IRLR8259PBFInfineon Technologies ↓ Twoj uklad | N | TO-252 6.5×6.1mm | 10V | 57A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.351V | 175°C | PDF → | — |
IRFR3704ZPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 10V | 60A | 6.78mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.652V | 175°C | PDF → | — |
IRLR8259TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 10V | 57A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.351V | 175°C | PDF → | — |
IRLR7821TRLPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 10V | 65A | 7.51mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
CRSD082N10L2CRMICRO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 10V | 78A | 24mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
IRLR8256PBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 10V | 81A | 5.7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.351V | 175°C | PDF → | — |
IRFR3709ZTRLPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 10V | 86A | 5.26mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.351V | 175°C | PDF → | — |
IRFR3709ZTRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 10V | 86A | 5.26mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.351V | 175°C | PDF → | — |
IRFR3709ZTRRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 10V | 86A | 5.26mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.351V | 175°C | PDF → | — |
IRFR3711ZTRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 10V | 93A | 4.55mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.552V | 175°C | PDF → | — |
IRLR3717TRRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 10V | 120A | 3.44mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.552V | 175°C | PDF → | — |
IRLR7833Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 10V | 140A | 3.64mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.4V | 175°C | PDF → | — |
IRLR8743PBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 10V | 160A | 3.1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.351V | 175°C | PDF → | — |
IRLR8743TRLPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 10V | 160A | 3.1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.351V | 175°C | PDF → | — |
IRLR8743TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 10V | 160A | 3.1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.351V | 175°C | PDF → | — |
IRLR7843TRLPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 10V | 161A | 2.63mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.4V | 175°C | PDF → | — |
IRLR7843TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 10V | 161A | 2.63mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.4V | 175°C | PDF → | — |
AGM6080DAGM-Semi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 82A | 6.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 3V | 150°C | PDF → | — |
CJU65SN10LJiangsu Changjing Electronics Technology Co., Ltd. Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 65A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.7nC | 2.12V | — | PDF → | — |
AUIRFR3710ZTRR-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 1.351V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 14V | 75A | 8.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | 150°C | PDF → | — |
IRFR4510TRPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 1.351V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 14V | 75A | 8.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | 150°C | PDF → | — |
AGM303DAGM-Semi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 110A | 2.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
AGM403D1AGM-Semi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 120A | 2.7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1nC | 2.5V | 150°C | PDF → | — |
AP72T03GH-HFAPEC(Advanced Power Elec) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 62A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 1V | — | PDF → | — |
2080KShenzhen Fuman Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 8V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 58A | 3.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 8V | 150°C | PDF → | — |
IRLR8726TRLPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.8nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 10V | 86A | 4.05mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.8nC | 1.351V | 175°C | PDF → | — |
IRLR8726TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.8nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 10V | 86A | 4.05mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.8nC | 1.351V | 175°C | PDF → | — |
HSU60N02HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 60A | 4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 0.8V | 175°C | PDF → | — |
FDD8580-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 65A | 6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 0.5V | — | PDF → | — |
FDD8770-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 65A | 6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 0.5V | — | PDF → | — |
IRLR7821TRPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 60A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | — | PDF → | — |
BRD70N03Foshan Blue Rocket Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 62.8A | 5.6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.2V | 150°C | PDF → | — |
AUIRLR2905ZInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (23nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 13.5V | 60A | 13.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 23nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
FDD6670A-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 80A | 6.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
FDD8896-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 80A | 6.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
IPD060N03LG-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 80A | 6.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
IRFR3709ZPBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 80A | 6.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
NTD4858N-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 80A | 6.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
NTD4860N-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 80A | 6.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
PHD97NQ03LT-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 80A | 6.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
KND3306BKIA Semicon Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 25V | 80A | 263mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 4V | — | PDF → | — |
NP3090GNATLINEAR Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 10V | 90A | 3.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 2V | 150°C | PDF → | — |
IRFR1018ETRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (69nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 12V | 79A | 7.18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 69nC | 2V | 175°C | PDF → | — |
TTD90N03ATWUXI UNIGROUP MICRO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 12V | 90A | 3.6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 1.7V | 175°C | PDF → | — |
IRLR8103VPBF-IRInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (27nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 10V | 91A | 7.9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 27nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
CEU6086-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 97A | 6.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 2.04V | 175°C | PDF → | — |
