UT3401ZG-AE3-RUTC(Unisonic Tech) ↓ Twoj uklad | P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.2A | 80mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1V | 150°C | PDF → |
AP3401ALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 1V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.2A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | 150°C | PDF → |
ASDM3401ZA-RASDsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.2A | 1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.5V | 150°C | PDF → |
CJ3401Jiangsu Changjing Electronics Technology Co., Ltd. Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.2A | 1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.7V | 150°C | PDF → |
CJ3401AJiangsu Changjing Electronics Technology Co., Ltd. Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.2A | 1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.7V | 150°C | PDF → |
CJK3401Jiangsu Changjing Electronics Technology Co., Ltd. Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.2A | 1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.7V | 150°C | PDF → |
HD3401High Diode Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.2A | 44mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.7V | 150°C | PDF → |
SL3401ASlkor(SLKORMICRO Elec.) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.2A | 50mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.6V | 150°C | PDF → |
BSS308PEH6327-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.2A | 45mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1V | — | PDF → |
DMP3056L-7-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.2A | 45mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1V | — | PDF → |
DMP3068L-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.2A | 45mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1V | — | PDF → |
DMP3099L-7-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.2A | 45mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1V | — | PDF → |
DMP3130L-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.2A | 45mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1V | — | PDF → |
IRLML5203TRPBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.2A | 45mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1V | — | PDF → |
NTR4171P-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.2A | 45mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1V | — | PDF → |
SI2307AHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.2A | 45mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1V | 150°C | PDF → |
SM3401SRL-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.2A | 45mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1V | — | PDF → |
HSS3401AHUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.3A | 53mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1V | 150°C | PDF → |
SI2371EDS-T1-GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.8nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.8A | 45mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.8nC | 2.2V | 150°C | PDF → |
CJ3401-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 1V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | — | PDF → |
DMP3056L-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.8nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.3A | 50mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.8nC | 1V | 150°C | PDF → |
SL2319ASlkor(SLKORMICRO Elec.) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.3nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 40V | 4.4A | 90mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.3nC | 1V | 150°C | PDF → |
AP3407AIA Power microelectronics Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.2A | 50mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 1.6V | 150°C | PDF → |
AO3407AAlpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.3A | 48mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
DMG3401LSN-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6A | 35mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1V | — | PDF → |
SI2347DS-T1-GE3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6A | 35mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1V | — | PDF → |
FS3401AFUXINSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.2nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.2A | 68mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.2nC | 1.4V | 150°C | PDF → |
SE3401Leiditech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.2nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.4A | 45.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.2nC | 0.9V | 150°C | PDF → |
YJL3401AYangzhou Yangjie Elec Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.2nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.4A | 45.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.2nC | 0.9V | 150°C | PDF → |
AM2305PE-T1-PF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.4A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | — | PDF → |
AM2319P-T1-PF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.4A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | — | PDF → |
AM3401E3VR-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.4A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | 150°C | PDF → |
FDN304PZ-NL-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.4A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | 150°C | PDF → |
IRLML5203TRPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.4A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | 150°C | PDF → |
IRLML9301TRPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.4A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | 150°C | PDF → |
QM3001K-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.4A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | 150°C | PDF → |
SI2319DS-T1-GE3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.4A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | 150°C | PDF → |
SI2335DS-T1-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.4A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | 150°C | PDF → |
SSC8035GS6-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.4A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | 150°C | PDF → |
STS3415-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.4A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | 150°C | PDF → |
VB2355VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.4A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | 150°C | PDF → |
ZXMP3F30FH-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.4A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | 150°C | PDF → |
DW3407DELTAMOS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 1V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (8.2nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.2A | 43mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8.2nC | — | — | Szukaj PDF → |
