2302MOT ↓ Twoj uklad | N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 0.65nC | 0.95V | 150°C | PDF → |
HD2302High Diode Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.1A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 0.65nC | 0.95V | 150°C | PDF → |
KY2302SKY Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.95V vs 7V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2A | 53mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 0.65nC | 7V | 150°C | PDF → |
SE2302SINO-IC Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3A | 80mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 0.65nC | 1.2V | 150°C | PDF → |
SK335NShikues Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2A | 75mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.4V | 125°C | PDF → |
LN2302LT1GLRC Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.3A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 2V | 150°C | PDF → |
FSS2302SFOSAN Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.5A | 80mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.5V | 150°C | PDF → |
SL2302SSlkor(SLKORMICRO Elec.) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.6A | 85mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.4V | 150°C | PDF → |
TPM2302LS3TECH PUBLIC Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.6A | 85mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.5V | 150°C | PDF → |
BSS806NEH6327XTSA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (1.7nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.3A | 57mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1.7nC | 0.75V | 150°C | PDF → |
BSS806NH6327XTSA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (1.7nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.3A | 57mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1.7nC | 0.75V | 150°C | PDF → |
IRLML2030TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (1nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 2.7A | 260mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1nC | 1.31V | 150°C | PDF → |
PJA3430_R1_00001PANJIT International Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 0.8V | 150°C | PDF → |
2302VHL Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | 162°C | PDF → |
JSM2302JSMSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3A | 1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.5V | 150°C | PDF → |
JSM2302A-A29TJSMSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3A | 1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.5V | 150°C | PDF → |
JSM2302A-A2SHBJSMSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3A | 1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.5V | 150°C | PDF → |
MEM2302XGMICRONE(Nanjing Micro One Elec) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3A | 3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.53V | 150°C | PDF → |
DMG2302UK-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (1.4nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.8A | 61mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1.4nC | 0.6V | 150°C | PDF → |
DMG2302UKQ-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (1.4nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.8A | 61mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1.4nC | 0.6V | 150°C | PDF → |
BRCS2302AMAFoshan Blue Rocket Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.5V | — | PDF → |
BRCS2302MAFoshan Blue Rocket Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3A | 34mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.5V | — | PDF → |
LN2292LT1GLRC Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 0.95V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3A | 200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | 150°C | PDF → |
SK327NShikues Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3A | 75mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.4V | 125°C | PDF → |
SK337NShikues Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3A | 75mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.4V | 125°C | PDF → |
DMN3300U-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 2A | 150mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | 150°C | PDF → |
DMN3200U-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 2.2A | 90mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | 150°C | PDF → |
HX2302AHX(hengjiaxing) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (1.7nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.5A | 58mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1.7nC | 1.2V | 150°C | PDF → |
DMN2230U-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.3nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2A | 145mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.3nC | 1V | 150°C | PDF → |
DMN2230UQ-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.3nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2A | 145mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.3nC | 1V | 150°C | PDF → |
AS2304AnBon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 2.5A | 142mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.5V | 150°C | PDF → |
PJM2302NSA-SPJSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.95nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2A | 3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.95nC | 0.4V | 150°C | PDF → |
BSS306NH6327XTSA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (1.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 2.3A | 57mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
SK359ANShikues Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (1.1nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3A | 65mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1.1nC | 0.6V | 125°C | PDF → |
DMG2302U-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.9nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.3A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.9nC | 0.75V | 150°C | PDF → |
DMN2230U-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.9nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.3A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.9nC | 0.75V | 150°C | PDF → |
FDV305N-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.9nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.3A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.9nC | 0.75V | 150°C | PDF → |
IRLML2402PBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.9nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.3A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.9nC | 0.75V | 150°C | PDF → |
MGSF1N02LT1-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.9nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.3A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.9nC | 0.75V | 150°C | PDF → |
MGSF2N02EL-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.9nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.3A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.9nC | 0.75V | 150°C | PDF → |
MMBF0201NL-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.9nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.3A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.9nC | 0.75V | 150°C | PDF → |
MVGSF1N02L-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.9nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.3A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.9nC | 0.75V | 150°C | PDF → |
SI2302ADS-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.9nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.3A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.9nC | 0.75V | 150°C | PDF → |
SI2302CDS-T1-E3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.9nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.3A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.9nC | 0.75V | 150°C | PDF → |
SI2302CDS-T1-GE3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.9nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.3A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.9nC | 0.75V | 150°C | PDF → |