UTT60N06L-TN3-R-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 97A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 2.04V | 175°C | PDF → | — |
IRFR4510TR-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (160nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 14V | 75A | 8.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 160nC | 3V | 150°C | PDF → | — |
IRLR3110ZPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (160nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 14V | 75A | 8.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 160nC | 4V | 150°C | PDF → | — |
HSU90N02HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 90A | 2.7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 0.7V | 175°C | PDF → | — |
AOD403-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 70A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.2V | 175°C | PDF → | — |
BRCS040N02DPFoshan Blue Rocket Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 95A | 3.7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 0.7V | — | PDF → | — |
IRFR1010ZTRLPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 110A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 2.04V | 175°C | PDF → | — |
SP60N03GHTHSiliup Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 1.351V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 110A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | 150°C | PDF → | — |
IRLR6225PBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (48nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 10V | 100A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 48nC | 0.5V | 150°C | PDF → | — |
PJM60N20TEPJSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (23nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 60A | 3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 23nC | 3V | 150°C | PDF → | — |
60N02-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (27nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 60A | 6.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 27nC | 0.75V | — | PDF → | — |
AOD424-MSMSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (27nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 60A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 27nC | 0.5V | 150°C | PDF → | — |
FDD306P-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (27nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 60A | 4.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 27nC | 0.75V | — | PDF → | — |
HXY60N02DHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (27nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 60A | 4.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 27nC | 0.75V | — | PDF → | — |
MS50N02MSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (27nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 60A | 6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 27nC | 0.5V | 150°C | PDF → | — |
NCE2060KWuxi NCE Power Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (27nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 60A | 6.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 27nC | 0.75V | 150°C | PDF → | — |
TSD12N06ATWUXI UNIGROUP MICRO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (30nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 60A | 6.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 1.1V | 175°C | PDF → | — |
HY1603DHUAYI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (31nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 62A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 31nC | 1.51V | 150°C | PDF → | — |
AGM303D1AGM-Semi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 100A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
AOD456-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 100A | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 0.5V | 175°C | PDF → | — |
AOD472-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 100A | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 0.5V | 175°C | PDF → | — |
FDD8580&-6-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 100A | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 0.5V | 175°C | PDF → | — |
PHD38N02LT-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 100A | 4.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 0.5V | — | PDF → | — |
VBE1206VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 100A | 4.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 0.5V | 175°C | PDF → | — |
VBZE06N02VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 100A | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 0.5V | 175°C | PDF → | — |
VBZE06N03VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 100A | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 0.5V | 175°C | PDF → | — |
VBZE30N02VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 100A | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 0.5V | 175°C | PDF → | — |
VBZE60N02VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 100A | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 0.5V | 175°C | PDF → | — |
TK4R4P06PL,RQTOSHIBA Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (48.2nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 58A | 7.1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 48.2nC | 4V | — | PDF → | — |
4060KShenzhen Fuman Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (52nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 60A | 3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 52nC | 1.11V | 175°C | PDF → | — |
AGM609DAGM-Semi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (52nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 60A | 6.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 52nC | 1.4V | 150°C | PDF → | — |
AP2055KALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 1.351V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (59.2nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 60A | 4.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 59.2nC | — | 150°C | PDF → | — |
YJD60N02AYangzhou Yangjie Elec Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (65nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 60A | 4.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 65nC | 0.62V | 175°C | PDF → | — |
AOD4144-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 60A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.6nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
AOD4144-MSMSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12.617nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 60A | 7.58mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.617nC | 1.21V | 175°C | PDF → | — |
BUK9214-30A-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 60A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.6nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
FDD6680AS-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 60A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.6nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
FDD8780-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 60A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.6nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
FDD8782-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 60A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.6nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
FDD8880-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 60A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.6nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
HXY60N03DHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 60A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.6nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