2303-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | — | PDF → |
2SJ486ZU-TL-E-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | — | PDF → |
2SJ621-T1B-A-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | — | PDF → |
AO3401-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | 150°C | PDF → |
AO3401A-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | 150°C | PDF → |
AO3407-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | 150°C | PDF → |
AO3407A-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | — | PDF → |
AO3409-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | — | PDF → |
AO3421E-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | — | PDF → |
AP2303GN-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | — | PDF → |
AP2303N-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | — | PDF → |
AP2305AGN-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | 150°C | PDF → |
AP2309AGN-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | 150°C | PDF → |
AP2309GN-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | — | PDF → |
AP2321GN-HF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | — | PDF → |
APM2305AC-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | 150°C | PDF → |
APM2305BAC-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | — | PDF → |
APM2309AC-TRL-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | — | PDF → |
BSS308PE-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | 150°C | PDF → |
CES2307-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | 150°C | PDF → |
DMG3415U-7-F-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | — | PDF → |
DMP3099L-7-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | 150°C | PDF → |
FDN304P-NL-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | 150°C | PDF → |
G2309-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | 150°C | PDF → |
GE3401-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | 150°C | PDF → |
GV3407-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | — | PDF → |
HM2341B-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | — | PDF → |
HM3415E-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | — | PDF → |
IRLML5103GTRPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | — | PDF → |
LP2305LT1G-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | — | PDF → |
MI3407-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | — | PDF → |
MT3401-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | — | PDF → |
NTR4171PT1G-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | 150°C | PDF → |
NTR4502PT1G-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | 150°C | PDF → |
P5103EMG-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | 150°C | PDF → |
PMV32UP-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | — | PDF → |
RQJ0303PGDQATL-E-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | 150°C | PDF → |
RRR040P03TL-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | 150°C | PDF → |
RU20P4C-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | 150°C | PDF → |
SI2307BDS-T1-GE3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | — | PDF → |
SI2307CDS-T1-GE3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 47mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | — | PDF → |
SI2307DS-T1-GE3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | — | PDF → |
SI2319CDS-T1-GE3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | 150°C | PDF → |
SI2323CDS-T1-GE3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | 150°C | PDF → |
SI2323DDS-T1-GE3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | 150°C | PDF → |
SI2335DS-T1-E3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | — | PDF → |
SI2369DS-T1-GE3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | — | PDF → |
SI2371EDS-T1-GE3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | — | PDF → |
SI2399CDS-T1-GE3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | — | PDF → |
SM2323PSA-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | 150°C | PDF → |
SMC3407S-TRG-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | — | PDF → |
SMG2339P-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | 150°C | PDF → |
SPP2303W-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | — | PDF → |
SPP2341S23RG-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | 150°C | PDF → |
SPP3407DS23RGB-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | — | PDF → |
SSC8033GS6-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | 150°C | PDF → |
SSM3J14T-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | 150°C | PDF → |
SSM3J332R-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | 150°C | PDF → |
ST2315S23RG-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | — | PDF → |
ST2315SRG-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | — | PDF → |
ST2319SRG-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | — | PDF → |
VBZ3401VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | 150°C | PDF → |
VBZ3401BVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 0.5V | 150°C | PDF → |
WPM3005-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | — | PDF → |
JMTL3401AJiangsu JieJie Microelectronics Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (8.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.2A | 48mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8.5nC | 1V | 150°C | PDF → |
MDD3401MDD(Microdiode Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (8.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.2A | 55mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8.5nC | 1.2V | 150°C | PDF → |
NCE3401Wuxi NCE Power Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (8.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.2A | 72mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8.5nC | 1V | 150°C | PDF → |
VBZ3401XVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.8nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.8nC | 1V | 150°C | PDF → |
SL2347Slkor(SLKORMICRO Elec.) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5A | 45mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.5nC | 1.5V | 155°C | PDF → |
3401LGOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.2A | 95mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.5nC | 1V | 150°C | PDF → |
BLM3401BL(Shanghai Belling) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.2A | 50mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.5nC | 0.7V | 150°C | PDF → |
NCE3401AYWuxi NCE Power Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.4A | 61mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.5nC | 1V | 150°C | PDF → |
SM3401SRLSPS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.4A | 52mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.5nC | 1V | 150°C | PDF → |
JY3407AXShenzhen JingYang Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.3A | 100mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1V | 150°C | PDF → |