SI2302DDS-T1-GE3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.9nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.3A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.9nC | 0.75V | 150°C | PDF → |
XP151A13A0MR-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.9nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.3A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.9nC | 0.75V | 150°C | PDF → |
ZXMN2A01F-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.9nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.3A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.9nC | 0.75V | 150°C | PDF → |
ZXMN2B01F-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.9nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.3A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.9nC | 0.75V | 150°C | PDF → |
ZXMN2F34FH-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.9nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.3A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.9nC | 0.75V | 150°C | PDF → |
FSS2302MFOSAN Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.3A | 50mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.5V | 150°C | PDF → |
NTR4503NT1Gonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3.67nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2A | 110mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.67nC | 1.01V | 150°C | PDF → |
NVTR4503NT1Gonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3.67nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2A | 85mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.67nC | 1.01V | 150°C | PDF → |
SKML2803Shikues Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 0.75V | 150°C | PDF → |
SI2302 A2YONGYUTAI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.5V | 150°C | PDF → |
SL2302Slkor(SLKORMICRO Elec.) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.5V | 150°C | PDF → |
SI2302 2.5AYONGYUTAI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.9nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.5A | 4050mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.9nC | 1.2V | 150°C | PDF → |
FDN327Nonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.56nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2A | 120mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.56nC | 0.4V | 150°C | PDF → |
BSS205NH6327XTSA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3.2nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.5A | 50mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.2nC | 1.2V | 150°C | PDF → |
SSM3K329R,LFTOSHIBA Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.95V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (1nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.5A | 158mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1nC | 3V | 150°C | PDF → |
FS2302AFUXINSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.9nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.6A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.9nC | 1.5V | 150°C | PDF → |
WTM2302WPMtek(Wei Pan Microelectronics) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.9nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.6A | 2.6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.9nC | 0.75V | 150°C | PDF → |
BSS306NH6327BSS306NH6327 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.3A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 1.21V | — | PDF → |
HX2300AHX(hengjiaxing) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.5A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.5nC | 0.65V | 150°C | PDF → |
SL2306Slkor(SLKORMICRO Elec.) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 3040mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.5V | 150°C | PDF → |
ZXMN3A01FTADiodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.3nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 2A | 120mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.3nC | 1V | 150°C | PDF → |
SI2304DSKEXIN Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.95V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.4nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 2A | 117mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.4nC | 3V | 150°C | PDF → |
SI2304DS,215Vishay Siliconix Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.95V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.4nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 2A | 117mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.4nC | 3V | 150°C | Szukaj PDF → |
ZXMN2B01FTADiodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.8nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.4A | 100mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.8nC | 0.41V | 150°C | PDF → |
SL2300Slkor(SLKORMICRO Elec.) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.2A | 40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.45V | 150°C | PDF → |
BSS205NH6327-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.9nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.8A | 44mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.9nC | 0.75V | 150°C | PDF → |
SI2302-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.9nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.8A | 55mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.9nC | 0.75V | 150°C | PDF → |
SM2302SRL-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.9nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.8A | 44mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.9nC | 0.75V | 150°C | PDF → |
ZXMN2F30FH-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.9nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.8A | 44mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.9nC | 0.75V | 150°C | PDF → |
ZXMN2A01FTADiodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.2A | 120mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9nC | 0.7V | 150°C | PDF → |
KI2308DSKEXIN Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2A | 160mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.5V | 150°C | PDF → |
RU207CShenzhen ruichips Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2A | 6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 0.5V | 150°C | PDF → |
NP2302DVR-GNATLINEAR Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.7nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3A | 31.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.7nC | 0.75V | 150°C | PDF → |
FSS2300MFOSAN Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.5A | 3240mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.5V | 150°C | PDF → |
SI2302AI-MSMSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.75nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3A | 80mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.75nC | 0.5V | 156°C | PDF → |
CES2342CET(Chino-Excel Tech) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.6A | 37mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | — | PDF → |
AO3400-EDHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.9nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3A | 55mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.9nC | 0.75V | — | PDF → |
BSS214NH6327-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.9nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3A | 48mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.9nC | 0.75V | 150°C | PDF → |
BSS806NEH6327-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.9nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3A | 48mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.9nC | 0.75V | 150°C | PDF → |
BSS806NH6327-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.9nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3A | 48mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.9nC | 0.75V | 150°C | PDF → |
DMN2075U-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.9nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.9nC | 0.75V | — | PDF → |
HXY2302AIHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.9nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3A | 35mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.9nC | 0.75V | — | PDF → |
