STP413DSTANSON Tech. ↓ Twoj uklad | P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 12A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 16.5nC | 1V | 150°C | PDF → |
FDD4243onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 14A | 125mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.6V | 150°C | PDF → |
SM4025PSUC-TRGSinopower Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 15A | 19mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 1.9V | — | PDF → |
AP9565BGHAPEC(Advanced Power Elec) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 17A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.812nC | 1V | 150°C | PDF → |
HSU6113HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 13A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1V | 150°C | PDF → |
STP607DSTANSON Tech. Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 12A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 16nC | 1.5V | 150°C | PDF → |
WSF35P06Winsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 13.5A | 100mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.2nC | 1.75V | 150°C | PDF → |
AGM60P85DAGM-Semi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 14A | 80mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 1.6V | 150°C | PDF → |
DMP6180SK3-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 14A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8.1nC | 1.2V | 150°C | PDF → |
DMP6180SK3Q-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 14A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8.1nC | 1.2V | 150°C | PDF → |
FDD5614PMSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 14A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 1.6V | 150°C | PDF → |
FDD4243-F085onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 14A | 48mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 21nC | 1.6V | 175°C | PDF → |
RD3G01BATTL1ROHM Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 15A | 4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 1V | 150°C | PDF → |
AP9575GH-HFAPEC(Advanced Power Elec) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 15A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 1V | — | PDF → |
STP605DSTANSON Tech. Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 15A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 16nC | 1.5V | 150°C | PDF → |
IRFR5505PBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 15A | 82mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.5V | 150°C | PDF → |
IRFR5505TRPBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 15A | 15mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.5V | 150°C | PDF → |
SPD18P06PG-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 15A | 140mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 1V | 150°C | PDF → |
SPD30P06P G-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 15A | 15mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.5V | 150°C | PDF → |
ZXMP6A17K-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 15A | 140mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 1V | 150°C | PDF → |
DMP4047SK3-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 20A | 40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11.2nC | 1V | 150°C | PDF → |
ME20P06-GMATSUKI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 17.7A | 65mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1V | 150°C | PDF → |
25P04HL Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 23A | 8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.6V | — | PDF → |
HSU4113HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 23A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1V | 150°C | PDF → |
JMTK350P04AJiangsu JieJie Microelectronics Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 15A | 27mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 24nC | 1.6V | 175°C | PDF → |
NCE40P15KWuxi NCE Power Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (25nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 15A | 34mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 25nC | 1.5V | 175°C | PDF → |
HSU4103HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 27A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1V | 150°C | PDF → |
WSF40P04Winsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 28A | 32mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 2V | 175°C | PDF → |
ME12P04MATSUKI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 18.6A | 35mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20.3nC | 1.9V | 150°C | PDF → |
ST13P10STANSON Tech. Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 13A | 13mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8.3nC | 2V | 150°C | PDF → |
WSF15P10Winsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 13A | 100mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 3V | 150°C | PDF → |
AP9565KALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 24.5A | 42mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 18nC | 3V | 150°C | PDF → |
DMP6180SK3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 20A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
DMP6180SK3Q-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 20A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
IRFR5305TRPBF(XBLW)XBLW Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 20A | 72mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.8V | 175°C | PDF → |
RSD140P06-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 20A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
AP9561AGHAPEC(Advanced Power Elec) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 39A | 40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7nC | 1V | 150°C | PDF → |
IPD900P06NMInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (27nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 12.7A | 8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 27nC | 3V | 175°C | PDF → |
DMPH6050SK3-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 23.6A | 50mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12nC | 1V | 175°C | PDF → |
DMPH6050SK3Q-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 23.6A | 50mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12nC | 1V | 175°C | PDF → |
NCE55P15KWuxi NCE Power Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 2.6V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (26nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 55V | 15A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 26nC | 2.6V | 175°C | PDF → |
AM9569DA-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 25A | 31mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 1.6V | 150°C | PDF → |
AOD413A(XBLW)XBLW Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 25A | 31mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 1.6V | 150°C | PDF → |
DMP4047SK3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 25A | 31mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 1.6V | 150°C | PDF → |
DMP4051LK3-13-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 25A | 31mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 1.6V | 150°C | PDF → |
NP15P04SLG-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 25A | 31mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 1.6V | 150°C | PDF → |
ZXMP4A16K-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 25A | 31mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 1.6V | 150°C | PDF → |
