Zamienniki dla BSC030N03LSG

Sprawdzamy dane ukladu BSC030N03LSG...

Trwa uzupelnianie parametrow. Strona odswiezy sie automatycznie. Proba 0/36.

BSC030N03LSG (BSC030N03LSG)

Typ ukladu: MOSFET N-channel
Obudowa: DFN-8
Wymiary: 6 × 5 × 1 mm

Brakuje danych: Id, Rds(on), Vgs(th) — sprawdz datasheet przed dobieraniem zamiennika.

Pelne szczegoly ukladu (parametry, pinout) →

Kandydaci do weryfikacji (187)

Pierwszy wiersz = Twoj uklad. Kolejne pozycje nie spelniaja kompletu regul dla pewnego zamiennika, wiec pokazujemy je tylko jako kandydatow do recznej weryfikacji.

MPN	Polar.	Obudowa	Vds	Id	Rds(on)	Qg	Vgs(th)	Tj max	Datasheet	Sklep KolegaInformatyk
`BSC030N03LSG` BSC030N03LSG ↓ Twoj uklad	N	DFN-8 6×5mm	30V	—	— Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	—	—	Szukaj PDF →	—
`TPN1R203PL` Toshiba Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3) BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	30V	65A	1.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	35nC	1.6V	150°C	PDF →	—
`AO32314` Alpha & Omega Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Rds(on) Brak danych: Vgs(th)	N	DFN-8	30V	32A	— Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	—	—	Szukaj PDF →	Zobacz ofertę →
`AO6992` Alpha & Omega Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Rds(on) Brak danych: Vgs(th)	N	DFN-8	30V	31A	— Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	—	—	Szukaj PDF →	Zobacz ofertę →
`AON32314` Alpha & Omega Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Rds(on) Brak danych: Vgs(th)	N	DFN-8	30V	32A	— Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	—	—	Szukaj PDF →	Zobacz ofertę →
`AON7402` Alpha & Omega Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	13.5A	10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	17.8nC	2.2V	150°C	PDF →	—
`AON7406L` Alpha & Omega Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	25A	17mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	810nC	1.21V	—	Szukaj PDF →	—
`AON7408L` Alpha & Omega Semiconductor Inc. Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	7.5A	22mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	8nC	3V	150°C	PDF →	Zobacz ofertę →
`AON7412` Alpha & Omega Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	10A	20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	15nC	2V	150°C	PDF →	—
`AONR21321-HXY` HXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	30V	50A	11.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	1.5V	100°C	PDF →	—
`AONX36322` Alpha & Omega Semiconductor Inc. Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	21A	4.95mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	25nC	2.2V	150°C	Szukaj PDF →	—
`BSC011N03LS` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	30V	100A	1.1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	1.2V	100°C	PDF →	—
`BSC011N03LSI` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	30V	100A	1.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	1.2V	—	PDF →	—
`BSC014N03LS G` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	30V	100A	1.72mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	1V	100°C	PDF →	—
`BSC014N03LSGATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	100A	1.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	131nC	2.2V	150°C	PDF →	—
`BSC014N03MS G` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	30V	100A	1.41mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	84nC	1V	100°C	PDF →	—
`BSC016N03LS G` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5) BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Rds(on) Brak danych: Vgs(th)	N	DFN-8 5×6mm	30V	100A	— Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	—	—	PDF →	—
`BSC016N03LSG` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Id Brak danych: Rds(on) Brak danych: Vgs(th)	N	DFN-8	30V	—	— Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	—	—	PDF →	—
`BSC016N03LSGATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	100A	1.82mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	131nC	1V	100°C	PDF →	—
`BSC016N03LSGATMA1/BK` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	32A	1.6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	131nC	2.2V	150°C	Szukaj PDF →	—
`BSC016N03MS G` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	30V	100A	1.62mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	84nC	1V	100°C	PDF →	—
`BSC016N03MSG` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on) Brak danych: Vgs(th)	N	DFN-8	30V	28A	1.6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	—	—	PDF →	—
`BSC016N03MSGATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	28A	10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	173nC	1V	150°C	PDF →	—
`BSC020N03LS G` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	30V	100A	2.32mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	93nC	1V	100°C	PDF →	—
`BSC020N03LSGATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	30V	100A	30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	93nC	1V	150°C	PDF →	—
`BSC020N03MS G` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	30V	100A	2.02mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	60nC	1V	100°C	PDF →	—
`BSC020N03MSGATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	100A	10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	124nC	1V	150°C	PDF →	—
`BSC025N03LSGATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	25A	2.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	74nC	2.2V	150°C	PDF →	—
`BSC025N03MS G` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5) BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Rds(on) Brak danych: Vgs(th)	N	DFN-8 5×6mm	30V	100A	— Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	—	—	PDF →	—
