AP20H03NFA Power microelectronics ↓ Twoj uklad | dual-N | DFN-5x6 5×6mm | 30V | 24.7A | 8.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1V | 150°C | PDF → |
AGM306MAAGM-Semi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- brak potwierdzonego pinoutu po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| dual-N | DFN-5x6 5×6mm | 30V | 40A | 14mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1nC | 1.21V | 150°C | PDF → |
AGM406MNAAGM-Semi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- brak potwierdzonego pinoutu po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| dual-N | DFN-5x6 5×6mm | 40V | 53A | 6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.6V | 150°C | PDF → |
AGM405MNAAGM-Semi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- brak potwierdzonego pinoutu po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| dual-N | DFN-5x6 5×6mm | 40V | 45A | 4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.7nC | 1.6V | 150°C | PDF → |
S60J04FHL Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- brak potwierdzonego pinoutu po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| dual-N | DFN-5x6 5×6mm | 40V | 40A | 40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 2V | — | PDF → |
TSM150NB04LDCR RLGTaiwan Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- brak potwierdzonego pinoutu po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (18nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| dual-N | DFN-5x6 5×6mm | 40V | 37A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 18nC | 1.7V | 150°C | PDF → |
TQM150NB04DCR RLGTaiwan Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- brak potwierdzonego pinoutu po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 2.8V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (18nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| dual-N | DFN-5x6 5×6mm | 40V | 39A | 10.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 18nC | 2.8V | 175°C | PDF → |
TQM300NB06DCR RLGTaiwan Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- brak potwierdzonego pinoutu po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 2.6V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (20nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| dual-N | DFN-5x6 5×6mm | 60V | 25A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 2.6V | 175°C | PDF → |
TSM250NB06DCR RLGTaiwan Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- brak potwierdzonego pinoutu po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (22nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| dual-N | DFN-5x6 5×6mm | 60V | 30A | 21mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 22nC | 3V | 150°C | PDF → |
TQM250NB06DCR RLGTaiwan Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- brak potwierdzonego pinoutu po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 2.6V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (24nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| dual-N | DFN-5x6 5×6mm | 60V | 30A | 21mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 24nC | 2.6V | 175°C | PDF → |
TQM110NB04DCR RLGTaiwan Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- brak potwierdzonego pinoutu po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (26nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| dual-N | DFN-5x6 5×6mm | 40V | 50A | 8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 26nC | 2.5V | 175°C | PDF → |
SM7320ESQG-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- brak potwierdzonego pinoutu po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (60nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: pinout
| dual-N | DFN-5x6 5×6mm | 30V | 60A | 5000mΩ Vgs=10V, 55°C | 60nC | 5V | 150°C | PDF → |
AP90N03GDALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- brak potwierdzonego pinoutu po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (60nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| dual-N | DFN-5x6 5×6mm | 30V | 80A | 5.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 60nC | 1V | 150°C | PDF → |
NCEP01ND35AGWuxi NCE Power Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- brak potwierdzonego pinoutu po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (26nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| dual-N | DFN-5x6 5×6mm | 100V | 35A | 22mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 26nC | 2V | 150°C | PDF → |
RJK0216DPA-00#J53RENESAS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8)- brak potwierdzonego pinoutu po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- oryginal to logic-level (Vgs(th) 1V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- UWAGA: Vds 25V < 30V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| dual-N | DFN-5x6 5×6mm | 25V | 32A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.2nC | — | — | PDF → |
CSD86356Q5DTTexas Instruments Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- brak potwierdzonego pinoutu po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- UWAGA: Vds 25V < 30V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| dual-N | DFN-5x6 5×6mm | 25V | 88A | 4.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1.2nC | 0.951V | 150°C | PDF → |
VBQA3316VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- brak potwierdzonego pinoutu po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- UWAGA: Id 22A < 24.7A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (20nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| dual-N | DFN-5x6 5×6mm | 30V | 22A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 2.4V | 150°C | PDF → |
BSC076N04NDInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- brak potwierdzonego pinoutu po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- UWAGA: Id 20A < 24.7A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (38nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| dual-N | DFN-5x6 5×6mm | 40V | 20A | 7.07mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 38nC | 2.03V | 175°C | PDF → |
G20N06D52GOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- brak potwierdzonego pinoutu po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- UWAGA: Id 20A < 24.7A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (25nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| dual-N | DFN-5x6 5×6mm | 60V | 20A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 25nC | 2.5V | 175°C | PDF → |
AGM609MNAAGM-Semi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- brak potwierdzonego pinoutu po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (26nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| dual-N | DFN-5x6 5×6mm | 60V | 70A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 26nC | 1.6V | 150°C | PDF → |