IPD30N03S2L-10-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 60A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.6nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
IRFR3707ZPBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 60A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.6nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
IRLR7821PBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 60A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.6nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
NTD4809N-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 60A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.6nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
NTD4813NH-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 60A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.6nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
SM418T9RL-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 60A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.6nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
SUD50N03-10-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 60A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.6nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
FDD8880onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 58A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 1.2V | 175°C | PDF → | Zobacz ofertę → |
IRLR7833TRLPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (33nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 10V | 140A | 4.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 33nC | 1.4V | 175°C | PDF → | — |
IRLR7833TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (33nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 10V | 140A | 4.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 33nC | 1.4V | 175°C | PDF → | — |
G50N03KGOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 65A | 65mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
FDD6670Sonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (17nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 64A | 12.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 17nC | 2V | 150°C | PDF → | — |
IRFR3707PBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (19nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 61A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 19nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
IRLR7833PBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (50nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 10V | 140A | 4.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 50nC | 1.4V | 175°C | PDF → | — |
STD100NH02LT4STD100NH02LT4 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (84nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 24V | 60A | 4.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 84nC | 1.8V | 175°C | PDF → | — |
AGM15T13DAGM-Semi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 3.2V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (30nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 75A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 3.2V | 150°C | PDF → | — |
HY1606DHUAYI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (33nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 25V | 66A | 10.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 33nC | 3V | 175°C | PDF → | — |
MS60N03MSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (28nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 60A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 28nC | 1.01V | 175°C | PDF → | — |
BUK9214-30A,118Nexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (31nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 63A | 15.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 31nC | 2.3V | 175°C | PDF → | — |
KND3504AKIA Semicon Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 1.351V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (46.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 22.5V | 70A | 7.08mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 46.5nC | — | 150°C | PDF → | — |
AOD424-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (27nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 80A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 27nC | 0.5V | — | PDF → | — |
AOD424G-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (27nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 80A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 27nC | 0.5V | — | PDF → | — |
IRLR6225-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (27nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 80A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 27nC | 0.5V | — | PDF → | — |
3060KShenzhen Fuman Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (35nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 60A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 35nC | 1.01V | 175°C | PDF → | — |
ASDM40N80KQ-RASDsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 6V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (29nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 80A | 40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 29nC | 6V | 150°C | PDF → | — |
AP2045KALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 1.351V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (32nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 80A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 32nC | — | 150°C | PDF → | — |
BCD70N07Abaocheng(Shandong Baocheng Elec) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (35nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 80A | 6.68mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 35nC | 2V | 175°C | PDF → | — |
SKTD055N03LCRMICRO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (47nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 58A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 47nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
FDD6672Aonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (33nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 65A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 33nC | 1.2V | 150°C | PDF → | — |
HY1804DHUAYI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 80A | 4.6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
STD95NH02LT4STD95NH02LT4 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (17nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 24V | 80A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 17nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
KND3403AKIA Semicon Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 1.351V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (25nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 85A | 4.55mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 25nC | — | 175°C | PDF → | — |
AOD403-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (75nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 58A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 75nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
G80N03GOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (51nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 80A | 6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 51nC | 3V | 175°C | PDF → | — |
HY3404DHUAYI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (144.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 11.73V | 147A | 3.13mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 144.5nC | 1.7V | 150°C | PDF → | — |