`BSC025N03MSG` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Id Brak danych: Rds(on) Brak danych: Vgs(th)	N	DFN-8	30V	—	— Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	—	—	PDF →	—
`BSC025N03MSGATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	23A	2.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	98nC	2V	150°C	PDF →	—
`BSC026NE2LS5-HXY` HXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	30V	150A	2.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	4.5nC	1.2V	150°C	PDF →	—
`BSC030N03LS G` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	100A	3.84mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	1V	100°C	PDF →	—
`BSC030N03LSGATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	100A	30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	55nC	1V	150°C	PDF →	—
`BSC030N03MS G` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5) BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Rds(on) Brak danych: Vgs(th)	N	DFN-8 5×6mm	30V	100A	— Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	—	—	PDF →	—
`BSC030N03MSG` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Id Brak danych: Rds(on) Brak danych: Vgs(th)	N	DFN-8	30V	—	— Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	—	—	PDF →	—
`BSC030N03MSGATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	100A	3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	73nC	2V	150°C	PDF →	—
`BSC034N03LS G` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	30V	100A	3.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	25nC	1V	100°C	PDF →	—
`BSC034N03LSGATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	22A	3.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	52nC	2.2V	150°C	PDF →	—
`BSC042N03LS G` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Rds(on)	N	DFN-8	30V	93A	— Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	1V	100°C	PDF →	—
`BSC042N03LSGATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	20A	4.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	42nC	2.2V	150°C	PDF →	—
`BSC042N03MS G` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	30V	93A	4.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	27nC	1V	100°C	PDF →	—
`BSC0501NSIATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	29A	30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	4.5nC	1.2V	150°C	PDF →	—
`BSC0502NSI` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	30V	110A	2.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	9nC	2V	150°C	PDF →	—
`BSC050N03LS G` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Rds(on)	N	DFN-8	30V	79A	— Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	1V	100°C	PDF →	—
`BSC050N03LSGATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	79A	5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	35nC	1V	100°C	PDF →	—
`BSC050N03LSGXT` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	79A	5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	1V	100°C	PDF →	—
`BSC052N03LS` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	30V	57A	7.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	1.2V	—	PDF →	—
`BSC052N03LSATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	17A	7.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	1.2V	150°C	PDF →	—
`BSC057N03LS G` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	30V	71A	5.7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	14nC	1V	100°C	PDF →	—
`BSC057N03LSGATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	17A	5.7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	30nC	2.2V	150°C	PDF →	—
`BSC057N03MS G` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	30V	71A	— Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	1V	100°C	PDF →	—
`BSC079N03LSC G` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5) BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Rds(on) Brak danych: Vgs(th)	N	DFN-8 5×6mm	30V	14A	— Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	—	—	PDF →	—
`BSC079N03LSCGATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	14A	10.212mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	19nC	1V	100°C	PDF →	—
`BSC080N03LS G` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	30V	53A	8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	1V	100°C	PDF →	—
`BSC080N03MS G` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	30V	53A	10.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	1V	100°C	PDF →	—
`BSC080N03MSG` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Id Brak danych: Rds(on) Brak danych: Vgs(th)	N	DFN-8	30V	—	— Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	—	—	PDF →	—
`BSC080N03MSGATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	13A	8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	27nC	1V	100°C	PDF →	—
`BSC0901NS` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	30V	100A	1.92mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	44nC	1.2V	100°C	PDF →	—
`BSC0901NSATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	28A	1.9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	44nC	2.2V	150°C	PDF →	—
`BSC0901NSATMA1(临时启用)` BSC0901NSATMA1(临时启用) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5) BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Id Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 6×5mm	30V	—	2.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	1.2V	—	PDF →	—
`BSC0901NSIATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	28A	2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	20nC	2.2V	150°C	PDF →	—
`BSC0902NS` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	30V	100A	2.6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	1.2V	100°C	PDF →	—
`BSC0902NSATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	100A	2.6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	26nC	2.2V	150°C	PDF →	—