SI2312BDS-T1-E3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.9nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.9nC | 0.75V | — | PDF → |
SI2312BDS-T1-GE3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.9nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.9nC | 0.75V | — | PDF → |
SI2374DS-T1-GE3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.9nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.9nC | 0.75V | — | PDF → |
YJL2302BYangzhou Yangjie Elec Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.9nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3A | 40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.9nC | 0.78V | 150°C | PDF → |
ZXMN3B01FTADiodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.93nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 2A | 150mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.93nC | 0.7V | 150°C | PDF → |
SI2302CDS-T1-GE3-MSMSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 0.4V | — | PDF → |
AP2302GN-HFAPEC(Advanced Power Elec) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.2A | 100mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 0.5V | — | PDF → |
LN2312LT1GLRC Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.9A | 41mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.6V | 140°C | PDF → |
AP2312ALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 0.95V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 32mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | 150°C | PDF → |
KI2300KEXIN Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | 125°C | PDF → |
KY2312KY Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 16mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.65V | 150°C | PDF → |
SL2312Slkor(SLKORMICRO Elec.) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 35mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.45V | 150°C | PDF → |
PMV65UNERPMV65UNER Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3.86nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.8A | 73mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.86nC | 2V | 150°C | PDF → |
SI2302CDS-T1-E3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.9A | 120mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.5nC | 0.4V | 150°C | PDF → |
SI2302CDS-T1-GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.9A | 120mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.5nC | 0.4V | 150°C | PDF → |
SI2302DDS-T1-GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.9A | 120mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.5nC | 0.4V | 150°C | PDF → |
ST2302STANSON Tech. Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.4nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.6A | 70mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.4nC | 0.4V | 150°C | PDF → |
PMV37ENShikues Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.2A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.5V | — | PDF → |
P8503BMGNIKO Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.4A | 50mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.7V | 166°C | PDF → |
AP2300ALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5.2A | 35mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.5V | — | PDF → |
SI2302SEP Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.5nC | 1V | 150°C | PDF → |
SM2302SRLSPS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.8A | 40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 0.8V | 150°C | PDF → |
BLM2302BL(Shanghai Belling) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.9A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 0.75V | 150°C | PDF → |
KSI2302CDS-T1-GE3KUU Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.9A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 0.75V | 150°C | PDF → |
SI2302 2.9AKUU Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.9A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 0.75V | 150°C | PDF → |
SK2302AAShikues Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.9A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 0.75V | 150°C | PDF → |
MEM2302M3GMICRONE(Nanjing Micro One Elec) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3A | 3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 0.53V | 150°C | PDF → |
SI2302SBORN Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3A | 48mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 0.6V | 150°C | PDF → |
BRCS3420MCFoshan Blue Rocket Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.7V | 150°C | PDF → |
DMN2053U-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 27mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.7V | — | PDF → |
DMN2056U-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 27mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.7V | — | PDF → |
DMN2058U-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 27mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.7V | — | PDF → |
HXY2300AIHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 27mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.7V | — | PDF → |
IRLML6246PBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 27mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.7V | — | PDF → |
SI2312CDS-T1-GE3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 27mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.7V | — | PDF → |
VBZ2300VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 0.95V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 31.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | — | PDF → |
ST2304SRGSTANSON Tech. Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 2.6A | 52mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 1V | 150°C | PDF → |
FDN335NHUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 0.65V | 150°C | PDF → |
HSS2302BHUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 0.65V | 150°C | PDF → |
CJ3406Jiangsu Changjing Electronics Technology Co., Ltd. Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.6A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | 150°C | PDF → |
NP2302FHR-GNATLINEAR Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.8nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3A | 45mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.8nC | 0.75V | 150°C | PDF → |
KIA2302KIA Semicon Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.4nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3A | 45mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.4nC | 1.2V | — | PDF → |
2312GOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 0.95V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6.8A | 21mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | — | Szukaj PDF → |
PMV15UNEARNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.95V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (1.3nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 7A | 1519mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1.3nC | 5V | 175°C | PDF → |
LN2302BLT1GLRC Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.8A | 55mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9nC | 0.75V | 150°C | PDF → |
KY2310KY Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3A | 100mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 1.3V | 150°C | PDF → |
AO3414Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.2nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3A | 50mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.2nC | 1V | 150°C | PDF → |
AP2302BALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 2.8A | 55mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.2V | 150°C | PDF → |
PJA3412_R1_00001PANJIT International Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.1A | 4.1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 0.66V | 150°C | PDF → |
ZXMN2F34FHTADiodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.8nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.4A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.8nC | 0.5V | 150°C | PDF → |
