SI4435DVishay Siliconix ↓ Twoj uklad | P | SO-8 4.9×3.9mm | — | — | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | — | Szukaj PDF → | Zobacz ofertę → |
AO4476Alpha & Omega Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 20A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 25nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
4407AHL Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 12A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.6V | — | PDF → | — |
4409KUU Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 15A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
4435GOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 10A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 1.4V | 150°C | PDF → | — |
4435BHL Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 10A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8nC | 2.5V | — | PDF → | — |
4485HL Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 13A | 40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 2.2V | — | PDF → | — |
9435KUU Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.3A | 75mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 22nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
9435-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.8A | 43mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
AGM30P10SRAGM-Semi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vds
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | — | 15A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 48nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
AGM40P13SAGM-Semi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vds
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | — | 8A | 13mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 45nC | 1.7V | 150°C | PDF → | — |
AGM40P26SAGM-Semi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vds
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | — | 6A | 32mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 16nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
AM4499P-T1-PF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 60V | 8A | 100mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | — | 150°C | PDF → | — |
AM9435SAAxelite Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.2A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
AM9435SA-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5A | 43mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
AO4240Alpha & Omega Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 24A | 3.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 87nC | 2.3V | 150°C | PDF → | — |
AO4262EAlpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 60V | 16.5A | 6.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 1.21V | 150°C | PDF → | — |
AO4264EAlpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 60V | 13.5A | 9.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 14.5nC | 1.41V | 150°C | PDF → | — |
AO4266-MSMSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 60V | 10A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 93nC | 0.91V | 150°C | PDF → | — |
AO4286Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 100V | 4A | 68mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 1.72V | 150°C | PDF → | — |
AO4286-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 100V | 6.4A | 200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 1.03V | 150°C | PDF → | — |
AO4292EAlpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 100V | 8A | 23mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 25nC | 1.62V | 150°C | PDF → | — |
AO4354Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 23A | 3.7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 23nC | 1.21V | 100°C | PDF → | — |
AO4354-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 18A | 4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 6V | 150°C | PDF → | — |
AO4401-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.8A | 42mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | — | PDF → | — |
AO4402-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 20A | 5.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.51V | 150°C | PDF → | — |
AO4402-MSMSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 12V | 20A | 5.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 43nC | 0.51V | 150°C | PDF → | — |
AO4402GAlpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 24V | 20A | 5.9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 45nC | 0.45V | 150°C | PDF → | — |
AO4403-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5A | 43mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
AO4403-MSMSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 6A | 48mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7nC | 0.5V | 150°C | PDF → | — |
AO4404-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 13A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13nC | 6V | 150°C | PDF → | — |
AO4404BAOS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 8.5A | 48mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
AO4404B-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 8.5A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
AO4405Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 36V | 6A | 50mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.5nC | 1.9V | 150°C | PDF → | — |
AO4405-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 6A | 2468mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 18nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
AO4405-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.8A | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 16nC | — | 150°C | PDF → | — |
AO4405EAlpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 6A | 45mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 16nC | 2V | 150°C | PDF → | — |
AO4406-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 8.5A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 1.4V | 150°C | PDF → | — |
AO4406-MSMSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 12A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.52V | 150°C | PDF → | — |
AO4406-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 13A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13nC | 6V | 150°C | PDF → | — |
AO4406AAlpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 100V | 13A | 11.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 17nC | 1.51V | 150°C | PDF → | — |
AO4406A-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 13A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 1.4V | 150°C | PDF → | — |
AO4406A-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 13A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13nC | 6V | 150°C | PDF → | — |
AO4406ALAlpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 100V | 13A | 11.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 16nC | 1.51V | 150°C | PDF → | — |
AO4407ElecSuper Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 12A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 46nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
AO4407-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 12A | 9.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 28nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
AO4407-MSMSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 12A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 45nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
AO4407AAlpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 12A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 39nC | 3V | 150°C | PDF → | — |
AO4407A-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 10A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11.6nC | 5.5V | 150°C | PDF → | — |
AO4407ALAlpha & Omega Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 12A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 39nC | 3V | 150°C | PDF → | — |
AO4407CAlpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 24V | 14A | 11.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.8V | — | PDF → | — |
AO4408-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 13A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13nC | 6V | 150°C | PDF → | — |
AO4409Alpha & Omega Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 15A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 18nC | 1.9V | 150°C | PDF → | — |
AO4409-MSMSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 15A | 7.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 100nC | 1.4V | 150°C | PDF → | — |
AO4409-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vds
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | — | 13.5A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13.5nC | 0.6V | 150°C | PDF → | — |
AO4410-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 15A | 6.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.6nC | 1.5V | — | PDF → | — |
AO4410-MSMSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 15A | 15mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.617nC | 1.52V | 150°C | PDF → | — |
AO4411Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 8A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 23nC | 2V | 150°C | PDF → | — |
AO4411-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 9A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 18nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
AO4411-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.8A | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 16nC | — | 150°C | PDF → | — |
AO4413Alpha & Omega Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 15A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9nC | 2.5V | 150°C | PDF → | — |
AO4413-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vds
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | — | 13.5A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13.5nC | 0.6V | 150°C | PDF → | — |
AO4419Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 9.7A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 19nC | 2V | 150°C | PDF → | — |