`BSC0902NSATMA1(临时启用)` BSC0902NSATMA1(临时启用) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5) BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Id Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 6×5mm	30V	—	3.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	1.2V	—	PDF →	—
`BSC0904NSI` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	30V	78A	5.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	1.2V	150°C	PDF →	—
`BSC0904NSIATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	20A	5.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	1.2V	150°C	PDF →	—
`BSC0909NS` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	30V	44A	9.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	9.6nC	1.2V	100°C	PDF →	—
`BSC090N03LS G` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5) BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Rds(on) Brak danych: Vgs(th)	N	DFN-8 5×6mm	30V	47A	— Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	—	—	PDF →	—
`BSC090N03LSG` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on) Brak danych: Vgs(th)	N	DFN-8	30V	13A	9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	—	—	PDF →	—
`BSC090N03LSGATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	47A	9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	18nC	1V	100°C	PDF →	—
`BSC090N03MS G` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Rds(on)	N	DFN-8	30V	48A	— Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	1V	100°C	PDF →	—
`BSC090N03MSG` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on) Brak danych: Vgs(th)	N	DFN-8	30V	12A	9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	—	—	PDF →	—
`BSC090N03MSGXT` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	48A	9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	1V	100°C	PDF →	—
`BSC091N03MSCGATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	12A	9.712mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	20nC	1V	100°C	PDF →	—
`BSC100N03LSG` BSC100N03LSG Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Id Brak danych: Rds(on) Brak danych: Vgs(th)	N	DFN-8	30V	—	— Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	—	—	PDF →	—
`BSC100N03MS G` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5) BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Rds(on) Brak danych: Vgs(th)	N	DFN-8 5×6mm	30V	44A	— Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	—	—	PDF →	—
`BSC100N03MSG` BSC100N03MSG Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Id	N	DFN-8	30V	—	10mΩ Vgs=10V, 25°C	—	1V	100°C	PDF →	—
`BSC100N03MSGATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	44A	10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	23nC	1V	100°C	PDF →	—
`BSC119N03MSCG` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	11A	11.113mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	1V	100°C	PDF →	—
`BSC120N03LS G` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	30V	39A	12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	7.2nC	1V	100°C	PDF →	—
`BSC120N03LSGATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	39A	12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	15nC	2.2V	150°C	PDF →	—
`BSC120N03MSGATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	11A	12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	20nC	1V	100°C	PDF →	—
`BSC882N03LSG` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Id Brak danych: Rds(on) Brak danych: Vgs(th)	N	DFN-8	30V	—	— Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	—	—	PDF →	—
`BSC883N03LSG` BSC883N03LSG Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Id Brak danych: Rds(on) Brak danych: Vgs(th)	N	DFN-8	30V	—	— Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	—	—	Szukaj PDF →	—
`BSC886N03LS G` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on) Brak danych: Vgs(th)	N	DFN-8	30V	65A	6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	—	—	Szukaj PDF →	—
`BSC886N03LSG` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on) Brak danych: Vgs(th)	N	DFN-8	30V	13A	6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	—	—	PDF →	—
`BSC886N03LSGATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	13A	6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	26nC	2.2V	150°C	PDF →	—
`BSC8899N03MS` BSC8899N03MS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Id Brak danych: Rds(on) Brak danych: Vgs(th)	N	DFN-8	30V	—	— Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	—	—	PDF →	—
`BSC889N03LSG` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on) Brak danych: Vgs(th)	N	DFN-8	30V	13A	9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	—	—	PDF →	—
`BSC889N03MSG` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	12A	9.1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	20nC	2V	150°C	PDF →	—
`BSZ035N03MSGATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	18A	10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	74nC	1V	150°C	PDF →	—
`BSZ0500NSIATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	30A	1.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	52nC	2V	150°C	PDF →	—
`BSZ0502NSIATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	22A	30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	4.5nC	1.2V	150°C	PDF →	—
`BSZ0503NSIATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	20A	30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	4.5nC	1.2V	150°C	PDF →	—
`BSZ0589NSATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	17A	5.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	4.5nC	1.21V	150°C	PDF →	—
`BSZ088N03MSGATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	11A	10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	27nC	1V	150°C	PDF →	—