SI2369BDS-T1-GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5.1V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.2nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 27mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.2nC | 5.1V | 150°C | PDF → |
AO3487Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.3A | 48mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 1.9V | 150°C | PDF → |
SI2369DS-T1-GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.4A | 29mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.6nC | 4V | 150°C | PDF → |
PJM2319PSAPJSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 40V | 4.4A | 66mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7nC | 2V | 150°C | PDF → |
PMV50EPEARNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12.819nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.2A | 120mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.819nC | 2V | 150°C | PDF → |
BLM3407ABL(Shanghai Belling) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (14nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.3A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 14nC | 1.5V | 150°C | PDF → |
LPSC3487LONTEN Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (14.8nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.3A | 4.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 14.8nC | 1.7V | 150°C | PDF → |
G3035GOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.6A | 4.6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 1.5V | 150°C | PDF → |
3401HGOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.3A | 6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.5nC | 1V | 150°C | PDF → |
ME2325-GMATSUKI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (17.4nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.3A | 38mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 17.4nC | 1V | — | PDF → |
SI2343CDS-T1-BE3Vishay / Siliconix Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (21nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.2A | 45mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 21nC | 2.5V | 150°C | Szukaj PDF → |
HL3401Ahongjiacheng Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (22nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.2A | 100mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 22nC | 1.3V | 150°C | PDF → |
SM3407SRLSPS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (28nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.3A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 28nC | 1.4V | 150°C | PDF → |
SQ2319ADS-T1_BE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10.516nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 40V | 4.6A | 68mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10.516nC | 2V | 150°C | PDF → |
SQ2319ADS-T1_GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10.516nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 40V | 4.6A | 68mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10.516nC | 2V | 150°C | PDF → |
SI2319AUMW(Youtai Semiconductor Co., Ltd.) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (17nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 40V | 4.4A | 95mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 17nC | 1V | 150°C | PDF → |
AP2321GN-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (24nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.4A | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 24nC | 2V | 150°C | PDF → |
CES2331-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 1V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (24nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.4A | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 24nC | — | 150°C | PDF → |
SI2319CDS-T1-GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (21nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 40V | 4.4A | 77mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 21nC | 2.5V | 150°C | PDF → |
DMP4065S-7-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (14nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 40V | 5A | 40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 14nC | 1.9V | 150°C | PDF → |
SI2393DS-T1-GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5.7V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (25.2nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.1A | 22.7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 25.2nC | 5.7V | 150°C | PDF → |
AP40P05ALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (60nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 40V | 5A | 85mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 60nC | 1.6V | 150°C | PDF → |
SE3407SINO-IC Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.5V | 150°C | PDF → |
PJA3407_R1_00001PANJIT International Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- UWAGA: Id 3.8A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.8A | 3.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.36V | 150°C | PDF → |
PJA3401_R1_00001PANJIT International Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- UWAGA: Id 3.6A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.6A | 3.6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 0.97V | 150°C | PDF → |
PJA3401A_R1_00001PANJIT International Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- UWAGA: Id 3.6A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.6A | 3.6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1V | 150°C | PDF → |
PJA3405_R1_00001PANJIT International Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- UWAGA: Id 3.6A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.6A | 3.6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.37V | 150°C | PDF → |
SI2307Guangdong Hottech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- UWAGA: Id 3.6A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.6A | 73mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1.3nC | 1V | 150°C | PDF → |
TSM650P03CX RFGTaiwan Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 0.7V | 150°C | PDF → |
WPM3407-3/TRWILLSEMI(Will Semicon) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 3.7A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.7A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 2V | 150°C | PDF → |
AO3407A-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 1.2V | — | PDF → |
AS3407AnBon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 65mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | 150°C | PDF → |
CJ3407Jiangsu Changjing Electronics Technology Co., Ltd. Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | 150°C | PDF → |
FS3401MFOSAN Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 4250mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.6V | 150°C | PDF → |
GL3401KGL Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.5V | 150°C | PDF → |
MEM2307XGMICRONE(Nanjing Micro One Elec) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 4.1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.3V | — | PDF → |