AO4419-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 9A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 18nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
AO4419-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 9A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
AO4420-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 13A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13nC | 6V | 150°C | PDF → | — |
AO4421Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 60V | 6.2A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 55nC | 2V | 150°C | PDF → | — |
AO4421-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 60V | 8A | 1000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1nC | 2.5V | 175°C | PDF → | — |
AO4423-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vds
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | — | 13.5A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13.5nC | 0.6V | 150°C | PDF → | — |
AO4423LAlpha & Omega Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 17A | 6.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 57nC | 2.1V | — | PDF → | — |
AO4425Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 38V | 14A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 63nC | 2.5V | 150°C | PDF → | — |
AO4425-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 11.6A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11.6nC | 5.5V | 150°C | PDF → | — |
AO4430-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 18A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.6nC | 1.2V | — | PDF → | — |
AO4430-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 18A | 4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 6V | 150°C | PDF → | — |
AO4433-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 9A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
AO4435Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 10.5A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 29nC | 2.3V | 150°C | PDF → | — |
AO4435-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 9A | 16mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 22nC | 2V | 150°C | PDF → | — |
AO4435-MSMSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 9A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
AO4435-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 9A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
AO4437-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 13A | 5000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 0.5V | 150°C | PDF → | — |
AO4438Alpha & Omega Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 60V | 8.2A | 4600mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.6nC | 6.3V | 150°C | PDF → | — |
AO4441Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 60V | 4A | 100mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.5nC | 2.1V | 150°C | PDF → | — |
AO4441-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 60V | 8A | 1000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1nC | 2.5V | 175°C | PDF → | — |
AO4443-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 13A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 35nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
AO4443-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 5.8A | 1000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 16.1nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
AO4446-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 9A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13nC | 6V | 150°C | PDF → | — |
AO4447AAlpha & Omega Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 17A | 5.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 130nC | 1.2V | 150°C | Szukaj PDF → | — |
AO4447A-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vds
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | — | 13.5A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13.5nC | 0.6V | 150°C | PDF → | — |
AO4449Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 7A | 34mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 16nC | 2.4V | 150°C | PDF → | — |
AO4449-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 9A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 18nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
AO4449-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.8A | 5000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 7V | 150°C | PDF → | — |
AO4453-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 60V | 16A | 3240mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.5V | 150°C | PDF → | — |
AO4454-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 100V | 9A | 200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 1.03V | 150°C | PDF → | — |
AO4459Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 6.5A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 16nC | 2.5V | 150°C | PDF → | — |
AO4459-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.8A | 43mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
AO4459-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.8A | 5000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 16nC | 7V | 150°C | PDF → | — |
AO4466Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 10A | 23mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8.6nC | 1.52V | 150°C | PDF → | — |
AO4466-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 8.5A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
AO4468Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 10.5A | 17mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 1.21V | 150°C | PDF → | — |
AO4468-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 13A | 8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | — | PDF → | — |
AO4476A-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 11A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13nC | 6V | 150°C | PDF → | — |
AO4480Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 14A | 11.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 22nC | 0.71V | 150°C | PDF → | — |
AO4480-MSMSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 14A | 810mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 22nC | — | 125°C | PDF → | — |
AO4480-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 12.4A | 14mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 50nC | 6V | 150°C | PDF → | — |
AO4484Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 120A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 37nC | 1.72V | 150°C | PDF → | — |
AO4485Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 10A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 55nC | 1.9V | 150°C | PDF → | — |
AO4485&-20-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 16.1A | 1000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 16.1nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
AO4486Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 100V | 4.2A | 79mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 2.7V | 150°C | PDF → | — |
AO4492Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 14A | 9.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 18nC | 2.2V | 150°C | PDF → | — |
AO4492-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 13A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13nC | 6V | 150°C | PDF → | — |
AO4496Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 10A | 19.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13nC | 1.41V | 150°C | PDF → | — |
AO4498Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 82.5V | 18A | 5.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 44.5nC | 1.31V | 150°C | PDF → | — |
AO4566Alpha & Omega Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 12A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.7nC | 1.31V | — | PDF → | — |
AO4606Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 6A | 1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 16nC | 1.21V | 150°C | PDF → | — |
AO4606-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 6A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.21V | 150°C | PDF → | — |
AO4606-MSMSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 6A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.21V | 150°C | PDF → | — |
AO4611Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 60V | 4.9A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 55nC | 1.52V | 110°C | PDF → | — |
AO4611-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 60V | 5.3A | 4300mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.3nC | 6V | 150°C | PDF → | — |
AO4612JSMSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 60V | 4.5A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10.5nC | 3V | 150°C | PDF → | — |
AO4612-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 60V | 8.5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.75V | 150°C | PDF → | — |
AO4612-MSMSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 60V | 4A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | 150°C | PDF → | — |
AO4614-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 6.5A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
AO4614-MSMSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 7.2A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
AO4614BAlpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 6A | 910mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10.8nC | 1.72V | 110°C | PDF → | — |
AO4614B-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 6.5A | 45mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
AO4614BLAlpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 6A | 910mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.3nC | 1.72V | 110°C | PDF → | — |
AO4616AOS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 8A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1.4nC | 1.21V | 150°C | PDF → | — |
AO4616-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 7A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1.4nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