`BSZ0901NSATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	22A	2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	45nC	2.2V	150°C	PDF →	—
`BSZ0901NSIATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	25A	2.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	1.2V	150°C	PDF →	—
`BSZ0902NSATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	19A	3.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	26nC	1.2V	150°C	PDF →	—
`BSZ0902NSIATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	21A	3.7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	1.2V	150°C	PDF →	—
`BSZ100N03MSGATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	10A	9.1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	23nC	2V	150°C	PDF →	—
`BSZ130N03LSGATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	10A	13mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	13nC	2.2V	150°C	PDF →	—
`CSD16321Q5-HXY` HXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	30V	150A	2.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	4.5nC	1.2V	150°C	PDF →	—
`CSD16403Q5A-HXY` HXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	30V	150A	2.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	4.5nC	1.2V	150°C	PDF →	—
`CSD17306Q5A` Texas Instruments Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	30V	24A	3.7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	15.3nC	1.6V	150°C	PDF →	—
`CSD17307Q5A` Texas Instruments Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	30V	73A	9.712mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	0.65nC	1.3V	150°C	PDF →	—
`CSD17307Q5A-HXY` HXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	30V	50A	4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	5.9nC	2.5V	150°C	PDF →	—
`CSD17307Q5A-VB` VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	30V	120A	4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	120nC	5.5V	150°C	PDF →	—
`CSD17501Q5A` Texas Instruments Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	30V	100A	2.9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	17nC	1.8V	150°C	PDF →	—
`CSD17555Q5A` Texas Instruments Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	30V	24A	2.7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	28nC	1.9V	150°C	PDF →	—
`CSD17577Q5A` Texas Instruments Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	30V	60A	3.54mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	2.5nC	1.4V	150°C	PDF →	—
`CSD17581Q5A` Texas Instruments Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	30V	24A	3.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	54nC	1.7V	155°C	PDF →	—
`DMN3016LPS-13` Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	10.8A	8.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	11.3nC	1.4V	150°C	PDF →	—
`DMT3002LPS-13` Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	30V	240A	30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	37nC	1V	150°C	PDF →	—
`DMT3006LPS-13` Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	16A	6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	22.6nC	3V	150°C	PDF →	—
`DMT31M6LPS-13` Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	30V	150A	1.1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	123nC	1V	150°C	PDF →	—
`DMT32M5LPS-13` Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	30V	150A	30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	34nC	1V	150°C	PDF →	—
`DMT32M5LPSW-13` Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	30V	100A	30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	34nC	1V	150°C	PDF →	—
`DMTH3002LPS-13` Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	30V	100A	30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	37nC	1V	175°C	PDF →	—
`DMTH32M5LPS-13` Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	30V	170A	30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	34nC	1V	175°C	PDF →	—
`FDMC7660` onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	20A	2.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	86nC	2.5V	150°C	PDF →	—
`FDMC8651` onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	15A	6.1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	27.2nC	1.5V	150°C	PDF →	—
`IRFH8303TRPBF` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	100A	1.1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	58nC	1.7V	150°C	PDF →	—
`IRFH8307TRPBF` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	42A	1.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	50nC	1.8V	150°C	PDF →	—
`ISC011N03L5SATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	37A	30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	1.2V	150°C	PDF →	—
`ISC019N03L5SATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	28A	30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	1.2V	150°C	PDF →	—
`ISC026N03L5S` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5.1×5.9mm	30V	100A	2.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	13nC	2V	150°C	Szukaj PDF →	—
`ISC026N03L5S-HXY` HXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	30V	150A	2.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	4.5nC	1.2V	150°C	PDF →	—
`ISC037N03L5ISATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	20A	30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	1.2V	150°C	PDF →	—
`ISZ040N03L5ISATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	18A	4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	17nC	2V	150°C	PDF →	—
`ISZ065N03L5SATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	30V	12A	10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	1.2V	150°C	PDF →	—
`NTTFS4C50NTAG` onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Rds(on) Brak danych: Vgs(th)	N	DFN-8	30V	19.4A	— Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	—	—	Szukaj PDF →	—