SSM3K335R,LF(TTOSHIBA Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.95V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (1.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 38mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1.5nC | 3V | 150°C | PDF → |
NTR4170NT1Gonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.76nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 2.4A | 55mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.76nC | 1.4V | 150°C | PDF → |
SI2302-TPMCC(Micro Commercial Components) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3A | 100mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1V | 150°C | PDF → |
SI2302A-TPMCC(Micro Commercial Components) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.95V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3A | 4.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 3V | 150°C | PDF → |
SI2308AUMW(Youtai Semiconductor Co., Ltd.) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3A | 80mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1V | 150°C | PDF → |
ST2300SRGSTANSON Tech. Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3A | 48mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 0.4V | 150°C | PDF → |
EN2300ETERNAL Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (1.7nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5.4A | 23mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1.7nC | 0.4V | 150°C | PDF → |
DMN2046U-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3.8nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.4A | 72mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.8nC | 0.4V | 150°C | PDF → |
AS2302AnBon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3.81nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.81nC | 0.5V | 150°C | PDF → |
IRLML2502MSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.95V vs 6V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 6V | 150°C | PDF → |
PMV100ENEARNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.95V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3.65nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3A | 300mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.65nC | 5V | 150°C | PDF → |
PMV90ENERNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.95V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3.65nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3A | 300mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.65nC | 5V | 150°C | PDF → |
PMV52ENEARNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.95V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.23nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.2A | 52mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.23nC | 5V | 175°C | PDF → |
SL2304Slkor(SLKORMICRO Elec.) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.13nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.3A | 3760mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.13nC | 1V | 150°C | PDF → |
LNSC2302LONTEN Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3.2nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.2nC | 0.75V | 150°C | PDF → |
PJA3416_R1_00001PANJIT International Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5.8A | 5.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 0.77V | 150°C | PDF → |
SI2304BDS-T1-BE3Vishay Siliconix Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 2.6A | 70mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7nC | 1.53V | 150°C | PDF → |
SI2304-TPMCC(Micro Commercial Components) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 2.5A | 65mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.02V | 150°C | PDF → |
SE2300SINO-IC Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5.9A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 2V | 150°C | PDF → |
EMF50N03JSEMC Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.5A | 50mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 0.751V | 150°C | PDF → |
HSS2302AHUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.6A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 0.4V | 150°C | PDF → |
DMG3406L-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.3nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 2.8A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.3nC | 1V | 150°C | PDF → |
AM2302N-T1-PF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
FDN359BNonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 2.7A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7nC | 1.8V | 150°C | PDF → |
IRLML6246TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.1A | 100mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.5nC | 0.5V | 150°C | PDF → |
SI2302DS-T1-GE3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5.1A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
PJA3416AE_R1_00001PANJIT International Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6.5A | 6.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 0.58V | 150°C | PDF → |
DMG3414U-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.6nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.2A | 19mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.6nC | 0.5V | 150°C | PDF → |
DMG2302U-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.4A | 90mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7nC | 0.4V | 150°C | PDF → |
DMN2075U-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.4A | 38mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7nC | 0.4V | 150°C | PDF → |
KY2302HKY Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 24mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 0.7V | 150°C | PDF → |
NCE2302Wuxi NCE Power Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 0.85V | 150°C | PDF → |
SI2304BDS-T1-E3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.6nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.2A | 70mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.6nC | 1.53V | 150°C | PDF → |
SI2304BDS-T1-GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.6nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.2A | 70mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.6nC | 1.53V | 150°C | PDF → |
DMN2056U-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.3nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.3nC | 1V | 150°C | PDF → |
SI2316DS-T1-E3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 2.9A | 42mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7nC | 0.8V | 150°C | PDF → |
AP2328GNAPEC(Advanced Power Elec) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 2468mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 0.5V | 150°C | PDF → |
AO3416Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.24nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6.5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.24nC | 0.4V | 150°C | PDF → |
DMN2058U-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3.6nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.6A | 27mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.6nC | 1.2V | 150°C | PDF → |
ACE2302BBM+H-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
ACE2302CBM+H-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
AO3414-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
AP2300GN-HF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
AP2302AGN-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
AP2304GN-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
AP2306GN-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
AP2306N-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
APM2300AAC-TRL-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
APM2314AC-TRL-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
APM2324AC-TRL-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
CES2302-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
CES2312-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
CES2324-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
FDN335N-NL-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