VBZE20P06VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 25A | 5000mΩ Vgs=0V, 125°C | 10nC | 1V | 175°C | PDF → |
SUD50P04-08-BE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 10.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1V | 175°C | PDF → |
RD3L140SPFRATLROHM Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (27nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 14A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 27nC | 1V | 150°C | PDF → |
RSD140P06TLROHM Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (27nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 14A | 0.01mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 27nC | 1V | — | PDF → |
HSU4115HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 52A | 10.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.6V | 150°C | PDF → |
DMPH4015SK3Q-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (42.7nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 14A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 42.7nC | 2V | 175°C | PDF → |
2SJ529STL-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 30A | 61mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 2V | 175°C | PDF → |
IRFR5305TRLPBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 30A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.8V | — | PDF → |
IRFR9014TR-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 30A | 5000mΩ Vgs=0V, 125°C | 10nC | 2V | 175°C | PDF → |
STD10PF06T4-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 30A | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1V | 175°C | PDF → |
UT2955G-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 30A | 5000mΩ Vgs=0V, 125°C | 10nC | 2V | 175°C | PDF → |
VBE2610NVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 30A | 5000mΩ Vgs=0V, 175°C | 10nC | 2V | 175°C | PDF → |
YJD18GP10AYangzhou Yangjie Elec Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 18A | 75mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.8V | 150°C | PDF → |
VBE2509VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 50V | 50A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1nC | 1V | 175°C | PDF → |
WSF40P06Winsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (25.3nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 17A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 25.3nC | 1.8V | 150°C | PDF → |
DMP4010SK3Q-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (42.7nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 15A | 7.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 42.7nC | 2V | 150°C | PDF → |
IPD900P06NMATMA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (27nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 16.4A | 8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 27nC | 3V | 175°C | PDF → |
ASM6115Sine Microelectronics Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 35A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1V | 150°C | PDF → |
HSU6115HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 35A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1V | 150°C | PDF → |
STD35P6LLF6STMicroelectronics Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 35A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1V | 175°C | PDF → |
HSU4119HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 120A | 3.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1V | 150°C | PDF → |
NCE60P12KWuxi NCE Power Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (37.6nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 12A | 100mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 37.6nC | 1.5V | 175°C | PDF → |
VBZE40P06VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 40A | 48mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 16nC | 1V | 150°C | PDF → |
STD46P4LLF6STD46P4LLF6 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 46A | 12.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 1V | 175°C | PDF → |
BRCS20P04DPFoshan Blue Rocket Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (30nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 20A | 32mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 1V | 150°C | PDF → |
RFD15P06SMHARRIS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 1V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 15A | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | — | PDF → |
WSF45P06Winsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 45A | 52mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.9nC | 1.6V | 150°C | PDF → |
STD36P4LLF6STMicroelectronics Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 36A | 17.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 22nC | 1V | 175°C | PDF → |
AUIRFR5505-IRInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (32nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 55V | 18A | 110mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 32nC | 2V | 150°C | PDF → |
IRFR5505TRLPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (32nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 55V | 18A | 110mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 32nC | 2V | 150°C | PDF → |
ME45P04MATSUKI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (25nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 30A | 15mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 25nC | 1.5V | 150°C | PDF → |
MCU18P10Y-TPMCC(Micro Commercial Components) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 94V | 18A | 110mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 1.8V | 150°C | PDF → |
ME50P06-GMATSUKI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 61A | 14mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1V | 150°C | PDF → |
CJU40P04AJiangsu Changjing Electronics Technology Co., Ltd. Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 40A | 14mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 23nC | 1.5V | 150°C | PDF → |
HSU70P06HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 70A | 7.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.6V | 150°C | PDF → |
SK22P04Shikues Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 22A | 150mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.5V | 150°C | PDF → |
AGM60P90DAGM-Semi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 90A | 8.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 2V | 175°C | PDF → |
IRLR9343PBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (31nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 55V | 20A | 105mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 31nC | 1V | 175°C | PDF → |
SQD19P06-60L_GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (30nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 20A | 500mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 1.5V | 175°C | PDF → |
SQD19P06-60L_T4GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (30nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 20A | 500mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 1.5V | 175°C | PDF → |
NVATS4A104PZT4Gonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (30nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 33A | 19mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 1.2V | 175°C | PDF → |
NVATS5A106PLZT4Gonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (30nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 33A | 19mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 1.2V | 175°C | PDF → |