`SM6536D1RL-HXY` HXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	30V	50A	4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	5.9nC	2.5V	150°C	PDF →	—
`BSC0909NSATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	34V	12A	9.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	15nC	1.2V	100°C	PDF →	—
`BSC0996NSATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	34V	13A	34mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	4.5nC	1.2V	150°C	PDF →	—
`BSC882N03LS G` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Rds(on) Brak danych: Vgs(th)	N	DFN-8 5×6mm	34V	100A	— Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	—	—	Szukaj PDF →	—
`BSC882N03LSGATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Id Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	34V	—	4.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	46nC	2.2V	150°C	PDF →	—
`BSC882N03MSG` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	34V	22A	2.6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	55nC	2V	150°C	PDF →	—
`BSC883N03LS G` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on) Brak danych: Vgs(th)	N	DFN-8	34V	98A	3.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	—	—	Szukaj PDF →	—
`BSC883N03LSGATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	34V	17A	3.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	34nC	2.2V	150°C	PDF →	—
`BSC883N03MSG` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	34V	19A	3.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	41nC	2V	150°C	PDF →	—
`BSC884N03MSG` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	34V	17A	4.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	34nC	2V	150°C	PDF →	—
`BSZ0909NSATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	34V	9A	12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	17nC	1.2V	100°C	PDF →	—
`AONR32340C` Alpha & Omega Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Rds(on) Brak danych: Vgs(th)	N	DFN-8	30V	12A	— Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	—	—	Szukaj PDF →	Zobacz ofertę →
`BSC007N04LS6ATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	40V	381A	0.7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	1.3V	175°C	PDF →	—
`BSC009N04LSSCATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	40V	301A	1.24mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	1.2V	175°C	PDF →	—
`BSC010N04LS` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	40V	100A	1.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	1.2V	—	PDF →	—
`BSC010N04LSI` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	40V	100A	1.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	1.2V	—	PDF →	—
`BSC010N04LSIATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	40V	100A	1.05mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	87nC	2V	150°C	PDF →	—
`BSC014N04LS` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	40V	100A	1.9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	1.2V	—	PDF →	—
`BSC014N04LSI` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	40V	100A	2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	1.2V	—	PDF →	—
`BSC014N04LSI(临时启用)` BSC014N04LSI(临时启用) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5) BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Id Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5.9×5.1mm	40V	—	2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	1.2V	—	PDF →	—
`BSC016N04LS G` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	40V	100A	40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	150nC	1.2V	150°C	PDF →	—
`BSC016N04LSGATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	40V	100A	40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	150nC	1.2V	150°C	PDF →	—
`BSC017N04NS G` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	40V	100A	1.41mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	2V	100°C	PDF →	—
`BSC018N04LS G` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	40V	100A	2.02mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	4.5nC	1.2V	100°C	PDF →	—
`BSC018N04LSGATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	40V	30A	40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	150nC	1.2V	150°C	PDF →	—
`BSC019N04LS` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	40V	100A	1.9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	1.2V	—	PDF →	—
`BSC019N04NS G` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	40V	100A	1.61mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	2V	100°C	PDF →	—
`BSC022N04LS` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	40V	100A	3.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	1.2V	150°C	PDF →	—
`BSC004NE2LS5ATMA1` BSC004NE2LS5ATMA1 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem UWAGA: Vds 25V < 30V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	25V	40A	0.45mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	238nC	2V	175°C	PDF →	—
`BSC009NE2LS5I` BSC009NE2LS5I Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem UWAGA: Vds 25V < 30V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Id Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	25V	—	25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	4.5nC	1.21V	—	PDF →	—
`BSC009NE2LS5IATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem UWAGA: Vds 25V < 30V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	25V	40A	25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	4.5nC	1.21V	150°C	PDF →	—
`BSC009NE2LSATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem UWAGA: Vds 25V < 30V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	25V	100A	1.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	1V	150°C	PDF →	—