AO4616LAlpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 8A | 16mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.5nC | 1.21V | 150°C | PDF → | — |
AO4618-JSMJSMSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 8A | 3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
AO4627Alpha & Omega Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 4.5A | 50mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 2.5V | 150°C | PDF → | — |
AO4629Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 6A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.3nC | 2.4V | 150°C | PDF → | — |
AO4630Alpha & Omega Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 1.45V | 150°C | PDF → | — |
AO4630-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 7A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1.4nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
AO4702Alpha & Omega Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (7)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vds
- Brak danych: Id
- Brak danych: Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | — | — | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | — | Szukaj PDF → | — |
AO4724-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 13A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13nC | 6V | 150°C | PDF → | — |
AO4726-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 18A | 4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 6V | 150°C | PDF → | — |
AO4728-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 15A | 4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 6V | 150°C | PDF → | — |
AO4800Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 6.9A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12nC | 0.711V | 150°C | PDF → | — |
AO4800-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 8.5A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → | — |
AO4800-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 6.8A | 5000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
AO4800B-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 8.5A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → | — |
AO4801-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 7.3A | 35mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.3nC | 4.5V | 150°C | PDF → | — |
AO4801A-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.3A | 42mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.6V | — | PDF → | — |
AO4803-MSMSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5A | 52mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.9V | 150°C | PDF → | — |
AO4803AAOS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 2.5V | 150°C | PDF → | — |
AO4803A-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.3A | 42mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.6V | — | PDF → | — |
AO4803A-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 7.3A | 35mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.3nC | 4.5V | 150°C | PDF → | — |
AO4805Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 9A | 15mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 2.3V | 150°C | PDF → | — |
AO4805-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 8.5A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1V | — | PDF → | — |
AO4805-MSMSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 8.5A | 7.1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 28.44nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
AO4805&19-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 8.3A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 4.5V | 150°C | PDF → | — |
AO4806Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 9.4A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 17.9nC | 0.5V | 150°C | PDF → | — |
AO4806-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 10V | 7.1A | 19mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.6V | 150°C | PDF → | — |
AO4812-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 6A | 42mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.21V | — | PDF → | — |
AO4812-MSMSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 6A | 42mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.26nC | 1.8V | 150°C | PDF → | — |
AO4812-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 6.8A | 5000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
AO4813Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 7.1A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 19nC | 2V | 150°C | PDF → | — |
AO4813-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 8A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 4.5V | 150°C | PDF → | — |
AO4815&-19-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 8.5A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 4.5V | 150°C | PDF → | — |
AO4816-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 7.2A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 22nC | 5.2V | 150°C | PDF → | — |
AO4818Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 8A | 19mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 18nC | 1.21V | 150°C | PDF → | — |
AO4818-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 8.5A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → | — |
AO4818-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 8.5A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 14.5nC | 5.2V | 150°C | PDF → | — |
AO4818BAlpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 8A | 19mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 18nC | 1.21V | 150°C | PDF → | — |
AO4821-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 8.9A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | 150°C | PDF → | — |
AO4822JSMSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 51.9V | 8A | 19mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8nC | 1.01V | — | PDF → | — |
AO4822-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 8.5A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | 150°C | PDF → | — |
AO4822AAlpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 8A | 19mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.5nC | 1.21V | 150°C | PDF → | — |
AO4822A-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 8.5A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → | — |
AO4826Alpha & Omega Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 60V | 6.3A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 18nC | 2.5V | 175°C | Szukaj PDF → | — |
AO4826-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 60V | 7A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 4.5V | 175°C | PDF → | — |
AO4828Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 60V | 6.5A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 50nC | 0.741V | 150°C | PDF → | — |
AO4828-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 60V | 6.5A | 36mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 50nC | 1.4V | — | PDF → | — |
AO4828-MSMSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 60V | 6.5A | 36mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 50nC | 1.01V | 150°C | PDF → | — |
AO4828-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 60V | 7A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 4.5V | 175°C | PDF → | — |
AO4832Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 10A | 13mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 1.51V | 150°C | PDF → | — |
AO4832-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 11.5A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 1.5V | — | PDF → | — |
AO4832-MSMSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 10A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
AO4838Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 11A | 9.6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 22nC | 1.522V | 150°C | PDF → | — |
AO4840Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 6A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10.8nC | 1.72V | 150°C | PDF → | — |
AO4840-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 60V | 7A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 4.5V | 175°C | PDF → | — |
AO4840EAlpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 6A | 23mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9nC | 1.72V | 150°C | PDF → | — |
AO4842Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 7.7A | 21mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.2nC | 1.52V | 150°C | PDF → | — |
AO4842-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 8.5A | 19mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | — | PDF → | — |
AO4842-MSMSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 28V | 6A | 17mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | 150°C | PDF → | — |
AO4842-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 8.5A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 22nC | 5.2V | 150°C | PDF → | — |
AO4862Alpha & Omega Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 4.5A | 50mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 2.5V | 150°C | PDF → | — |
AO4862-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 6.8A | 5000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
AO4882Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 8A | 19mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 1.41V | 150°C | PDF → | — |
AO4882-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 8A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.6V | — | PDF → | — |
AO4882-MSMSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 6A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.8nC | 1.62V | 150°C | PDF → | — |
AO4884Alpha & Omega Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 10A | 18.9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 22.9nC | 1.552V | — | PDF → | — |
AO4884-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 12A | 18.9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 22.9nC | 1.5V | — | PDF → | — |
AO4884-MSMSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 10A | 19mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 22.9nC | 4.5V | 150°C | PDF → | — |