SPD18P06PGInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (33nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 18.6A | 130mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 33nC | 4V | 175°C | PDF → |
G12P10KGOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (33nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 12A | 200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 33nC | 3V | 150°C | PDF → |
SE01P13KSINO-IC Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 13A | 110mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.9V | 150°C | PDF → |
RU40L10LShenzhen ruichips Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 32A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.8V | 175°C | PDF → |
SUD19P06-60-BE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 18.3A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 1V | 150°C | PDF → |
SUD19P06-60-E3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 18.3A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 1V | 150°C | PDF → |
SUD19P06-60L-E3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 19A | 48mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 1V | 175°C | PDF → |
RD3P130SPFRATLROHM Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 13A | 200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 2.5V | — | Szukaj PDF → |
RD3P130SPTL1ROHM Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 13A | 135mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 1V | 150°C | PDF → |
DTU40P06-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (26nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 35A | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 26nC | 1V | 150°C | PDF → |
FR5505-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (26nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 35A | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 26nC | 1V | 150°C | PDF → |
HM25P06K-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (26nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 35A | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 26nC | 1V | 150°C | PDF → |
IRFR5305TRPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (26nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 35A | 5000mΩ Vgs=10V, 125°C | 26nC | 1V | 150°C | PDF → |
SPD30P06PG-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (26nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 35A | 5000mΩ Vgs=10V, 125°C | 26nC | 1V | 150°C | PDF → |
SUD19P06-60-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (26nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 35A | 5000mΩ Vgs=10V, 125°C | 26nC | 1V | 150°C | PDF → |
VBE2658VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (26nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 35A | 5000mΩ Vgs=10V, 125°C | 26nC | 1V | 150°C | PDF → |
ZXMP6A18KTC-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (26nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 35A | 5000mΩ Vgs=10V, 125°C | 26nC | 1V | 150°C | PDF → |
NCE40P40K-ESElecSuper Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 45A | 17mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | — | PDF → |
SE40P20BSINO-IC Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (72nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 20A | 26mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 72nC | 1.9V | 150°C | PDF → |
RD3G03BATTL1ROHM Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (38nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 35A | 19.1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 38nC | 2.5V | — | Szukaj PDF → |
DMPH4013SK3-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (31nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 55A | 40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 31nC | 1V | 175°C | PDF → |
DMPH4013SK3Q-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (31nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 55A | 40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 31nC | 1V | 175°C | PDF → |
NCE55P15K-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 1V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs(th)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 25A | 5000mΩ Vgs=10V, 125°C | — | — | 150°C | PDF → |
RJE0605JPD-00-J3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 1V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs(th)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 25A | 5000mΩ Vgs=10V, 125°C | — | — | 150°C | PDF → |
SQD19P06-60L-GE3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 1V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs(th)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 25A | 5000mΩ Vgs=10V, 125°C | — | — | 150°C | PDF → |
TJ15S06M3L-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 1V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs(th)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 25A | 5000mΩ Vgs=10V, 125°C | — | — | 150°C | PDF → |
APM4050PUC-TRL-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | 175°C | PDF → |
HM40P04K-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | — | PDF → |
IPD50P04P4-13Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12.6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 3V | 175°C | PDF → |
IPD50P04P4L11Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 10.6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.7V | — | PDF → |
ME12P04-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | — | PDF → |
NP20P04SLG-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | — | PDF → |
P1504EDG-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | — | PDF → |
P2504EDG-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | — | PDF → |
STP413D-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | — | PDF → |
SUD50P04-13L-E3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | — | PDF → |
IRLR9343TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (47nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 55V | 20A | 105mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 47nC | 1V | 175°C | PDF → |
50P04GOODWORK Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 52A | 8.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 2.5V | — | Szukaj PDF → |
NTD20P06LT4Gonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (48nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 74V | 15.5A | 130mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 48nC | 1.5V | 175°C | PDF → |
IPD650P06NMInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (39nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 22A | 8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 39nC | 3V | 175°C | PDF → |
25P06GOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (30nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 32A | 32mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 2.3V | 150°C | PDF → |
NCE60P20KWuxi NCE Power Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 2.8V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (46.1nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 20A | 35mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 46.1nC | 2.8V | 175°C | PDF → |
G12P10KEGOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (50nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 12A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 50nC | 1.7V | — | PDF → |