HYG045N03LA1DHUAYI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (60nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 80A | 3.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 60nC | 1.4V | 175°C | PDF → | — |
AGM603DAGM-Semi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 130A | 2.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
FDD86367onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (68nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 80A | 4.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 68nC | 4V | 175°C | PDF → | — |
NP82N04NDG-S18-AYNEC Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (100nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 82A | 3.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 100nC | 1.4V | — | PDF → | — |
PD616BANIKO Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 55A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 55A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.7V | 150°C | PDF → | — |
MDD50N03DMDD(Microdiode Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.02V | 150°C | PDF → | — |
SE30P50BSINO-IC Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
HSU55N02HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 55A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 55A | 5.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 0.5V | 150°C | PDF → | — |
IPD200N15N3 GInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 50A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 4V | — | PDF → | — |
50N06GChongqing Pingwei Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (24.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 10V | 50A | 1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 24.5nC | 3V | 150°C | PDF → | — |
SL50N06DSlkor(SLKORMICRO Elec.) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (30nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 10V | 50A | 14.52mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 1.22V | — | PDF → | — |
MOT50N02DMOT Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 50A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
TSM090N03CP ROGTaiwan Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 55A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 55A | 7.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 1.6V | — | PDF → | — |
IPD06N03LAGInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 50A | 7.79mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 1.21V | 175°C | PDF → | — |
IPF05N03LAGInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 50A | 6.98mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 1.21V | 175°C | PDF → | — |
DMG4468LK3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | 175°C | PDF → | — |
DMN3016LK3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | 175°C | PDF → | — |
NTD4302-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 2000mΩ Vgs=10V, 25°C | 4.5nC | 1.2V | 175°C | PDF → | — |
PHD71NQ03LT-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 2000mΩ Vgs=10V, 25°C | 4.5nC | 1.2V | 175°C | PDF → | — |
STN484D-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 2000mΩ Vgs=10V, 25°C | 4.5nC | 1.2V | 175°C | PDF → | — |
FDD6680Sonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 3.3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 55A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.2nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 55A | 17mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.2nC | 3.3V | 150°C | PDF → | — |
AMD540CE-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 50A | 14mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
AP4525GEH-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 50A | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
AP4525GH-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 50A | 14mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
AP4563GH-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 50A | 14mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
P2003ND5G-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 50A | 14mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
P2204ND5G-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 50A | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
50N04-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 8V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Vds 8V < 10V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (85nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 8V | 85A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 85nC | 8V | 175°C | PDF → | — |
AOD240-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 8V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Vds 8V < 10V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (85nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 8V | 85A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 85nC | 8V | 175°C | PDF → | — |
AOD4184-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 8V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Vds 8V < 10V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (85nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 8V | 85A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 85nC | 8V | 175°C | PDF → | — |
AOD486A-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 8V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Vds 8V < 10V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (85nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 8V | 85A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 85nC | 8V | 175°C | PDF → | — |
AP0504GH-HF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 8V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Vds 8V < 10V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (85nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 8V | 85A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 85nC | 8V | 175°C | PDF → | — |
D4184-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 8V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Vds 8V < 10V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (85nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 8V | 85A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 85nC | 8V | 175°C | PDF → | — |
FDD8444-NL-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 8V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Vds 8V < 10V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (85nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 8V | 85A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 85nC | 8V | 175°C | PDF → | — |
FDD8453LZ-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 8V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Vds 8V < 10V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (85nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 8V | 85A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 85nC | 8V | 175°C | PDF → | — |
FDD8647L-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 8V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Vds 8V < 10V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (85nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 8V | 85A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 85nC | 8V | 175°C | PDF → | — |
IPD036N04LG-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 8V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Vds 8V < 10V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (85nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 8V | 85A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 85nC | 8V | 175°C | PDF → | — |