AO4892Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- pinout niepotwierdzony w bazie, ale ta sama obudowa (SO-8) i polaryzacja P — uklad wyprowadzen rodziny standardowy; porownaj karte katalogowa przed lutowaniem
- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: pinout
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 100V | 4A | 68mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12nC | 1.72V | 150°C | PDF → | — |
AOSP21311CAlpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 6A | 42mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 23nC | 1.7V | 150°C | PDF → | — |
AOSP21321Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 24V | 11A | 17mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 34nC | 1.8V | 150°C | PDF → | — |
AOSP21321-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 11A | 1000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 22nC | 2V | 150°C | PDF → | — |
AOSP21357Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 16A | 8.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 50nC | 1.75V | 150°C | PDF → | — |
AP20P30SALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 15A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 55nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
AP3P050MAPEC(Advanced Power Elec) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.6A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.71nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
AP4407ALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 12A | 13mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 45nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
AP4407CALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 12A | 19mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 60nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
AP4407GM-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 11.6A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11.6nC | 5.5V | 150°C | PDF → | — |
AP4409AGEMAPEC(Advanced Power Elec) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 35V | 14.5A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
AP4409SALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 12A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | — | PDF → | — |
AP4435ALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 10.5A | 14mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.7V | 150°C | PDF → | — |
AP4435CALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 10A | 23mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
AP4435GMAPEC(Advanced Power Elec) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 9A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1V | — | PDF → | — |
AP4435GM-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 9A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
AP4439GMAPEC(Advanced Power Elec) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 13.3A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
AP4953GMAPEC(Advanced Power Elec) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 25A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1V | — | PDF → | — |
AP6679GM-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vds
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | — | 13.5A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13.5nC | 0.6V | 150°C | PDF → | — |
AP9435AA Power microelectronics Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 6A | 43mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.8nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
AP9435GMAPEC(Advanced Power Elec) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.3A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 14.6nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
AP9435GM-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.8A | 5000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 24nC | 7V | 150°C | PDF → | — |
AP9563M-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 16.1A | 1000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 16.1nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
AP9564GM-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 10.2A | 1000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 16.1nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
AP9575GM-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 60V | 8A | 1000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1nC | 2.5V | 175°C | PDF → | — |
AP9579GMAPEC(Advanced Power Elec) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 10V | 7.3A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
APM4301KC-TRL-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 18A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 84nC | 5.5V | 150°C | PDF → | — |
APM4303KC-TRL-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vds
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | — | 13.5A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13.5nC | 0.6V | 150°C | PDF → | — |
APM4435KC-TRL-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 9A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
APM4925KC-TRL&19-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 8.5A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 4.5V | 150°C | PDF → | — |
APM4953KC-TRGAnpec Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 4.9A | 80mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.6nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
APM9435ALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.3A | 50mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.7V | — | PDF → | — |
APM9435KC-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.8A | 5000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 24nC | 7V | 150°C | PDF → | — |
AS4435SAnBon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 11A | 16mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
AUIRF7207QInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 5.4A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 0.7V | 150°C | PDF → | — |
AUIRF7416QTRPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 9A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
BLM4407BL(Shanghai Belling) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 12A | 11.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 55.3nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
BLM4953BL(Shanghai Belling) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.1A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
BLM9435BL(Shanghai Belling) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.1A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
BR4407Foshan Blue Rocket Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 12A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 37.2nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
BRCS070P03SCFoshan Blue Rocket Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 16A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
BRCS4435SCFoshan Blue Rocket Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 8.8A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 17nC | 1.7V | 150°C | PDF → | — |
BRCS9435SCFoshan Blue Rocket Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 50A | 42mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.7V | 175°C | PDF → | — |
BSO080P03NS3 GInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 14.8A | 8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 81nC | 2.5V | 150°C | PDF → | — |
BSO080P03NS3GInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 12A | 8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 81nC | 3.1V | 150°C | PDF → | — |
BSO080P03SHXUMA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 12.6A | 8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 136nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
BSO130P03SH-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 12A | 15mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 28nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
BSO200P03S-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 9A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
BSO200P03SHXUMA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 7.4A | 1001mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 54nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
BSO201SPHInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 12A | 10.312mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1.5nC | 0.9V | — | PDF → | — |
BSO203SPNTInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 9A | 1001mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1.6nC | 0.9V | 150°C | PDF → | — |
BSO301SP-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vds
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | — | 13.5A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13.5nC | 0.6V | 150°C | PDF → | — |
BSO301SPHXUMA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 12.6A | 8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 136nC | 2V | 150°C | PDF → | — |
BSO303SPInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 7.2A | 70mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 54nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
BSO303SPHInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 7.2A | 21mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 54nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
BSO613SPV GInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 60V | 3.44A | 110mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 3V | 150°C | Szukaj PDF → | — |
BSO613SPVGXUMA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 60V | 3.44A | 130mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 3V | 150°C | PDF → | — |
CEM2163-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 13A | 5000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 0.5V | 150°C | PDF → | — |
CEM3133CET(Chino-Excel Tech) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 9.3V | 9.3A | 14mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 18nC | 1V | 133°C | PDF → | — |
