SE720SINO-IC ↓ Twoj uklad | N | DFN-6 2×2mm | 20V | 0.3A | 500mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 2.5V | 150°C | PDF → | — |
WPT2N31-6/TRWILLSEMI(Will Semicon) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 20V | 1.7A | 220mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 0.55V | 155°C | PDF → | — |
PNMT6N1BShanghai Prisemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2.1×2.1mm | 20V | 3A | 1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 2.5V | 125°C | PDF → | — |
AON2803Alpha & Omega Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 20V | 3.8A | 70mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 37nC | 0.6V | 155°C | PDF → | — |
SIA519EDJ-T1-GE3JSMSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2.5V vs 3.3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 20V | 4.2A | 4200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.2nC | 3.3V | 150°C | PDF → | — |
HSCB2903HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 20V | 4.5A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 0.4V | 150°C | PDF → | — |
DMC2041UFDB-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 | 20V | 4.7A | 23mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8nC | 0.35V | 150°C | PDF → | — |
DMC2041UFDB-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 | 20V | 4.7A | 23mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8nC | 0.35V | 150°C | PDF → | — |
DMC2025UFDB-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 | 20V | 6A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.9nC | 0.5V | 150°C | PDF → | — |
BUK4D38-20PXBUK4D38-20PX Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 1.9×1.9mm | 20V | 6A | 3038mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10.616nC | 0.95V | 175°C | PDF → | — |
AON2406Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 20V | 8A | 12.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 18nC | 0.4V | 150°C | PDF → | — |
DMN2022UFDF-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 | 20V | 7.9A | 15mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.8nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
DMN2028UFU-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 | 20V | 7.5A | 15.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
PMPB12UNEAXNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 | 20V | 7.9A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 17nC | 0.9V | 150°C | PDF → | — |
AON2405Alpha & Omega Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 20V | 8A | 32mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 18nC | 0.65V | — | PDF → | Zobacz ofertę → |
DMC3730UFL3-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (9)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- oryginal to logic-level (Vgs(th) 2.5V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | DFN-6 | 30V | 1.1A | 291mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 0.9nC | — | 150°C | PDF → | — |
BUK4D16-20HBUK4D16-20H Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 20V | 8.5A | 1316mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.815nC | 0.6V | 175°C | PDF → | — |
BUK4D16-20XNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 1.9×1.9mm | 20V | 8.5A | 1316mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.815nC | 0.6V | 175°C | PDF → | — |
DMN2020UFCL-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 | 20V | 9A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 21.5nC | 0.4V | 150°C | PDF → | — |
FDMA410NZT-F130onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2.05×2.05mm | 20V | 9.5A | 23mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 0.4V | 150°C | PDF → | — |
TSM2537CQ RFGTaiwan Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 20V | 9.5A | 17mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 0.6V | 150°C | PDF → | — |
DMN2013UFDE-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 | 20V | 10.5A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 14.3nC | 1.1V | 150°C | PDF → | — |
DMN2013UFDEQ-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 | 20V | 10.5A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 14.3nC | 1.1V | 150°C | PDF → | — |
LN2324DT2AGLRC Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2.5V vs 8V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 20V | 11A | 3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 8V | 150°C | PDF → | — |
DMN2011UFDE-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 | 20V | 11.7A | 6.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 24nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
WSD2018DN22Winsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 20V | 12A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 0.7V | 167°C | PDF → | — |
HSCB2016HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 20V | 16A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 0.7V | 150°C | PDF → | — |
CSD15571Q2Texas Instruments Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 20V | 22A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 0.52nC | 1.45V | 150°C | PDF → | — |
CSD16301Q2Texas Instruments Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 25V | 5A | 4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 1.1V | 150°C | PDF → | — |
PMPB55XNEAXNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 30V | 3.8A | 300mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 35nC | 0.751V | 175°C | PDF → | — |
BUK6D72-30EXNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2.5V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 30V | 4A | 72mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.23nC | 5V | 175°C | PDF → | — |
CSD17313Q2Q1Texas Instruments Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 30V | 4A | 31mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.8nC | 1.3V | 150°C | PDF → | — |
BUK4D60-30XNexperia USA Inc. Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 | 30V | 4.2A | 4860mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.35nC | 0.6V | 175°C | PDF → | — |
CSD17313Q2Texas Instruments Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 30V | 5A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.7nC | 1.8V | 150°C | PDF → | — |
FDMA7628-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2.5V vs 4.8V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 30V | 5.5A | 23mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 4.8V | 150°C | PDF → | — |
VBQG7322VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2.5V vs 4.8V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 30V | 5.5A | 23mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 4.8V | 150°C | PDF → | — |
IRFHS8342TRPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2.5V vs 4.8V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 30V | 6A | 23mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 4.8V | 150°C | PDF → | — |
NTLJS4114NT1G-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2.5V vs 4.8V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 30V | 6A | 23mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 4.8V | 150°C | PDF → | — |
DMN3042LFDF-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 | 30V | 7A | 17mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13.3nC | 0.6V | 150°C | PDF → | — |