IRFR4104TRPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 8V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Vds 8V < 10V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (85nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 8V | 85A | 4000mΩ Vgs=10V, 25°C | 85nC | 8V | 175°C | PDF → | — |
MDD1752RH-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 8V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Vds 8V < 10V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (85nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 8V | 85A | 4000mΩ Vgs=10V, 25°C | 85nC | 8V | 175°C | PDF → | — |
QN0406-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 8V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Vds 8V < 10V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (85nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 8V | 85A | 4000mΩ Vgs=10V, 25°C | 85nC | 8V | 175°C | PDF → | — |
RU4090L-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 8V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Vds 8V < 10V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (85nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 8V | 85A | 4000mΩ Vgs=10V, 25°C | 85nC | 8V | 175°C | PDF → | — |
SM4028NSUC-TRG-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 8V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Vds 8V < 10V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (85nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 8V | 85A | 4000mΩ Vgs=10V, 25°C | 85nC | 8V | 175°C | PDF → | — |
STD90N4F3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 8V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Vds 8V < 10V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (85nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 8V | 85A | 4000mΩ Vgs=10V, 25°C | 85nC | 8V | 175°C | PDF → | — |
SUD50N04-8M8P-E3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 8V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Vds 8V < 10V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (85nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 8V | 85A | 4000mΩ Vgs=10V, 25°C | 85nC | 8V | 175°C | PDF → | — |
SUD50N04-8M8P-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 8V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Vds 8V < 10V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (85nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 8V | 85A | 4000mΩ Vgs=10V, 25°C | 85nC | 8V | 175°C | PDF → | — |
TK35S04K3L-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 8V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Vds 8V < 10V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (85nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 8V | 85A | 4000mΩ Vgs=10V, 25°C | 85nC | 8V | 175°C | PDF → | — |
DC010NGDOINGTER Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 55A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.8nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 55A | 1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.8nC | 1.2V | 175°C | PDF → | — |
DOD50N03DOINGTER Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 55A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.8nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 55A | 1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.8nC | 1.2V | 175°C | PDF → | — |
FDD3706onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (16nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 50A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 16nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
N0436N-ZK-E1-AYRENESAS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 56A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (62nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 56A | 3.9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 62nC | 4V | — | PDF → | — |
IRFR4510TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 56A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (81nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 56A | 13.9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 81nC | 2.03V | 175°C | PDF → | — |
SL50N02DSlkor(SLKORMICRO Elec.) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (20nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 50A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 0.4V | 155°C | PDF → | — |
AGM405DAGM-Semi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 52A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (29nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 52A | 5.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 29nC | 2V | 150°C | PDF → | — |
HSU3004HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 55A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12.6nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 55A | 7.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.6nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
TK50P03M1(T6RSS-Q)TOSHIBA Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (25.3nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 50A | 9.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 25.3nC | 2.3V | — | PDF → | — |
15N03-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 7.5V | — | PDF → | — |
APM2054NUC-TRL-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 7.5V | — | PDF → | — |
K2046-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 7.5V | — | PDF → | — |
NTD20N03L27T4G-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 7.5V | — | PDF → | — |
NTD40N03RT4G-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 7.5V | — | PDF → | — |
NTD4815NT4G-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 7.5V | — | PDF → | — |
SM4146T9RLSPS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 55A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (16nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 55A | 3.9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 16nC | 1.52V | 150°C | PDF → | — |
AP2080KAALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 1.351V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (62.2nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 50A | 8.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 62.2nC | — | 150°C | PDF → | — |
AP2080KALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 1.351V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (99.2nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 50A | 8.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 99.2nC | — | 150°C | PDF → | — |
ISL9N312AD3_NLonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (13nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
ISL9N312AD3STonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (13nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
ISL9N312AD3STNLonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (13nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
AP30H60KALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (13.3nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13.3nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
VBE5415VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (310nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 50A | 14mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 310nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
FDD6692onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 54A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (25nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 54A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 25nC | 3V | 175°C | PDF → | — |