CEM4311-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 9A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
CEM4435A-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 9A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
CEM6601-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 60V | 8A | 1000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1nC | 2.5V | 175°C | PDF → | — |
CHMP830JGP-A-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 9A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
CJQ13P04Jiangsu Changjing Electronics Technology Co., Ltd. Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 13A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8.2nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
CJQ4435Jiangsu Changjing Electronics Technology Co., Ltd. Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 9.1A | 23mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
CJQ4435SJiangsu Changjing Electronics Technology Co., Ltd. Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 7.3A | 26mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
CJQ60P05Jiangsu Changjing Electronics Technology Co., Ltd. Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 60V | 5A | 58mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 1.5V | — | PDF → | — |
CJQ9435Jiangsu Changjing Electronics Technology Co., Ltd. Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.1A | 105mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.6nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
DMG4407SSS-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 9.9A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20.5nC | 1.7V | 155°C | PDF → | — |
DMG4407SSS-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 18A | 5.88mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | 150°C | PDF → | — |
DMG4413LSS-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 12A | 7.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 46nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
DMG4413LSS-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 15A | 5.88mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | 150°C | PDF → | — |
DMP2022LSS-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 8A | 13mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 28.1nC | 1.1V | 150°C | PDF → | — |
DMP2022LSS-13-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 13A | 5000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.5V | 150°C | PDF → | — |
DMP2038USS-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 6.5A | 38mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 14.4nC | 1.1V | 150°C | PDF → | — |
DMP2040USS-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 7A | 26mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8.6nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
DMP2066LSS-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 6.5A | 40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 14.4nC | — | 150°C | PDF → | — |
DMP2067LSS-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 5.4A | 31mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 27.9nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
DMP3004SSS-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 16.2A | 3.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 73nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
DMP3015LSS-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 13A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 2V | 150°C | PDF → | — |
DMP3015LSS-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 15A | 5.88mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | 150°C | PDF → | — |
DMP3015LSSQ-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 13A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 2V | 150°C | PDF → | — |
DMP3020LSS-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 12A | 14mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15.3nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
DMP3020LSS-13-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 11.6A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11.6nC | 5.5V | 150°C | PDF → | — |
DMP3020LSS-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 11A | 16mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 28nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
DMP3028LSD-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 8.5A | 14mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 22nC | 1.6V | — | PDF → | — |
DMP3036SSD-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 11A | 14mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 22nC | 1.6V | — | PDF → | — |
DMP3036SSS-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 19.5A | 16mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8.8nC | 1.7V | 150°C | PDF → | — |
DMP3036SSS-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 11A | 16mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 28nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
DMP3037LSS-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.8A | 19mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 19.3nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
DMP3037LSS-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 9A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 18nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
DMP3037LSSQ-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.8A | 19mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 17.3nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
DMP3056LSD-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.3A | 42mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.6V | — | PDF → | — |
DMP3056LSS-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 6A | 45mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1.6nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
DMP3056LSS-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 6A | 2468mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 18nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
DMP3056LSSQ-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 4.9A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 17.3nC | 2.1V | 150°C | PDF → | — |
DMP3085LSD-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.3A | 42mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.6V | — | PDF → | — |
DMP3085LSS-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 3.8A | 50mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.2nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
DMP3098LSS-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 4.7A | 65mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1nC | 2.1V | 150°C | PDF → | — |
DMP3098LSS-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5A | 43mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
DMP4015SSS-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 10.1A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 47.5nC | 2V | 150°C | PDF → | — |
DMP4015SSSQ-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 9.1A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 47.5nC | 2V | 150°C | PDF → | — |
DMP4015SSSQ-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 10.2A | 1000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 16.1nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
DMP4025LSS-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 6A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 1.3V | 150°C | PDF → | — |
DMP4025LSSQ-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 6A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 14nC | 1.3V | 150°C | PDF → | — |
DMP4050SSS-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 6A | 38mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
DMP4050SSS-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 13A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 35nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
DMP6023LSS-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 60V | 6.6A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 26.5nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
DMP6110SSS-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 60V | 4.5A | 86mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.5nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
DMPH4015SSS-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 11.4A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 42.7nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
DOS4435DOINGTER Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 10A | 15mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 26nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
DTM9435-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.8A | 5000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 7V | 150°C | PDF → | — |
E10P02-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 13A | 5000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 0.5V | 150°C | PDF → | — |
ES4407ElecSuper Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 12A | 9.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | 100°C | PDF → | — |
ES9435ETERNAL Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.3A | 50mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.86nC | 1.4V | 150°C | PDF → | — |
ET4435ETERNAL Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 9.1A | 16mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.1nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
EY4409ETERNAL Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 14A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 39nC | 1.9V | 150°C | PDF → | — |
FDFS2P102onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 3.3A | 3300mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 710nC | 1.4V | 150°C | PDF → | — |
FDFS2P102Aonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 3.3A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.1nC | 1.8V | 125°C | PDF → | — |
FDFS2P103onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.3A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.3nC | 1.7V | 125°C | PDF → | — |