PJM3401PSAPJSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | 150°C | PDF → |
PJM3407PSAPJSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 50mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 2V | 150°C | PDF → |
SL2307Slkor(SLKORMICRO Elec.) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | 150°C | PDF → |
3407/HShenzhen Fuman Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 39mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 1.5V | 150°C | PDF → |
MMFTP3401-AQDiotec Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (10)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (SOT-23) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SOT-23) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- oryginal to logic-level (Vgs(th) 1V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- UWAGA: Id 4A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | SOT-23 | 30V | 4A | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | — | Szukaj PDF → |
SKML5203Shikues Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 4A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 120mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.3V | 125°C | PDF → |
SL2343Slkor(SLKORMICRO Elec.) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 4A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | 150°C | PDF → |
AO3407-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
BSS308PE-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
BSS314PEH6327-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
DMG2307L-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
DMP3125L-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
DMP3160L-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
FDN358P-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
FDN360P-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
HXY3407AIHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
IRLML5103PBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
IRLML9301TRPBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
IRLML9303TRPBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
KMB3D0P30SA-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
NDS352AP-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
NDS356AP-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
NTR4502P-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
SI2303CDS-T1-GE3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
SI2307BDS-T1-E3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
SI2307BDS-T1-GE3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
SI2307CDS-T1-E3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
SI2307CDS-T1-GE3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
SI2343DS-T1-E3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
SI2343DS-T1-GE3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
SM3407SRL-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
SQ2303ES-T1_GE3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
ST2303SRG-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
ZXM61P03F-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
ZXMP3A13F-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → |
DMG2307L-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.8A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.8A | 70mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 1V | 150°C | PDF → |
DMP3098L-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.8A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.8A | 70mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 2.1V | 150°C | PDF → |
DMP3098LQ-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.8A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.8A | 70mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 1V | 150°C | PDF → |
VBZ3401AVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4.4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Vds 25V < 30V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 25V | 5.6A | 4200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 4.4V | — | PDF → |
SI2371EDS-T1-BE3Vishay Siliconix Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.7A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.8nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.7A | 45mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.8nC | 2.2V | 150°C | PDF → |
DMP3099L-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.8A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.2nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.8A | 65mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.2nC | 1V | 150°C | PDF → |
DMP3099L-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.8A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.2nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.8A | 65mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.2nC | 1V | 150°C | PDF → |
IRLML9301TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.6A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.8nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.6A | 400mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.8nC | 1.3V | 150°C | PDF → |
FS3407FUXINSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.8nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 48mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.8nC | 1.4V | 150°C | PDF → |
JMTL3407AJiangsu JieJie Microelectronics Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.8nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 42mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.8nC | 1.5V | 150°C | PDF → |
ZXMP3F30FHTADiodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 80mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7nC | 1V | 150°C | PDF → |
WPM3407-ESElecSuper Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.8A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.8A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 1.5V | 150°C | PDF → |
MDD3407MDD(Microdiode Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (8.2nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8.2nC | 1.2V | 150°C | PDF → |
ST2341A-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.5A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 4V | — | PDF → |
DMP3068L-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.9A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.3nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.9A | 120mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.3nC | 1.3V | 150°C | PDF → |
SL3401Slkor(SLKORMICRO Elec.) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (8.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 72mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8.5nC | 1V | 150°C | PDF → |
SI2347DS-T1-GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 3.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.8A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.9nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.8A | 42mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.9nC | 3.9V | 150°C | PDF → |
