B-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.5A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
SI2301BDS-T1-GE3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.5A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
SI2301DS-T1-GE3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.5A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
SI2305ADS-T1-GE3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.5A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
SI2305CDS-T1-GE3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.5A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
SI2305DS-T1-GE3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.5A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
SI2333CDS-T1-GE3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.5A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
SI2333DS-T1-GE3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.5A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
SSF2341E-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.5A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
SSM3J327R-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.5A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
ST3413A-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.5A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
STS2305A-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.5A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
UT2301G-AE3-R-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.5A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
WPM2015-3/TR-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.5A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 60mΩ Vgs=10V, 25°C | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
WPM2341A-3/TR-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.5A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 60mΩ Vgs=10V, 25°C | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
XP152A12C0MR-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.5A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
ZXM61P02FTC-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.5A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
PMV50XPRNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 0.65V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- UWAGA: Id 3.6A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.712nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.6A | 4860mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.712nC | — | 150°C | PDF → |
SL2026Slkor(SLKORMICRO Elec.) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.2A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.3nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.2A | 2026mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.3nC | 0.75V | 150°C | PDF → |
KY3407CKY Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.2A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.5nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.2A | 57mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.5nC | 1.86V | 150°C | PDF → |
DMP2160U-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.3A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.3A | 96mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 1V | 150°C | PDF → |
DMP2305UQ-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.4A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.6nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.4A | 45mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.6nC | 0.5V | 150°C | PDF → |
PMV48XP,215Nexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.5A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (8.511nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 0.01mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8.511nC | 1V | 150°C | PDF → |
PMV48XPVLPMV48XPVL Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.5A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (8.511nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 0.01mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8.511nC | 1V | 150°C | PDF → |
IRLML6402GTRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.7A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.7A | 65mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12nC | 1.2V | 150°C | PDF → |
IRLML6402TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.7A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.7A | 65mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12nC | 1.2V | 150°C | PDF → |
AO3423-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.2A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.2A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
APM2301CAC-TRL-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.2A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.2A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
FDN336P-NL-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.2A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.2A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
FDN340P-NL-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.2A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.2A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
IRLML6302TRPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.2A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.2A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
IRLML6401TRPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.2A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.2A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
NTR0202PLT1G-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.2A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.2A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
NTR2101PT1G-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.2A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.2A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
QM2423K-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.2A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.2A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
RTR020P02-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.2A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.2A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
PMV50XPARNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.6A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.6A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12nC | 1V | 150°C | PDF → |
AP2301GN-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.5A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 65mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
VB2290VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.65V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.5A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 80mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
NTR4101PT1Gonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.2A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.5nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.2A | 70mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.5nC | 1.2V | 150°C | PDF → |
SI2323DS-T1-E3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.7A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (19nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.7A | 4700mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 19nC | 0.4V | 150°C | PDF → |
SQ2301ES-T1_BE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.9A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (58nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.9A | 80mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 58nC | 0.45V | 175°C | PDF → |
SI2377EDS-T1-BE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.7A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (21nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.7A | 50mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 21nC | 2.5V | 150°C | PDF → |
TSM2305CX RFGTaiwan Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.2A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.2A | 44mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 0.7V | 150°C | PDF → |
PMV50UPEVLPMV50UPEVL Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.2A < 4A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10.515nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.2A | 160mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10.515nC | 1V | 150°C | PDF → |
DMG3415UQ-7-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Vds 18V < 20V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.8nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 18V | 6.5A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.8nC | 0.7V | — | PDF → |
SI2333AI-MSMSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Vds 18V < 20V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.8nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 18V | 6.5A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.8nC | 0.7V | 150°C | PDF → |
SSM3J328R-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Vds 18V < 20V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.8nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 18V | 6.5A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.8nC | 0.7V | — | PDF → |
HXY2333AIHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Vds 18V < 20V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.8nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 18V | 7A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.8nC | 0.7V | — | PDF → |
SI2333CDS-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Vds 18V < 20V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.8nC vs 1.3nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 18V | 7A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.8nC | 0.7V | — | PDF → |