FDFS2P103Aonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.3A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.7nC | 1.8V | 125°C | PDF → | — |
FDFS2P106Aonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 60V | 3A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 1.6V | 125°C | PDF → | — |
FDFS2P753AZonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 3A | 150mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 2.1V | 150°C | PDF → | — |
FDFS2P753Zonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 3A | 150mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.69nC | 2.1V | 150°C | PDF → | — |
FDFS2P753Z-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5A | 43mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
FDS4141-NL-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 16.1A | 1000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 16.1nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
FDS4435Tokmas Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 12A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
FDS4435-NL -VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 7A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
FDS4435Aonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 9A | 23mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 1.7V | 150°C | PDF → | — |
FDS4435A-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 9A | 16mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 22nC | 2V | 150°C | PDF → | — |
FDS4435BZHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 9A | 16mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 22nC | 2V | 150°C | PDF → | — |
FDS4435BZ-NL-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 9A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
FDS4465onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 13.5A | 8.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1nC | 0.6V | 175°C | PDF → | — |
FDS4465-NL&-9-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vds
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | — | 11.9A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13.5nC | 0.6V | 150°C | PDF → | — |
FDS4675-F085onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 1A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 1.4V | 150°C | PDF → | — |
FDS4685onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 8.2A | 35mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8.2nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
FDS4685-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 13A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 35nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
FDS4685-NL-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 10.2A | 1000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 16.1nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
FDS4935BZ-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 11A | 14mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 22nC | 1.6V | — | PDF → | — |
FDS6375onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 8A | 32mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 26nC | 0.7V | 175°C | PDF → | — |
FDS6575onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 10A | 17mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 53nC | 0.6V | 175°C | PDF → | — |
FDS6575-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 13A | 5000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 0.5V | 150°C | PDF → | — |
FDS6576onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 11A | 14mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7nC | 0.83V | 150°C | PDF → | — |
FDS6673AZonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 14.5A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 14.5nC | 1.6V | 175°C | PDF → | — |
FDS6673BZonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 14.5A | 7.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8nC | 1.9V | 150°C | PDF → | — |
FDS6673BZ-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 15A | 5.88mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | 150°C | PDF → | — |
FDS6675-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 12A | 15mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 28nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
FDS6675Aonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 11A | 19mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 24nC | 1.6V | 175°C | PDF → | — |
FDS6675A-NL-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 11.6A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11.6nC | 5.5V | 150°C | PDF → | — |
FDS6675B-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 11.6A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11.6nC | 5.5V | 150°C | PDF → | — |
FDS6675BZonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 11A | 150mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.2nC | 2V | 150°C | PDF → | — |
FDS6675BZ-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 12A | 15mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 28nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
FDS6679onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 13A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 100nC | 3V | 175°C | PDF → | — |
FDS6679AZonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 13A | 7.79mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.9V | 150°C | PDF → | — |
FDS6679AZ-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 15A | 5.88mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | 150°C | PDF → | — |
FDS6679Zonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 13A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 71nC | 1.6V | 175°C | PDF → | — |
FDS6681Zonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 20A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 185nC | 1.8V | 150°C | PDF → | — |
FDS6681Z-NL-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 18A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 84nC | 5.5V | 150°C | PDF → | — |
FDS6681Z-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 11A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 27nC | 5.5V | 150°C | PDF → | — |
FDS6685onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 8.8A | 35mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 17nC | 1.7V | 175°C | PDF → | — |
FDS6975-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 11A | 14mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 22nC | 1.6V | — | PDF → | — |
FDS7779Zonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 16A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 70nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
FDS8433Aonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 5A | 85mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.8nC | 0.6V | 150°C | PDF → | — |
FDS8433A-Gonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 5A | 85mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.8nC | 0.6V | 150°C | PDF → | — |
FDS86267Ponsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 150V | 2.2A | 255mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 3V | 150°C | PDF → | — |
FDS9400Aonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 3.4A | 200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.4nC | 1.8V | 175°C | PDF → | — |
FDS9400A-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5A | 43mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
FDS9431Aonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 3.5A | 130mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 68.5nC | 0.6V | 150°C | PDF → | — |
FDS9431A-F085CTonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 3.5A | 130mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 68.5nC | 0.6V | 150°C | PDF → | — |
FDS9431A-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5A | 43mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
FDS9435-NL-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.8A | 5000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 7V | 150°C | PDF → | — |
FDS9435A-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5A | 43mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
FDS9435A-NL-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.8A | 5000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 24nC | 7V | 150°C | PDF → | — |
G07P04SGOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 7A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
G13P04SGOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 13A | 15mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 2.5V | 150°C | PDF → | — |
G16P03SGOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 16A | 16mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 35nC | 2.5V | 150°C | PDF → | — |
G18P03SGOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 15A | 8.1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 58nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
G2K2P10SEGOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 100V | 3.5A | 3.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 50nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
G400P06SGOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 60V | 6A | 6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 2.4V | 150°C | PDF → | — |
G6K8P15SEGOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 150V | 6A | 6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 75nC | 2.6V | — | PDF → | — |
G6P06GOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 60V | 4A | 3.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 1.8V | — | PDF → | — |
GF4435-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 9A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
GL4435-8GL Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 9A | 8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 1V | 155°C | PDF → | — |
GT700P08SGOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 80V | 3.5A | 6.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 3V | — | PDF → | — |