IRLR3103TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 55A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (50nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 55A | 19mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 50nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
IPD075N03LGInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (18nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 7.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 18nC | 2.2V | 175°C | PDF → | — |
ASDM3050KQ-RASDsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (23nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 11.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 23nC | 1.4V | 175°C | PDF → | — |
IPD060N03LGATMA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (TO-252) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (23nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 | 30V | 50A | 6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 23nC | 2.2V | 155°C | PDF → | — |
NCE3050KWuxi NCE Power Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (23nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 23nC | 1.6V | 175°C | PDF → | — |
YJD50N03AYangzhou Yangjie Elec Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (28nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 6.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 28nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
IPD100N04S4-02-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 8V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Vds 8V < 10V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (120nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 8V | 120A | 1.6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 120nC | 8V | 175°C | PDF → | — |
K80S04K3L-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 8V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Vds 8V < 10V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (120nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 8V | 120A | 5000mΩ Vgs=10V, 125°C | 120nC | 8V | 175°C | PDF → | — |
ISL9N306AD3STonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (30nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 5.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
IPD050N03LGATMA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (31nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 31nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
MOT50N03DMOT Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (32.3nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 8.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 32.3nC | 2.5V | 150°C | PDF → | — |
STN8882DSTANSON Tech. Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (41.3nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 35mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 41.3nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
TK90S06N1L,LQTOSHIBA Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (19nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 90A | 5.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 19nC | 2.5V | — | PDF → | — |
IPD50N03S2-07Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (68nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 5.77mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 68nC | 2.13V | 175°C | PDF → | — |
IPD50N03S207ATMA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (68nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 5.77mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 68nC | 2.13V | 175°C | PDF → | — |
SPD50N03S2LInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 50A < 57A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (68nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 6.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 68nC | 2.134V | 175°C | PDF → | — |
MS100N03MSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (27nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 90A | 6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 27nC | 0.5V | 150°C | PDF → | — |
BCD90N03baocheng(Shandong Baocheng Elec) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (45nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 90A | 3.34mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 45nC | 1.01V | 175°C | PDF → | — |
NP90N04VLG-E1-AYRENESAS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (90nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 90A | 3.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 90nC | 1.4V | — | PDF → | — |
NP90N055VDG-E1-AYRENESAS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (90nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 90A | 4.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 90nC | 1.4V | — | PDF → | — |
TTD120N03ATWUXI UNIGROUP MICRO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 120A | 2.6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 1.7V | 175°C | PDF → | — |
MOT100N02DMOT Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (48nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 100A | 4000mΩ Vgs=0V, temperatura nieznana | 48nC | 0.5V | 150°C | PDF → | — |
IRLR3636TRPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (125nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 97A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 125nC | 2.04V | 175°C | PDF → | — |
STD65N55F3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (125nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 97A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 125nC | 2.04V | 175°C | PDF → | — |
VBE1606VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (125nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 97A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 125nC | 2.04V | 175°C | PDF → | — |
KND3206AKIA Semicon Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (50nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 110A | 6.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 50nC | 2V | 175°C | PDF → | — |
TK1R4S04PB,LXHQTOSHIBA Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (30nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 120A | 1.9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 3V | — | PDF → | — |
HYG023N03LR1DHUAYI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (93nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 110A | 2.1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 93nC | 1.7V | 175°C | PDF → | — |
TTD160N03GTWUXI UNIGROUP MICRO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 160A | 1.6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 1.7V | 175°C | PDF → | — |
SQD100N02_3M5L4GE3SQD100N02_3M5L4GE3 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (110nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Id
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | — | 3.5mΩ Vgs=10V, 25°C | 110nC | 1.52V | — | PDF → | — |
SQD100N02-3M5L_GE3SQD100N02-3M5L_GE3 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (110nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Id
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | — | 3.5mΩ Vgs=10V, 25°C | 110nC | 1.52V | — | PDF → | — |
ASDM30N120KQ-RASDsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (63nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 120A | 2.53mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 63nC | 1.52V | 150°C | PDF → | — |
JMTK060N06AJiangsu JieJie Microelectronics Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1.351V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (103nC vs 2nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 25V | 120A | 4.55mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 103nC | 3V | 175°C | PDF → | — |