HM2300-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
IRLML2402GTRPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
IRLML2502GTRPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
IRLML2502TRPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
KIA2300KIA Semicon Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 0.78V | 150°C | PDF → |
LN2302ALT1G-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
LN4501LT1G-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
MEM2302-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
MGSF2N02ELT1G-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
MMBF0201NLT1G-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
MT2300ACTR-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
MTN2302N3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
NDS331N-NL-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
NDS335N-NL-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
QM2414K-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
QM2416K-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
RU205B-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
RUR040N02TL-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
SI2300BDS-T1-GE3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
SI2300DS-T1-GE3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
SI2302CDS-T1-GE3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
SI2312CDS-T1-GE3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
SI2312DS-T1-GE3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
SI2342DS-T1-GE3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
SM2300NSAN-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
SM2304NSA-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
SPN2302DS23RGB-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
SPN3414S23RGB-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
SPP3414S23RG-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
SSC8022GS6-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
SSM3K301T-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
ST2300S23RG-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
ST2302-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
ST2302DSRG-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
ST2302MSRG-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
STS2306-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
TSM2314CX RF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
VB1240VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 2000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
WFY6N02-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
ZXMN2A14FTA-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
ZXMN2F30FHTA-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 2V | 150°C | PDF → |
NDS331Tokmas Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.5A | 45mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 0.7V | 150°C | PDF → |
MDD2302MDD(Microdiode Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.4nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.4nC | 0.51V | 150°C | PDF → |
WST3424Winsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.4A | 50mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 0.851V | 200°C | PDF → |
TSM2302CX RFGTaiwan Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.8nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.9A | 34mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.8nC | 0.9V | 150°C | PDF → |
WNM2016A-3/TRWILLSEMI(Will Semicon) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 0.95V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.2nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.7A | 34mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.2nC | — | 150°C | PDF → |
ZXMN2A14FTADiodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.6nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.1A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.6nC | 0.7V | 150°C | PDF → |
KAO3414KUU Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.2nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.2A | 4150mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.2nC | 0.41V | 150°C | PDF → |
KSI2324DS-T1-GE3KUU Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.2nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.2A | 4150mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.2nC | 0.41V | 150°C | PDF → |
PMV30UN2VLPMV30UN2VL Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.211nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.2A | 2432mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.211nC | 0.9V | 150°C | PDF → |
SL3424Slkor(SLKORMICRO Elec.) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (2.6nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.8A | 55mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.6nC | 0.51V | 155°C | PDF → |
NTR3C21NZT1Gonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (17.8nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.6A | 24mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 17.8nC | 1V | 150°C | PDF → |
NTR3C21NZT3Gonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (17.8nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.6A | 24mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 17.8nC | 0.451V | 150°C | PDF → |
AP5N10BIA Power microelectronics Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.95V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 125mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 5V | 150°C | PDF → |
ASDM3415ZA-RASDsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 0.95V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.8nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.1A | 32mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.8nC | — | 150°C | PDF → |
DMG2302UQ-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.2A | 90mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7nC | 0.4V | 150°C | PDF → |
SI2314EDS-T1-E3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (14nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.77A | 1000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 14nC | 0.45V | 150°C | PDF → |
SK2302AAVPShikues Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.6nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.3A | 21mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.6nC | 0.85V | 150°C | PDF → |
YJL2302AYangzhou Yangjie Elec Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.6nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.3A | 21mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.6nC | 0.85V | 150°C | PDF → |
SI2312BDS-T1-BE3Vishay Siliconix Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 3.9A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12nC | 0.85V | 150°C | PDF → |
AP2302ALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.2V | 150°C | PDF → |
SI2306BDS-T1-BE3Vishay Siliconix Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.16A | 47mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1V | 150°C | PDF → |
ZXMN2F30FHTADiodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.8nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.9A | 45mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.8nC | 0.6V | 150°C | PDF → |
PJM2300NSAPJSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.95V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.4nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.5A | 3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.4nC | 3V | 150°C | PDF → |
DMN3110S-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.1nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.3A | 54mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.1nC | 1V | 150°C | PDF → |
DMN3110SQ-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.1nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.3A | 54mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.1nC | 1V | 150°C | PDF → |
PJM2300NSA-LPJSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5.5A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 1V | — | Szukaj PDF → |