DI068P04D1-AQDiotec Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 1V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 68A | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | — | Szukaj PDF → |
IPD70P04P4L-08Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 70A | 7.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.7V | 175°C | PDF → |
IRFR5305THXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (48nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 20A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 48nC | 1.8V | — | PDF → |
AP25P06KALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (37.6nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 25A | 49mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 37.6nC | 1.6V | 175°C | PDF → |
WSF50P04Winsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (42.272nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 40A | 40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 42.272nC | 1.5V | 175°C | PDF → |
IPD70P04P4-09Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 73A | 6.48mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 2.03V | 175°C | PDF → |
DMP4015SK3-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (47.5nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 35A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 47.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
DMP4015SK3Q-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (47.5nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 35A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 47.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
AP80P04KALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 1V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 80A | 5.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | — | PDF → |
SUD50P08-25L-E3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (55nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 12.5A | 17mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 55nC | 1V | 175°C | PDF → |
IPD85P04P4-07Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 85A | 7.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 3V | — | PDF → |
45P40GOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (42nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 45A | 45mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 42nC | 1.6V | 150°C | PDF → |
IRFR5410TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (58nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 13A | 205mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 58nC | 4V | 150°C | PDF → |
DMPH4015SK3-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (42.7nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 45A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 42.7nC | 2V | 175°C | PDF → |
AP9575AGH-HF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 1V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 35A | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | 150°C | PDF → |
H7P0601DSTL-E-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 1V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 35A | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | 150°C | PDF → |
SFT1342-TL-E-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 1V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs(th)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 35A | 5000mΩ Vgs=10V, 125°C | — | — | 150°C | PDF → |
IXTY32P05T-TRLLittelfuse/IXYS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (46nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 50V | 32A | 39mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 46nC | 2.5V | 150°C | PDF → |
NCE60P25KWuxi NCE Power Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 2.6V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (46nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 25A | 37mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 46nC | 2.6V | 150°C | PDF → |
SQD50P06-15L_GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (30nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 50A | 15.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 1.5V | 175°C | PDF → |
SQD50P06-15L_T4GE3SQD50P06-15L_T4GE3 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (30nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 50A | 15.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 1.5V | 175°C | PDF → |
SQD50P06-15L-GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (30nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 50A | 15.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 1.5V | 175°C | PDF → |
IXTY18P10TLittelfuse/IXYS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (39nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 18A | 120mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 39nC | 2.5V | 150°C | PDF → |
IXTY18P10T-TRLLittelfuse/IXYS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (39nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 18A | 120mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 39nC | 2.5V | 150°C | PDF → |
NVATS5A113PLZT4Gonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (35nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 38A | 22.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 35nC | 1.2V | 175°C | PDF → |
RD3L03BATTL1ROHM Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (37nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 35A | 41mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 37nC | 2.5V | — | Szukaj PDF → |
G70P04KGOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (42nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 70A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 42nC | 1.4V | 150°C | PDF → |
G180P06KGOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 45A | 15.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 2.5V | — | PDF → |
SQD50P04-09L_T4GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (50nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 100mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 50nC | 1.5V | 175°C | PDF → |
SUD50P04-09L-E3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (50nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 7.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 50nC | 1V | 175°C | PDF → |
BRD50P06Foshan Blue Rocket Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (32nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 50A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 32nC | 1V | 150°C | PDF → |
G65P06KGOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (30nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 65A | 65mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 2.5V | 175°C | PDF → |
NVATS5A107PLZT4Gonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (50nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 55A | 13mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 50nC | 1.2V | 175°C | PDF → |
SPD15P10PLGBTMA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (62nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 15A | 200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 62nC | 1.5V | 175°C | PDF → |
HSU0115HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (44.5nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 18A | 78mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 44.5nC | 1.7V | 150°C | PDF → |