HAT1020RJ-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.8A | 5000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 24nC | 7V | 150°C | PDF → | — |
HAT1047R-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 11.6A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11.6nC | 5.5V | 150°C | PDF → | — |
HAT1047RJ-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 11.6A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11.6nC | 5.5V | 150°C | PDF → | — |
HAT1048RJ-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 18A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 84nC | 5.5V | 150°C | PDF → | — |
HG9435M/TRHGSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.3A | 50mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
HM4409-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vds
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | — | 13.5A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13.5nC | 0.6V | 150°C | PDF → | — |
HM4453-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 13A | 5000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.5V | 150°C | PDF → | — |
HSM01P15HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 150V | 1.3A | 780mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 3V | 150°C | PDF → | — |
HSM24P03HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 24A | 3.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
HSM3115HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 14A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | 150°C | PDF → | — |
HSM4103HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 8A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | 150°C | PDF → | — |
HSM4113HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 7.5A | 40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
HSM4115HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 8.7A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
HSM4407HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 11.5A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
HSM4435HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 9.5A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
HSM6113HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 60V | 4.1A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | 150°C | PDF → | — |
HSM6115HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 60V | 11A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
HSM8P10HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 100V | 8A | 110mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 19.8nC | 1.8V | 150°C | PDF → | — |
HSM9435HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
HXY4403SHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 6A | 48mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.5V | 150°C | PDF → | — |
HXY4407SHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 12A | 9.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 28nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
HXY4435SHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 9A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 18nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
HXY9435SHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.8A | 43mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
HYG161P10LA1SHUAYI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 6A | 135mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 24nC | 1.65V | 100°C | PDF → | — |
HYG800P10LR1SHUAYI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 8A | 72mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 53.4nC | 1.6V | 100°C | PDF → | — |
IM4435G-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 9A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
IRF6216PBF-IRInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 150V | 2.2A | 240mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 49nC | 5V | 150°C | Szukaj PDF → | — |
IRF6216TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 150V | 2.2A | 240mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 33nC | 3V | — | PDF → | — |
IRF7204PBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 12V | 5.3A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 25nC | 2.5V | 150°C | PDF → | — |
IRF7204TR-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 13A | 5000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 0.5V | 150°C | PDF → | — |
IRF7205PBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.8A | 43mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
IRF7205TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 12V | 4.6A | 130mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
IRF7240TRPBFInfineon (ex-International Rectifier) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 10.5A | 15mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 110nC | 3V | 150°C | PDF → | — |
IRF7240TRPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 10.2A | 1000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 16.1nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
IRF7241PBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 6.2A | 41mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 80nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
IRF7241PBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 13A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 35nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
IRF7241TR-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 10.2A | 1000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 16.1nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
IRF7241TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 6.2A | 70mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 80nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
IRF7316PBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.3A | 42mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.6V | — | PDF → | — |
IRF7316TRPBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.3A | 42mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.6V | — | PDF → | — |
IRF7326D2TRPBFInfineon (ex-International Rectifier) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 3.6A | 100mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 25nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
IRF7328PBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 11A | 14mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 22nC | 1.6V | — | PDF → | — |
IRF7328TRPBF&-19-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 8.5A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 4.5V | 150°C | PDF → | — |
IRF7404PBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 23V | 20A | 19mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 0.4V | 150°C | PDF → | — |
IRF7404TRPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 13A | 5000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.5V | 150°C | PDF → | — |
IRF7406PBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 12V | 5.8A | 45mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 59nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
IRF7406PBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 6A | 2468mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 18nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
IRF7406TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 12V | 5.8A | 45mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 59nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
IRF7410GTRPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 60V | 16A | 3240mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | 150°C | PDF → | — |
IRF7410TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 12V | 16A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 91nC | 0.9V | 150°C | PDF → | — |
IRF7416PBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 11A | 16mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 28nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
IRF7416THXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 9A | 16mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 22nC | 2V | 150°C | PDF → | — |
IRF7416TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 10A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 92nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
IRF7416TRPBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 9A | 16mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 22nC | 2V | 150°C | PDF → | — |
IRF7416TRPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 7A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
IRF7420TRPBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 20A | 19mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | 150°C | PDF → | — |
IRF7424PBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 12A | 15mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 28nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
IRF7424TR-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 12A | 15mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 28nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
IRF7424TRPBFInfineon (ex-International Rectifier) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 11A | 22mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 110nC | 2.5V | 150°C | PDF → | — |
IRF7424TRPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 8.7A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11.6nC | 5.5V | 150°C | PDF → | — |
IRF7425TR-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vds
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | — | 13.5A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13.5nC | 0.6V | 150°C | PDF → | — |
IRF7425TRPBFInfineon (ex-International Rectifier) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 15A | 8.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 130nC | 1.2V | 150°C | PDF → | — |
IRF7425TRPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vds
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | — | 13.5A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13.5nC | 0.6V | 150°C | PDF → | — |