AS2300AnBon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.1nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.5A | 1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.1nC | 0.45V | 150°C | PDF → |
YJL2300AYangzhou Yangjie Elec Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.1nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.5A | 19.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.1nC | 0.62V | 150°C | PDF → |
PMV28UNEARNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.21nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.7A | 150mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.21nC | 2V | 150°C | PDF → |
SI2304DDS-T1-GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.95V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3.6nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.6A | 49mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.6nC | 5V | 150°C | PDF → |
AO3418Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3.2nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.8A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.2nC | 1.8V | 150°C | PDF → |
AO3424Alpha & Omega Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3.2nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.8A | 80mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.2nC | 1.8V | 150°C | PDF → |
PJA3456E_R1_00001PANJIT International Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 7.3A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 0.6V | 150°C | PDF → |
ZXMN2B14FHTADiodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.3A | 55mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 0.41V | 150°C | PDF → |
BSH108-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 1.5V | — | PDF → |
BSS316N-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 1.5V | — | PDF → |
SI2310YONGYUTAI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 2224mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 0.45V | 150°C | PDF → |
ATM2306NSAAgertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.95V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.16A | 38mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 3V | 150°C | PDF → |
ASDM2300ZA/SOT23ASDsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.5A | 22mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 0.65V | 150°C | PDF → |
DMN2041L-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.5A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.2V | 150°C | PDF → |
NCE2312Wuxi NCE Power Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.5A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 0.65V | 150°C | PDF → |
VB1240BVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.2nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.2nC | 1.5V | 150°C | PDF → |
NCE2304Wuxi NCE Power Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.6A | 40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 1.5V | 150°C | PDF → |
SK2306Shikues Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.6A | 40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 1.5V | 150°C | PDF → |
LPM3406B3FLOWPOWER Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.1nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.6A | 48mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.1nC | 1.8V | 150°C | PDF → |
SI2306PAKER Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (60nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4A | 32mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 60nC | 1.5V | 150°C | PDF → |
DMG3420UQ-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.4nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5.47A | 29mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.4nC | 0.95V | 150°C | PDF → |
HSS2300AHUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 21mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 0.35V | 150°C | PDF → |
YJL2304AYangzhou Yangjie Elec Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.2nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.6A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.2nC | 1.5V | 150°C | PDF → |
SQ2310ES-T1_GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.58nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.58nC | 0.4V | 175°C | PDF → |
SM2314SRLSPS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5.4A | 23mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 0.78V | 150°C | PDF → |
DMN2020LSN-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (8nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8nC | 0.7V | — | PDF → |
HL2312hongjiacheng Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5.5A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 0.45V | 150°C | PDF → |
ME2320DMATSUKI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6.4A | 21mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 0.4V | — | PDF → |
DMN3150L-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.1A | 72mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.4V | 150°C | PDF → |
SI2300DS-T1-BE3Vishay Siliconix Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.95V vs 3.2V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.1A | 200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 3.2V | 150°C | PDF → |
SI2304DDS-T1-BE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.7nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.3A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.7nC | 2.2V | 150°C | PDF → |
GDSSF2300Suzhou Good-Ark Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 7A | 68mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 0.95V | 150°C | PDF → |
SI2374DS-T1-GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.95V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (20nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.5A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 5V | 150°C | PDF → |
AO3406Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.6A | 50mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 2.5V | 150°C | PDF → |
TSM2312CX RFGTaiwan Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.9A | 27mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 0.65V | 150°C | PDF → |
TSM2314CX RFGTaiwan Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 4.9A | 27mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 0.85V | 150°C | PDF → |
AOSS62934-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.7V | 150°C | PDF → |
G2312GOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 0.4V | 150°C | PDF → |
HXY5N10AIHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.7V | 150°C | PDF → |
SI2392ADS-T1-GE3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.7V | 150°C | PDF → |
DMG6968UQ-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (8.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5.2A | 21mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8.5nC | 0.5V | 150°C | PDF → |
SI2306-TPMCC(Micro Commercial Components) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.16A | 400mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.03V | 150°C | PDF → |
ZXMN3A14FTADiodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.2A | 48mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9nC | 1V | 150°C | PDF → |
DMG3406L-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.3nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.6A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.3nC | 1V | 150°C | PDF → |
KY2300KY Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 21.6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 0.66V | 150°C | PDF → |
NCE2312AWuxi NCE Power Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 17mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 0.65V | 150°C | PDF → |
SI2312BDS-T1-E3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 0.95V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12nC | — | 150°C | PDF → |
SI2312BDS-T1-GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 0.95V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12nC | — | 150°C | PDF → |
