PE642DTNIKO Semicon ↓ Twoj uklad | dual-N | DFN-8 3.3×3.3mm | 30V | 31A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.75V | 150°C | PDF → |
S4896DHL Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- brak potwierdzonego pinoutu po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| dual-N | DFN-8 3.3×3.3mm | 40V | 40A | 7.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 2V | — | PDF → |
WSD3056DN33Winsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- brak potwierdzonego pinoutu po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.2nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| dual-N | DFN-8 3.3×3.3mm | 30V | 35A | 13mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.2nC | 1.8V | 150°C | PDF → |
SISB46DN-T1-GE3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- brak potwierdzonego pinoutu po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| dual-N | DFN-8 3.3×3.3mm | 40V | 40A | 9.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.35V | — | PDF → |
HYG080NH03LR1C1HUAYI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- brak potwierdzonego pinoutu po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (16nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| dual-N | DFN-8 3.3×3.3mm | 30V | 31A | 8.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 16nC | 1.6V | 175°C | PDF → |
ESN4838ElecSuper Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- brak potwierdzonego pinoutu po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (18nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| dual-N | DFN-8 3.3×3.3mm | 30V | 33A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 18nC | 1.4V | — | PDF → |
ZC010DNGDOINGTER Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- brak potwierdzonego pinoutu po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.75V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (19nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| dual-N | DFN-8 3.3×3.3mm | 30V | 35A | 3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 19nC | 5V | 150°C | PDF → |
TDM3412Techcode Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- brak potwierdzonego pinoutu po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (8nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| dual-N | DFN-8 3.3×3.3mm | 30V | 45A | 1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8nC | 1.8V | 150°C | PDF → |
WSD6035DN33Winsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- brak potwierdzonego pinoutu po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| dual-N | DFN-8 3.3×3.3mm | 60V | 40A | 32mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.6V | 150°C | PDF → |
IAUC45N04S6L063HATMA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8)- brak potwierdzonych wymiarow po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- brak potwierdzonego pinoutu po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| dual-N | DFN-8 | 40V | 45A | 6.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.21V | 175°C | PDF → |
IAUC45N04S6N070HATMA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8)- brak potwierdzonych wymiarow po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- brak potwierdzonego pinoutu po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| dual-N | DFN-8 | 40V | 45A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 2.22V | 175°C | PDF → |
IAUC60N04S6L030HATMA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8)- brak potwierdzonych wymiarow po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- brak potwierdzonego pinoutu po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| dual-N | DFN-8 | 40V | 60A | 3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.21V | 175°C | PDF → |
IAUC60N04S6L045HATMA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8)- brak potwierdzonych wymiarow po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- brak potwierdzonego pinoutu po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| dual-N | DFN-8 | 40V | 60A | 4.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.21V | 175°C | PDF → |
IAUC60N04S6N050HATMA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8)- brak potwierdzonych wymiarow po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- brak potwierdzonego pinoutu po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| dual-N | DFN-8 | 40V | 60A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 2.22V | 175°C | PDF → |
IRF40H233ATMA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (9)- brak potwierdzonych wymiarow po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- brak potwierdzonego pinoutu po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.75V vs 3.9V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (57nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| dual-N | DFN-8 | 40V | 65A | 6.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 57nC | 3.9V | 175°C | Szukaj PDF → |
CSD86336Q3DTTexas Instruments Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- brak potwierdzonego pinoutu po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- UWAGA: Vds 25V < 30V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| dual-N | DFN-8 3.3×3.3mm | 25V | 40A | 9.1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 0.6nC | 1.11V | 125°C | PDF → |
HSBF3202HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- brak potwierdzonego pinoutu po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- UWAGA: Id 28A < 31A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| dual-N | DFN-8 3.3×3.3mm | 30V | 28A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1V | 150°C | PDF → |
ESN4842ElecSuper Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- brak potwierdzonego pinoutu po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- UWAGA: Id 30A < 31A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.2nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| dual-N | DFN-8 3.3×3.3mm | 30V | 30A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.2nC | 1.5V | — | PDF → |
SIZ340DT-T1-GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (9)- brak potwierdzonych wymiarow po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- brak potwierdzonego pinoutu po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- UWAGA: Id 30A < 31A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (30nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| dual-N | DFN-8 | 30V | 30A | 7.9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 2V | 150°C | PDF → |
ESN4832ElecSuper Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- brak potwierdzonego pinoutu po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- UWAGA: Id 27A < 31A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| dual-N | DFN-8 3.3×3.3mm | 30V | 27A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 1.5V | — | PDF → |
AGM308MBPAGM-Semi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- brak potwierdzonego pinoutu po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- UWAGA: Id 28A < 31A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (19nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| dual-N | DFN-8 3.3×3.3mm | 30V | 28A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 19nC | 1.6V | 150°C | PDF → |
DMTH6010LPDQ-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8)- brak potwierdzonych wymiarow po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- brak potwierdzonego pinoutu po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (20.3nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| dual-N | DFN-8 | 60V | 47.6A | 8.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20.3nC | 1V | 175°C | PDF → |
NVMFD5873NLWFT1Gonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8)- brak potwierdzonych wymiarow po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- brak potwierdzonego pinoutu po jednej ze stron — nie klasyfikuj jako drop-in
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (16.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| dual-N | DFN-8 | 60V | 58A | 10.7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 16.5nC | 1.52V | 175°C | PDF → |