NCE60P45KWuxi NCE Power Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 2.6V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (35.1nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 45A | 31mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 35.1nC | 2.6V | 175°C | PDF → |
SUD50P06-15-GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (50nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 27.5A | 15mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 50nC | 1V | 175°C | PDF → |
GT700P08KGOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 80V | 20A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 3V | — | PDF → |
NCE55P30KWuxi NCE Power Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 2.6V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (56nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 55V | 30A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 56nC | 2.6V | 175°C | PDF → |
IPD50P04P4L11ATMA2Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (59nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 10.6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 59nC | 2.2V | 175°C | PDF → |
NCE40P40KWuxi NCE Power Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (72nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 40A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 72nC | 1.9V | 175°C | PDF → |
HM70P04K-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (60nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 60nC | 1V | 175°C | PDF → |
MDD3752RH-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (60nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 60nC | 1V | 175°C | PDF → |
ME45P04-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (60nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 60nC | 1V | 175°C | PDF → |
P5504EDG-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (60nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 60nC | 1V | 175°C | PDF → |
30P06-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 40A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 1.5V | 175°C | PDF → |
FR5305-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 40A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 1.5V | 175°C | PDF → |
STD35P6LLF6-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 40A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 1.5V | 175°C | PDF → |
STP601D-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 40A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 1.5V | 175°C | PDF → |
STD45P4LLF6AGSTD45P4LLF6AG Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (65.5nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 65.5nC | 1V | 175°C | PDF → |
AUIRFR5305TRLInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (63nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 55V | 31A | 65mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 63nC | 4V | 175°C | PDF → |
IXTY48P05TLittelfuse/IXYS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (53nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 50V | 48A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 53nC | 2V | 150°C | PDF → |
IXTY48P05T-TRLLittelfuse/IXYS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (53nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 50V | 48A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 53nC | 2V | 150°C | PDF → |
G20P08KGOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (48nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 80V | 20A | 58mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 48nC | 1.7V | 150°C | PDF → |
STP601DSTANSON Tech. Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (58nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 30A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 58nC | 1V | 150°C | PDF → |
50P06-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 1V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 50A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | — | 175°C | PDF → |
HM50P06K-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 1V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 50A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | — | 175°C | PDF → |
RJJ0606JPD-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 1V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 50A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | — | 175°C | PDF → |
SQD50P06-15L-GE3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 1V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 50A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | — | 175°C | PDF → |
SUD50P06-15-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 50A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 1.5V | 175°C | PDF → |
SUD50P06-15L-GE3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 50A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 1.5V | 175°C | PDF → |
VBZE50P06VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 50A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 1.5V | 175°C | PDF → |
APM4015PUC-TRL-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (80nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 80nC | 1V | 175°C | PDF → |
FDD4141-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (80nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 80nC | 1V | 175°C | PDF → |
FDD4243-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (80nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 80nC | 1V | 175°C | PDF → |
FDD4685-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (80nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 80nC | 1V | 175°C | PDF → |
RU40L10L-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (80nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 80nC | 1V | 175°C | PDF → |
SM4027PSU-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (80nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 80nC | 1V | 175°C | PDF → |
SUD50P04-09L-E3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (80nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 80nC | 1V | 175°C | PDF → |
SUD50P04-13L-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (80nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 80nC | 1V | 175°C | PDF → |
VBE2412VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (80nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 80nC | 1V | — | PDF → |
SQD50P04-13L_GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (90nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 13mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 90nC | 1.5V | 175°C | PDF → |
SQD50P04-13L_T4GE3SQD50P04-13L_T4GE3 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (90nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 13mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 90nC | 1.5V | 175°C | PDF → |
AUIRFR5305TR-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (68nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 30A | 33mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 68nC | 4.5V | 175°C | PDF → |
SFT1342-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (68nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 30A | 33mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 68nC | 4.5V | 175°C | PDF → |