DMP3130LQ-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.5A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.9nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.5A | 59mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.9nC | 1.3V | 150°C | PDF → |
KAO3407KUU Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.2nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 4880mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.2nC | 1V | 150°C | PDF → |
KDMP3099L-7KUU Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.2nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 4880mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.2nC | 1V | 150°C | PDF → |
KSI2343CDS-T1-GE3KUU Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.2nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 4880mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.2nC | 1V | 150°C | PDF → |
SL3401SSlkor(SLKORMICRO Elec.) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (8.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 130mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8.5nC | 1V | 150°C | PDF → |
AO3401Alpha & Omega Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 50mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.3V | 150°C | PDF → |
AO3401AAlpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.4nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.4nC | 0.9V | 150°C | PDF → |
AP3407ALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 55mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 1.5V | 150°C | PDF → |
YJL3407AQYangzhou Yangjie Elec Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11.65nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 36mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11.65nC | 1.5V | 150°C | PDF → |
HL3407Ahongjiacheng Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 50mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12nC | 1.5V | 150°C | PDF → |
NCE3407Wuxi NCE Power Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.5nC | 1.5V | 150°C | PDF → |
SL3407Slkor(SLKORMICRO Elec.) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.5nC | 1.5V | 150°C | PDF → |
WPM3407-MSMSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 95mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.5nC | 1.5V | 150°C | PDF → |
BLM3407BL(Shanghai Belling) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (14nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 14nC | 1.5V | 150°C | PDF → |
KAO3401KUU Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (14nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 14nC | 0.6V | 150°C | PDF → |
SQ2389ES-T1_BE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (8.212nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 40V | 4.1A | 84mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8.212nC | 2V | 175°C | PDF → |
SQ2389ES-T1_GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (8.212nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 40V | 4.1A | 84mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8.212nC | 2V | 175°C | PDF → |
SSM3J334R,LF(TTOSHIBA Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 54mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 0.8V | — | PDF → |
DMG3401LSN-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.7A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.7A | 41mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11.6nC | 1V | 150°C | PDF → |
LP3401LT1GLRC Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.5A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.4nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.5A | 3401mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.4nC | 1V | 150°C | PDF → |
MEM2303M3GMICRONE(Nanjing Micro One Elec) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.5A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.5A | 4.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.5nC | 1V | 150°C | PDF → |
WST3403Winsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.5A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.7nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.7nC | 0.7V | 150°C | PDF → |
LPSC3481LONTEN Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (19.3nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 19.3nC | 0.95V | 150°C | PDF → |
AO3481Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (20nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 50mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 0.9V | 150°C | PDF → |
SI2343DS-T1-E3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 4A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (21nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 21nC | 1V | 150°C | PDF → |
DMP4065SQ-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.4A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.1nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 40V | 3.4A | 80mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.1nC | 1V | 150°C | PDF → |
ATM3407PSAAgertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.7A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.7A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 1.5V | 150°C | PDF → |
LP3407LT1GLRC Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- UWAGA: Vds 25V < 30V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- UWAGA: Id 4.1A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 25V | 4.1A | 70mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 2V | 150°C | PDF → |
SI2347DS-T1-BE3Vishay Siliconix Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 3.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.8A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (22nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.8A | 42mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 22nC | 3.9V | 150°C | PDF → |
ME2307MATSUKI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.5A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (14nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.5A | 58mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 14nC | 1V | 150°C | PDF → |
MEM2307M3GMICRONE(Nanjing Micro One Elec) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.5A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (14.3nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.5A | 4.1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 14.3nC | 1.3V | 150°C | PDF → |
PMV41XPARPMV41XPAR Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- UWAGA: Vds 28V < 30V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- UWAGA: Id 4A < 4.2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (21nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SOT-23 2.9×1.6mm | 28V | 4A | 50mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 21nC | 1V | 150°C | PDF → |