AM2302N-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.95V vs 2.6V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 2.6V | 150°C | PDF → |
AP2300GN-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.95V vs 2.6V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 2.6V | 150°C | PDF → |
AP2308GE-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.95V vs 2.6V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 2.6V | 150°C | PDF → |
CJ8810-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 2V | 150°C | PDF → |
IRLML2402TRPBFVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.95V vs 2.6V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 2.6V | 150°C | PDF → |
SI2312CDS-T1-GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.95V vs 2.6V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 26.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 2.6V | 150°C | PDF → |
WNM2016-3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.95V vs 2.6V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 2.6V | 150°C | PDF → |
WNM2016-3/TR-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 2V | 150°C | PDF → |
WNM2020-3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.95V vs 2.6V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 2.6V | 150°C | PDF → |
WNM2020-3/TR-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 2V | 150°C | PDF → |
DMN2050L-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.7nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5.9A | 29mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.7nC | 1.4V | 150°C | PDF → |
ZXMN3B14FTADiodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.7nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.5A | 80mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.7nC | 0.7V | 150°C | PDF → |
SI2316BDS-T1-BE3Vishay Siliconix Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.95V vs 5.2V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.9A | 41mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 5.2V | 150°C | PDF → |
DMG3420U-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.4nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6.5A | 29mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.4nC | 0.95V | 150°C | PDF → |
AO3434Alpha & Omega Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.2nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.5A | 52mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.2nC | 1.8V | 150°C | PDF → |
AO3402Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.34nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 2468mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.34nC | 0.511V | 150°C | PDF → |
AO3402AUMW(Youtai Semiconductor Co., Ltd.) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.95V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.34nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.34nC | 3V | 150°C | PDF → |
CJ3402Jiangsu Changjing Electronics Technology Co., Ltd. Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.95V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.34nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.34nC | 3V | 150°C | PDF → |
WST2314Winsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5.5A | 26mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.5nC | 0.7V | 150°C | PDF → |
JSM3420SJSMSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.2nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 19mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.2nC | 0.75V | 150°C | PDF → |
LN2502LT1GLRC Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 5.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7nC | 0.4V | 150°C | PDF → |
SI2312CDS-T1-BE3Vishay Siliconix Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.95V vs 2.6V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (18nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 5A | 45mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 18nC | 2.6V | 150°C | PDF → |
DMN2040U-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.5nC | 0.5V | 150°C | PDF → |
MDD2300MDD(Microdiode Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.6nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6.2A | 3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.6nC | 0.451V | 150°C | PDF → |
AP2306GNKUU Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.71nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 2225mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.71nC | 0.451V | 150°C | PDF → |
IRLML2502TRPBFKUU Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.71nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 2225mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.71nC | 0.451V | 150°C | PDF → |
IRLML6244TRPBFKUU Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.71nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 2225mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.71nC | 0.451V | 150°C | PDF → |
KSI2300DS-T1-GE3KUU Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.71nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 2248mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.71nC | 0.451V | 150°C | PDF → |
DMN2046U-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (8nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8nC | 0.7V | — | PDF → |
MS3416MSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (8nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 17mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8nC | 1V | 150°C | PDF → |
SM3416SRL-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (8nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8nC | 0.7V | — | PDF → |
VB1218XVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.95V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (8nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 2000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8nC | 5V | 150°C | PDF → |
VB1240XVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.95V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (8nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 2000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8nC | 5V | 150°C | PDF → |
AP2316ALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.8nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 44mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.8nC | 1.5V | 150°C | PDF → |
SM3416SRLSPS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6.5A | 22mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 0.4V | 150°C | PDF → |
ZXM61N02FTA-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (8.8nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8.8nC | 1V | 150°C | PDF → |
ST3400SRGSTANSON Tech. Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.7nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.5A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.7nC | 0.5V | 150°C | PDF → |
SK2304AAShikues Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (8.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.6A | 70mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8.5nC | 2.2V | — | PDF → |
2300FGOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 4.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 0.5V | 150°C | PDF → |
AO3416ATECH PUBLIC Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 51mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.1V | 150°C | Szukaj PDF → |
IRLML6246TRPBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 22mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 0.65V | 150°C | PDF → |
JY2312XShenzhen JingYang Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 26mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 0.5V | 150°C | PDF → |
MGSF1P02ELT1G-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.95V vs 2.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 2.9V | 150°C | PDF → |
SI2300DS-T1-GE3Vishay Siliconix Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 22mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 0.65V | 150°C | Szukaj PDF → |