SQD19P06-60L_GE3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (68nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 30A | 33mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 68nC | 4.5V | 175°C | PDF → |
SUD19P06-60-GE3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (68nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 30A | 33mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 68nC | 4.5V | 175°C | PDF → |
IPD70P04P409ATMA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (70nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 73A | 6.48mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 70nC | 2.03V | 175°C | PDF → |
IPD70P04P409ATMA2Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (70nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 73A | 6.48mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 70nC | 2.03V | 175°C | PDF → |
NP50P04SDG-E1-AYRENESAS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (100nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 9.6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 100nC | 1.6V | — | PDF → |
IPD380P06NMATMA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (63nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 35A | 38mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 63nC | 4V | 175°C | PDF → |
SQD40131EL_GE3SQD40131EL_GE3 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (115nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 11.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 115nC | 2.5V | 175°C | Szukaj PDF → |
FDD9507L-F085onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (80nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 80A | 4.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 80nC | 2V | 175°C | PDF → |
NCE60P55KWuxi NCE Power Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 2.6V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (49.8nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 55A | 23mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 49.8nC | 2.6V | 175°C | PDF → |
IPD70P04P4L08ATMA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (92nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 70A | 7.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 92nC | 1.7V | 175°C | PDF → |
IPD70P04P4L08ATMA2Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (92nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 70A | 7.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 92nC | 1.7V | 175°C | PDF → |
NCE60P50K(TOKMAS)Tokmas Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (53nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 50A | 24mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 53nC | 1.8V | 175°C | PDF → |
IPD85P04P407ATMA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (89nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 85A | 7.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 89nC | 3V | 175°C | PDF → |
IPD85P04P407ATMA2Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (89nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 85A | 7.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 89nC | 3V | 175°C | PDF → |
SUD50P04-08-GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (159nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 159nC | 1V | 150°C | PDF → |
RD3G07BATTL1ROHM Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (105nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 70A | 7.1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 105nC | 2.5V | — | Szukaj PDF → |
NCE40P70KWuxi NCE Power Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (106nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 70A | 7.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 106nC | 1.9V | 150°C | PDF → |
17P10L-TN3-RUTC(Unisonic Tech) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (140nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 17A | 180mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 140nC | 2V | — | PDF → |
SQD40081EL_GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (210nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 50A | 8.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 210nC | 2V | 175°C | PDF → |
NVATS5A114PLZT4Gonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (55nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 60A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 55nC | 1.2V | 175°C | PDF → |
VBZE50P04VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (240nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 55A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 240nC | 1.5V | — | PDF → |
DMP4051LK3-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- UWAGA: Id 10.5A < 12A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 10.5A | 41mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 1V | 150°C | PDF → |
IRFR9020TRLPBFVishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- UWAGA: Id 9.9A < 12A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 50V | 9.9A | 280mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 18nC | 2V | 150°C | PDF → |
IRFR9020TRPBFVishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- UWAGA: Id 9.9A < 12A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 50V | 9.9A | 280mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 18nC | 2V | 150°C | PDF → |
AUIRFR9024N-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- UWAGA: Id 10A < 12A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 10A | 140mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 1V | 150°C | PDF → |
DMP6185SK3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- UWAGA: Id 10A < 12A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 10A | 140mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 1V | 150°C | PDF → |
FQD7P06-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- UWAGA: Id 10A < 12A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 10A | 140mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 1V | 150°C | PDF → |
IPD25DP06NM-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- UWAGA: Id 10A < 12A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 10A | 140mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1V | 150°C | PDF → |
IPD40DP06NMATMA1-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- UWAGA: Id 10A < 12A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 10A | 140mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 1V | 150°C | PDF → |
IRFR9014TRPBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- UWAGA: Id 10A < 12A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 10A | 140mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 1V | 150°C | PDF → |
IRFR9020TRPBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- UWAGA: Id 10A < 12A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 10A | 140mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 1V | 150°C | PDF → |
IRFR9024NTRHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- UWAGA: Id 10A < 12A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 10A | 120mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.6V | 150°C | PDF → |
NTD20P06L-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- UWAGA: Id 10A < 12A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 10A | 140mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 1V | 150°C | PDF → |