`BSC010NE2LS` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem UWAGA: Vds 25V < 30V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	25V	100A	1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	1.2V	100°C	PDF →	—
`BSC010NE2LSATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5) BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem UWAGA: Vds 25V < 30V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5.1×5.9mm	25V	39A	1.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	1.2V	150°C	PDF →	—
`BSC010NE2LSI` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem UWAGA: Vds 25V < 30V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	25V	100A	25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	1.2V	150°C	PDF →	—
`BSC010NE2LSIATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem UWAGA: Vds 25V < 30V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	25V	100A	1.05mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	59nC	2V	—	PDF →	—
`BSC014NE2LSIATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem UWAGA: Vds 25V < 30V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	25V	100A	25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	1.2V	150°C	PDF →	—
`BSC018NE2LS` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem UWAGA: Vds 25V < 30V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	25V	100A	2.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	1.2V	150°C	PDF →	—
`BSC018NE2LSI` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem UWAGA: Vds 25V < 30V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	25V	100A	25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	1.2V	150°C	PDF →	—
`BSC018NE2LSIATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem UWAGA: Vds 25V < 30V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	25V	29A	1.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	36nC	2V	150°C	PDF →	—
`BSC024NE2LS` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem UWAGA: Vds 25V < 30V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	25V	100A	3.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	1.2V	150°C	PDF →	—
`BSC024NE2LSATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem UWAGA: Vds 25V < 30V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	25V	25A	2.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	23nC	2V	150°C	PDF →	—
`BSC026NE2LS5` BSC026NE2LS5 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5) BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem UWAGA: Vds 25V < 30V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	25V	66A	4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	4.5nC	1.21V	150°C	PDF →	—
`BSC032NE2LSATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem UWAGA: Vds 25V < 30V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	25V	84A	4.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	1.2V	150°C	PDF →	—
`BSC050NE2LS` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-8) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem UWAGA: Vds 25V < 30V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	25V	58A	5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	1.2V	100°C	PDF →	—
`BSC050NE2LSATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem UWAGA: Vds 25V < 30V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	25V	58A	7.1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	1.2V	150°C	PDF →	—
`BSZ009NE2LS5ATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem UWAGA: Vds 25V < 30V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	25V	39A	900mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	124nC	2V	150°C	PDF →	—
`BSZ011NE2LS5IATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem UWAGA: Vds 25V < 30V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	25V	35A	25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	4.5nC	1.2V	150°C	PDF →	—
`BSZ014NE2LS5IFATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem UWAGA: Vds 25V < 30V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	25V	31A	25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	4.5nC	1V	150°C	PDF →	—
`BSZ018NE2LSIATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem UWAGA: Vds 25V < 30V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	25V	22A	25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	1.2V	150°C	PDF →	—
`BSZ033NE2LS5ATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem UWAGA: Vds 25V < 30V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	25V	18A	3.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	18.3nC	2V	150°C	PDF →	—
`BSZ036NE2LSATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem UWAGA: Vds 25V < 30V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	25V	16A	3.6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	16nC	2V	150°C	PDF →	—
`BSZ060NE2LSATMA1` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-8) — form-fit w obrebie rodziny obudowy BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem UWAGA: Vds 25V < 30V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8	25V	12A	6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	9.1nC	2V	150°C	PDF →	—
`CSD16403Q5A` Texas Instruments Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5) BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem UWAGA: Vds 25V < 30V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	25V	28A	2.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	18nC	1.9V	150°C	PDF →	—
`CSD16404Q5A` Texas Instruments Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5) BSC030N03LSG nie ma Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem UWAGA: Vds 25V < 30V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-8 5×6mm	25V	81A	4.15mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	1.5nC	1.8V	150°C	PDF →	—