SI2300DS-T1-GE3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 22mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 0.65V | 150°C | PDF → |
WTM2300WPMtek(Wei Pan Microelectronics) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 0.7V | 150°C | PDF → |
DMG3418L-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 70mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.5nC | 0.5V | 150°C | PDF → |
DMN100-7-FDiodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 170mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.5nC | 1V | 150°C | PDF → |
CJ3404-ESElecSuper Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.8nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6.2A | 16mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.8nC | 1.5V | — | PDF → |
NCE3420Wuxi NCE Power Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12nC | 0.7V | 150°C | PDF → |
PMV20XNEARNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.915nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6.3A | 80mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.915nC | 2V | 150°C | PDF → |
ZXMN3F30FHTADiodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.7nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.8A | 47mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.7nC | 1.03V | 150°C | PDF → |
IRFML8244TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.4nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 25V | 5.8A | 24mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.4nC | 1.351V | 150°C | PDF → |
ASDM3416EZA-RASDsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (8.1nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 7A | 19mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8.1nC | 0.62V | 150°C | PDF → |
YJL3416AYangzhou Yangjie Elec Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (8.1nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 7A | 13mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8.1nC | 0.62V | 150°C | PDF → |
YJL2312AYangzhou Yangjie Elec Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.2nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6.8A | 13.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.2nC | 0.62V | 150°C | PDF → |
SI3420A-TPMCC(Micro Commercial Components) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.95V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (20nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6A | 3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 3V | 150°C | PDF → |
AS2312ANBON SEMICONDUCTOR (INT'L) LIMITED Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11.05nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 6.8A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11.05nC | 1V | 150°C | PDF → |
AO3434AAlpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 52mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 0.71V | 150°C | PDF → |
BRCS3402MAFoshan Blue Rocket Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 44mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 0.85V | 150°C | PDF → |
DMG3402L-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.4V | 150°C | PDF → |
DMG3402LQ-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 65mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.4V | 150°C | PDF → |
CJ8810Jiangsu Changjing Electronics Technology Co., Ltd. Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 7A | 26mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 1V | 150°C | PDF → |
DMG3414U-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 7A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 0.75V | — | PDF → |
IRLML6244PBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 7A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 0.75V | — | PDF → |
PMV16XNR-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 7A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 0.75V | — | PDF → |
SI2342DS-T1-GE3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 7A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 0.75V | — | PDF → |
SI8810-TPMCC(Micro Commercial Components) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 7A | 250mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 1V | 150°C | PDF → |
PMV40UN2RNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 0.95V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (712nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.7A | 3644mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 712nC | — | 150°C | PDF → |
DMG3414UQ-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.6nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 9A | 19mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.6nC | 0.5V | 150°C | PDF → |
DMN2310U-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 0.95V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- UWAGA: Id 1.6A < 2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 1.6A | 140mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 0.7nC | — | 150°C | PDF → |
KMA3D0N20SA-RTK/PKEC Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Id
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | — | 55mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.5V | — | PDF → |
BSS139H6327Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3.5nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Id
- Brak danych: Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | — | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.5nC | 1.4V | 150°C | PDF → |
MGSF1N03LT1Gonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 1.6A < 2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 1.6A | 100mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 2.4V | 150°C | PDF → |
MVGSF1N03LT1Gonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 1.6A < 2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 1.6A | 100mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 2.4V | 150°C | PDF → |
SSM3K361R,LFTOSHIBA Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Vds 16V < 20V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (1.1nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 16V | 3.5A | 92mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1.1nC | 2V | — | PDF → |
ZXM61N02FTADiodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 1.7A < 2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3.4nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 20V | 1.7A | 180mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.4nC | 0.7V | 150°C | PDF → |
FDN357Nonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.95V vs 3.6V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 1.9A < 2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.25nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 1.9A | 81mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.25nC | 3.6V | 150°C | PDF → |
NXV55UNRNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 0.95V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- UWAGA: Id 1.9A < 2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.88nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 1.9A | 66mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.88nC | — | 150°C | PDF → |
NDS355ANonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 1.7A < 2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3.55nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 1.7A | 125mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.55nC | 0.51V | 150°C | PDF → |
BSH108,215Nexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 1.9A < 2A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (14nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 1.9A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 14nC | 0.5V | 150°C | PDF → |
S-LNB2306ELT1GLRC Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.95V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Vds 16V < 20V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12nC vs 0.65nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 16V | 4A | 13mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12nC | 3V | 150°C | PDF → |