NTD2955-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- UWAGA: Id 10A < 12A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 10A | 140mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 1V | 150°C | PDF → |
RD3L01BATTL1ROHM Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- UWAGA: Id 10A < 12A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 10A | 84mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15.2nC | 2.5V | — | Szukaj PDF → |
STD10PF06-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- UWAGA: Id 10A < 12A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 10A | 140mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 1V | 150°C | PDF → |
STD15P6F6AGSTD15P6F6AG Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- UWAGA: Id 10A < 12A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 10A | 130mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 2V | 175°C | PDF → |
STP607D-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- UWAGA: Id 10A < 12A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 10A | 140mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 1V | 150°C | PDF → |
SVD2955-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- UWAGA: Id 10A < 12A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 10A | 140mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 1V | 150°C | PDF → |
AUIRFR9024NTRLInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 11A < 12A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 55V | 11A | 175mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 19nC | 4V | 150°C | Szukaj PDF → |
IRFR9024NTRLPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 11A < 12A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 55V | 11A | 175mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 19nC | 4V | 150°C | PDF → |
IRFR9024NTRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- UWAGA: Id 11A < 12A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 55V | 11A | 175mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 19nC | 2V | 150°C | PDF → |
ZXMP6A18KTCDiodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 10.4A < 12A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 10.4A | 55mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 23nC | 1V | 150°C | PDF → |
ZXMP4A16KTCDiodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 9.9A < 12A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (29.6nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 9.9A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 29.6nC | 1V | 150°C | PDF → |
NCE60P10KWuxi NCE Power Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 10A < 12A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (25nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 10A | 135mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 25nC | 1V | 175°C | PDF → |
SQD90P04_9M4LT4GE3SQD90P04_9M4LT4GE3 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (50nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Id
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | — | 9.4mΩ Vgs=0V, 125°C | 50nC | 1.5V | — | PDF → |
STD10P6F6STMicroelectronics Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 10A < 12A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (30nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 10A | 1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 2V | 175°C | PDF → |
SQD40061EL-T4_GE3SQD40061EL-T4_GE3 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (280nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Id
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | — | 2000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 280nC | 2V | — | PDF → |
STD10P10F6STMicroelectronics Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 10A < 12A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (80nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 100V | 10A | 1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 80nC | 2V | 175°C | PDF → |
HSU100P04HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (115nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 100A | 4.6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 115nC | 1.8V | 150°C | PDF → |
IPD90P04P405Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (154nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 90A | 4.7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 154nC | 3V | 175°C | PDF → |
IPD90P04P405ATMA2Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (154nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 90A | 4.7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 154nC | 3V | 175°C | PDF → |
SQD90P04-9M4L_GE3VISHAY Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (155nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 90A | 9.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 155nC | 2.5V | 175°C | PDF → |
SQD50P08-28_GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 80V | 48A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 3V | 175°C | PDF → |
SQD50P08-28-T4_GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 80V | 48A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 3V | 175°C | PDF → |
SQD50P08-25L_GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 80V | 50A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 2V | 175°C | PDF → |
IPD90P04P4L04ATMA2Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (176nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 90A | 4.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 176nC | 1.7V | 175°C | PDF → |
HSU6117HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (85nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 60A | 14mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 85nC | 1V | 150°C | PDF → |
NVATS5A302PLZT4Gonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (70nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 80A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 70nC | 1.2V | 175°C | PDF → |
SQD40061EL_GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (280nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 40V | 100A | 2000mΩ Vgs=10V, 125°C | 280nC | 2V | 175°C | PDF → |
VBE2625VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (165nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 40A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 165nC | 1.5V | 175°C | PDF → |
SUD50P08-25L-E3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (50nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 80V | 50A | 21mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 50nC | 5.5V | 175°C | PDF → |
RD3L07BATTL1ROHM Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (105nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 70A | 12.7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 105nC | 2.5V | — | Szukaj PDF → |
SUD50P06-15-BE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (165nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 60V | 50A | 15mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 165nC | 1V | 175°C | PDF → |
STD40P8F6AGSTMicroelectronics Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (73nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 80V | 40A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 73nC | 2V | 175°C | PDF → |
HSU8119HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (190nC vs 16.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | TO-252 6.5×6.1mm | 80V | 70A | 13.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 190nC | 1.8V | 150°C | PDF → |