IRF9310TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 20A | 4.6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 165nC | 2.4V | 150°C | PDF → | — |
IRF9310TRPBF&-9-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vds
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | — | 10.9A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13.5nC | 0.6V | 150°C | PDF → | — |
IRF9317TRSlkor(SLKORMICRO Elec.) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 15A | 8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 35nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
IRF9317TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 16A | 6.6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 92nC | 2.4V | 150°C | PDF → | — |
IRF9321PBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 15A | 5.88mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | 150°C | PDF → | — |
IRF9321TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 10V | 15A | 7.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 34nC | 1.8V | 150°C | PDF → | — |
IRF9321TRPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vds
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | — | 13.5A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13.5nC | 0.6V | 150°C | PDF → | — |
IRF9328PBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 12A | 15mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 28nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
IRF9328TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 12A | 11.9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 52nC | 2.4V | 150°C | PDF → | — |
IRF9328TRPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 11.6A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11.6nC | 5.5V | 150°C | PDF → | — |
IRF9332TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 9.8A | 17.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 14nC | 1.9V | 150°C | PDF → | — |
IRF9333PBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 11A | 16mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 28nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
IRF9333TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 9.2A | 19.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 14nC | 1.8V | — | PDF → | — |
IRF9335-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5A | 43mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
IRF9335PBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.4A | 15mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.1nC | 1.8V | 150°C | PDF → | — |
IRF9335TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.4A | 15mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.1nC | 1.8V | 150°C | PDF → | — |
IRF9335TRPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.8A | 5000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 24nC | 7V | 150°C | PDF → | — |
IRF9358PBFInfineon (ex-International Rectifier) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 10V | 11A | 14mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 19nC | 1.8V | — | PDF → | — |
IRF9358PBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 11A | 14mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 22nC | 1.6V | — | PDF → | — |
IRF9388PBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 15A | 5.88mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | 150°C | PDF → | — |
IRF9388TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 10V | 12A | 11.9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 18nC | 1.8V | 150°C | PDF → | — |
IRF9388TRPBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 12A | 15mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 28nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
IRF9388TRPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vds
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | — | 13.5A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13.5nC | 0.6V | 150°C | PDF → | — |
IRF9393PBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 11A | 16mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 28nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
IRF9393TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 10V | 9.2A | 19.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 14nC | 1.8V | 150°C | PDF → | — |
JSM4435JSMSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 10A | 16.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
JSM9435JSMSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.1A | 55mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 22nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
KI4435DYKEXIN Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 8.8A | 35mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 60nC | 1.7V | 150°C | PDF → | — |
KPE4403AKIA Semicon Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 19A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 4V | 150°C | PDF → | — |
KPE4703AKIA Semicon Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 38A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 4.5V | — | PDF → | — |
KX5P02KEXIN Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 10V | 5A | 50mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.4V | — | PDF → | — |
KY4407KY Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 12A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
KY4435KY Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 6A | 16mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
KY4953KY Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.1A | 55mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 1.3V | 150°C | PDF → | — |
KY9435KY Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.1A | 43mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 1.35V | 150°C | PDF → | — |
LP0701LG-GMicrochip Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 10V | 0.7A | 1500mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | 150°C | PDF → | — |
LP4217T1GLRC Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 7A | 26mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | — | 150°C | PDF → | — |
LP4435T1GLRC Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 9.5A | 50mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 19nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
LP4565T1GLRC Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 7A | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
LPL4459LONTEN Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 6.5A | 6.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 14.6nC | 1.7V | 150°C | PDF → | — |
LPM9435SOFLOWPOWER Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.3A | 65mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 14nC | 1.7V | 175°C | PDF → | — |
MCQ05P10Y-TPMCC(Micro Commercial Components) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 100V | 4.5A | 120mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 1.8V | 150°C | PDF → | — |
MCQ4407-TPMCC(Micro Commercial Components) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 12A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
MCQ9435-TPMCC(Micro Commercial Components) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.1A | 105mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 2V | 150°C | PDF → | — |
MDS3604URH-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vds
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | — | 13.5A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13.5nC | 0.6V | 150°C | PDF → | — |
MDS3754ARH-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 16.1A | 1000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 16.1nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
ME4411-GMATSUKI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 12.5A | 8.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 83.2nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
ME4435MATSUKI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 8.8A | 15mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 38nC | 1.4V | 150°C | PDF → | — |
ME4457MATSUKI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 40V | 5.9A | 37mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 21nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
ME4473MATSUKI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 60V | 9.7A | 17mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 91.3nC | 3V | 175°C | PDF → | — |
ME4825MATSUKI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 8.6A | 16mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 54nC | 1.8V | 150°C | PDF → | — |
ME8107-GMATSUKI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 35V | 14A | 5.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 24nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
ME8107-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vds
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | — | 13.5A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13.5nC | 0.6V | 150°C | PDF → | — |
ME9435MATSUKI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.1A | 50mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
ME9435-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.8A | 5000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 16nC | 7V | 150°C | PDF → | — |
ME9435AMATSUKI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5A | 40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
MMSF7P03HDR2G-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 5.8A | 5000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 16nC | 7V | 150°C | PDF → | — |
MS9435MSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 20V | 5.3A | 50mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 23nC | 1V | 125°C | PDF → | — |
MT4435ACTR-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- SI4435D nie ma Vds i Id w bazie — ranking wg dostepnych parametrow; porownaj karte katalogowa przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| P | SO-8 4.9×3.9mm | 30V | 9A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9nC | 1V | 150°C | PDF → | — |