BUK6D22-30EXNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2.5V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 30V | 7.2A | 150mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.514nC | 5V | 175°C | PDF → | — |
AON2410Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 30V | 8A | 21mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12nC | 0.61V | 150°C | PDF → | — |
G08N03D2GOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 30V | 8A | 13mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.7V | — | PDF → | — |
DMT3020LFDF-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 | 30V | 8.4A | 13mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7nC | 2.5V | 150°C | PDF → | — |
DMT3020LFDF-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 | 30V | 8.4A | 13mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7nC | 2.5V | 150°C | PDF → | — |
DMN3025LFDF-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 | 30V | 9.9A | 20.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
DMN3016LFDE-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 | 30V | 10A | 8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11.3nC | 2V | 150°C | PDF → | — |
VBQG7313VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 30V | 12A | 24mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
DMN3020UFDF-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 | 30V | 15A | 16mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
PJM15N30DFPJSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2.5V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 30V | 15A | 4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 19nC | 4V | 150°C | PDF → | — |
AON2810Alpha & Omega Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 36V | 2A | 44mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.611V | — | PDF → | — |
DMN30H4D0LFDE-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2.5V vs 2.8V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 | 300V | 0.55A | 2300mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.6nC | 2.8V | 150°C | PDF → | — |
BUK6D120-40EXNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2.5V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 40V | 2.9A | 120mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.43nC | 5V | 175°C | PDF → | — |
DMT4031LFDF-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 | 40V | 6.8A | 19.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.9nC | 1.2V | 150°C | PDF → | — |
AON2240Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 40V | 8A | 21mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.41V | — | PDF → | — |
BUK6D23-40EHNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 40V | 8A | 1723mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.31V | 175°C | PDF → | — |
BUK6D23-40EXNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 40V | 8A | 1723mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.31V | 175°C | PDF → | — |
BUK7D25-40EXNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 40V | 8A | 1825mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8.613nC | 2.434V | 175°C | PDF → | — |
BUK9D23-40EXNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 40V | 8A | 1823mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11.517nC | 1.41V | 175°C | PDF → | — |
DMN4020LFDE-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 | 40V | 8A | 15mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8.8nC | 2.4V | 150°C | PDF → | — |
BUK6D210-60EXNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 60V | 2.1A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.53nC | 1.31V | 175°C | PDF → | — |
BUK6D125-60EXNexperia USA Inc. Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2.5V vs 2.7V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 60V | 2.7A | 125mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 2.7V | 175°C | PDF → | — |
DMN6070SFCL-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 | 60V | 3A | 67mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.3nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
DMT5015LFDF-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 | 50V | 9.1A | 10.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.1nC | 2V | 150°C | PDF → | — |
BUK6D56-60EXNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 60V | 4A | 150mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.512nC | 1.31V | 175°C | PDF → | — |
PMPB55ENEAXNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 60V | 4A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.512nC | 1.31V | 150°C | PDF → | — |
BUK6D230-80EXNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 80V | 1.9A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.87nC | 1.31V | 175°C | PDF → | — |
BUK6D385-100EXNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 100V | 1.5A | 6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.56nC | 1.31V | 175°C | PDF → | — |
PMPB40SNA115Nexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2.5V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 60V | 4.8A | 80mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.124nC | 3V | 150°C | PDF → | — |
AON2260Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 60V | 6A | 44mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 27nC | 1.522V | 150°C | PDF → | — |
DMN6040SFDE-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 | 60V | 6.5A | 38mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 22.4nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
AMA460N-TI-PFAnalog Power Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 60V | 8.7A | 4400mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8.6nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
DMT6016LFDF-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 | 60V | 8.9A | 12.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 17nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
DMTH6016LFDFWQ-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 | 60V | 9.4A | 13.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.5nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
BUK6D81-80EXNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 80V | 3.2A | 81mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.914nC | 1.31V | 175°C | PDF → | — |
DMN10H170SFDE-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 | 100V | 2.9A | 116mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.9nC | 2V | 150°C | PDF → | — |
IRL80HS120Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 | 80V | 12.5A | 32mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.7nC | 1.7V | 125°C | PDF → | — |
DMT10H072LFDFQ-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 | 100V | 4A | 47mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
CSD19538Q2Texas Instruments Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2.5V vs 3.8V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 100V | 13.1A | 59mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 3.8V | 150°C | PDF → | — |
CSD17571Q2Texas Instruments Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | DFN-6 2×2mm | 230V | 22A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 0.6nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |