Zamienniki dla NTMFS4C029NT3G

NTMFS4C029NT3G (onsemi)auto

Typ ukladu: MOSFET N-channel
Obudowa: DFN-5x6
Wymiary: 4.9 × 3.9 × 1.5 mm

Brakuje danych: Vgs pomiaru Rds(on) — sprawdz datasheet przed dobieraniem zamiennika.

Pelne szczegoly ukladu (parametry, pinout) →

Kandydaci do weryfikacji (41)

Pierwszy wiersz = Twoj uklad. Kolejne pozycje nie spelniaja kompletu regul dla pewnego zamiennika, wiec pokazujemy je tylko jako kandydatow do recznej weryfikacji.

MPN	Polar.	Obudowa	Vds	Id	Rds(on)	Qg	Vgs(th)	Tj max	Datasheet	Sklep KolegaInformatyk
`NTMFS4C029NT3G` onsemi ↓ Twoj uklad	N	DFN-5x6 4.9×3.9mm	30V	15A	5.88mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	18.6nC	2.2V	150°C	PDF →	—
`NTMFS4C027NT1G` onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2) rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-5x6 4.9×3.9mm	30V	16.4A	4.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	18.2nC	2.1V	150°C	PDF →	—
`NTMFS4C028NT1G` onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2) rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-5x6 4.9×3.9mm	30V	16.4A	4.73mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	22.2nC	2.1V	150°C	PDF →	—
`NTMFS4C908NAT3G` onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-5x6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-5x6	30V	25.3A	4.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	8.4nC	1.32V	150°C	PDF →	—
`NTMFS4C025NT3G` onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3) rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-5x6 4.9×3.9mm	30V	20A	3.41mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	26nC	2.1V	150°C	PDF →	—
`NTMFS4C06NBT1G` onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3) rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-5x6 4.9×3.9mm	30V	20A	4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	26nC	2.1V	150°C	Szukaj PDF →	—
`NTMFS4985NFT1G` onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (30.5nC vs 18.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-5x6 4.9×3.9mm	30V	17.5A	3.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	30.5nC	2.3V	150°C	PDF →	—
`NVMFS5C460NLAFT1G-YE` onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-5x6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-5x6	40V	21A	4.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	23nC	2V	175°C	PDF →	—
`QM3052M6` UBIQ Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-5x6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-5x6	30V	62A	8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	7.4nC	1.5V	150°C	PDF →	—
`NTMFS4C324NT1G` onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3) rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-5x6 4.9×3.9mm	30V	30A	1.7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	20.8nC	2.2V	150°C	PDF →	—
`NTMFS4C10NT1G-001` onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-5x6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-5x6	30V	46A	6.95mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	18.6nC	2.2V	150°C	PDF →	—
`NTMFS4C024NT1G` onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (30nC vs 18.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-5x6 4.9×3.9mm	30V	21.7A	2.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	30nC	2.2V	150°C	PDF →	—
`NTMFS4C024NT3G` onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (30nC vs 18.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-5x6 4.9×3.9mm	30V	21.7A	2.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	30nC	2.2V	150°C	PDF →	—
`QM3054M6` UBIQ Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-5x6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-5x6	30V	97A	4.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	11.5nC	1.5V	150°C	PDF →	—
`QN3109M6N` UBIQ Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-5x6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-5x6	30V	154A	1.35mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	10nC	1.2V	150°C	PDF →	—
`NTMFS5H400NLT3G` onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3) rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-5x6 4.9×3.9mm	40V	46A	0.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	11nC	2V	150°C	PDF →	—
`NTMFS4852NT1G` onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (71.3nC vs 18.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-5x6 4.9×3.9mm	30V	16A	2.1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	71.3nC	2.5V	150°C	PDF →	—
`NTMFS4852NT3G` onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (71.3nC vs 18.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-5x6 4.9×3.9mm	30V	16A	2.1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	71.3nC	2.5V	150°C	PDF →	—
`AON6552` Alpha & Omega Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem oryginal to logic-level (Vgs(th) 2.2V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje) rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: pinout Brak danych: Rds(on) Brak danych: Vgs(th)	N	DFN-5x6 4.9×3.9mm	30V	30A	— Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	—	—	PDF →	—
`NTMFS5C442NT3G` onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5) rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2.2V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (32nC vs 18.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-5x6 4.9×3.9mm	40V	29A	2.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	32nC	4V	175°C	PDF →	—
`AON6510` Alpha & Omega Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-5x6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (42nC vs 18.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: wymiary Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-5x6	30V	28A	4.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	42nC	2.2V	150°C	PDF →	—
`NTMFS4C03NT1G` onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (45.2nC vs 18.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-5x6 4.9×3.9mm	30V	30A	2.1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	45.2nC	2.2V	150°C	PDF →	—
`NTMFS4C922NAT3G` onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-5x6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (45.2nC vs 18.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-5x6	30V	30A	1.7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	45.2nC	2.2V	150°C	PDF →	—
`QM3058M6` UBIQ Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-5x6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-5x6	30V	140A	2.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	—	1.5V	150°C	PDF →	Zobacz ofertę →
`NTMFS5C442NLTT3G` onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (50nC vs 18.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-5x6 4.9×3.9mm	40V	28A	2.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	50nC	2V	175°C	PDF →	—
`NTMFS4982NFT1G` onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (84nC vs 18.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-5x6 4.9×3.9mm	30V	26.5A	1.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	84nC	2.2V	150°C	PDF →	—
`NTMFS4C302NT1G` onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (82nC vs 18.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-5x6 4.9×3.9mm	30V	41A	1.15mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	82nC	2.2V	150°C	PDF →	—
`NTMFS4983NFT1G` onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (47.9nC vs 18.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-5x6 4.9×3.9mm	30V	160A	2.1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	47.9nC	2.3V	150°C	PDF →	Zobacz ofertę →
`NTMFS4983NFT3G` onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (47.9nC vs 18.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-5x6 4.9×3.9mm	30V	160A	2.1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	47.9nC	2.3V	150°C	PDF →	—
`NTMFS5C426NT1G` onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5) rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2.2V vs 3.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (65nC vs 18.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-5x6 4.9×3.9mm	40V	41A	1.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	65nC	3.5V	175°C	PDF →	—
`NTMFS0D9N03CGT1G` onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4) rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (131.4nC vs 18.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-5x6 4.9×3.9mm	30V	48A	0.9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	131.4nC	2.2V	175°C	PDF →	—
`NTMFS5C410NT1G` onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5) rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 2.2V vs 3.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (86nC vs 18.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-5x6 4.9×3.9mm	40V	46A	0.92mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	86nC	3.5V	175°C	PDF →	—
`NTMFS4C032NT1G` onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3) UWAGA: Id 13A < 15A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-5x6 4.9×3.9mm	30V	13A	7.35mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	15.2nC	2.1V	150°C	PDF →	—
`NTMFS4C35NT1G` onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3) UWAGA: Id 12.4A < 15A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-5x6 4.9×3.9mm	30V	12.4A	3.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	15nC	2.2V	150°C	PDF →	—
`NTMFS4C35NT3G` onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3) UWAGA: Id 12.4A < 15A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-5x6 4.9×3.9mm	30V	12.4A	3.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	15nC	2.2V	150°C	PDF →	—
`SM4513NHKPC-TRG` Sinopower Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-5x6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane Qg wyzsze (36.5nC vs 18.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: wymiary Brak danych: Id	N	DFN-5x6	30V	—	2.7mΩ Vgs=10V, 125°C	36.5nC	1.5V	—	PDF →	—
`PK5C8EA` NIKO-SEM Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-5x6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane Brak danych: wymiary Brak danych: Id	N	DFN-5x6	30V	—	2.4mΩ Vgs=10V, 100°C	—	2V	—	PDF →	—
`PK6D0BA` NIKO-SEM Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-5x6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane Brak danych: wymiary Brak danych: Id	N	DFN-5x6	30V	—	10.5mΩ Vgs=4.5V, temperatura nieznana	—	1V	—	PDF →	—
`AO6414A` Alpha & Omega Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-5x6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy UWAGA: Id 13A < 15A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (30nC vs 18.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: wymiary Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-5x6	30V	13A	7.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	30nC	1.7V	150°C	Szukaj PDF →	Zobacz ofertę →
`SM4500NHKP` Sinopower Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-5x6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (76nC vs 18.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: wymiary Brak danych: Id Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-5x6	30V	—	1.1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	76nC	1.6V	—	PDF →	—
`NTMFS4946NT1G` onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5) UWAGA: Id 12.7A < 15A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (53nC vs 18.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-5x6 4.9×3.9mm	30V	12.7A	3.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	53nC	2.5V	150°C	PDF →	—
`IRFH7440TRPBF` Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (8) wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (DFN-5x6) — form-fit w obrebie rodziny obudowy pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (DFN-5x6) i polaryzacja N — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci verify-switching-losses-in-circuit Qg wyzsze (138nC vs 18.6nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching Brak danych: wymiary Brak danych: pinout Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)	N	DFN-5x6	32V	159A	1.82mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana	138nC	2.2V	125°C	PDF →	—

Niezgodne lub nieobsługiwane propozycje ze źródeł (8)

AON6414: dimensions-out-of-tolerance
NTMFS4821NT1G: id-too-low
NTMFS4841NHT1G: id-too-low
NTMFS4926NT1G: id-too-low
NTMFS4927NT3G: id-too-low
NTMFS4955NT1G: id-too-low
NTMFS4955NT3G: id-too-low
NTMFS4C09NT1G-001: id-too-low