SL2304Slkor(SLKORMICRO Elec.) ↓ Twoj uklad | N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.3A | 3760mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.13nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
EMF50N03JSEMC Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.5A | 50mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 0.751V | 150°C | PDF → | — |
SSM3K329R,LFTOSHIBA Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.5A | 158mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1nC | 3V | 150°C | PDF → | — |
AP2328GNAPEC(Advanced Power Elec) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 2468mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 0.5V | 150°C | PDF → | — |
KAO3402KUU Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 3755mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1.3nC | 0.61V | 150°C | PDF → | — |
PJA3400_R1_00001PANJIT International Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.9A | 4.9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 0.84V | 150°C | PDF → | — |
SL3424Slkor(SLKORMICRO Elec.) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.8A | 55mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.6nC | 0.51V | 155°C | PDF → | — |
PJA3440-AU_R1_000A1PANJIT International Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 40V | 4.3A | 4.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
YFW3400CYFW Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 1V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.2A | 32mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.6nC | — | 150°C | Szukaj PDF → | — |
PJA3404_R1_00001PANJIT International Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 5.6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.33V | 150°C | PDF → | — |
PJA3404-AU_R1_000A1PANJIT International Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 5.6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.33V | 150°C | PDF → | — |
BSH108-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 1.5V | — | PDF → | — |
BSS316N-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 1.5V | — | PDF → | — |
DMN3051L-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 1.5V | — | PDF → | — |
DMN3110S-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 1.5V | — | PDF → | — |
FDN357N-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 1.5V | — | PDF → | — |
FDN359AN-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 1.5V | — | PDF → | — |
FDN361BN-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 1.5V | — | PDF → | — |
IRLML2030PBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 1.5V | — | PDF → | — |
IRLML2803PBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 1.5V | — | PDF → | — |
MGSF1N03LT1-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 1.5V | — | PDF → | — |
NDS351AN-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 1.5V | — | PDF → | — |
NDS351N-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 1.5V | — | PDF → | — |
NDS355AN-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 1.5V | — | PDF → | — |
NDS355N-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 1.5V | — | PDF → | — |
NTR4503N-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 1.5V | — | PDF → | — |
PMV45EN2R-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 1.5V | — | PDF → | — |
SI2304BDS-T1-E3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 1.5V | — | PDF → | — |
SI2304BDS-T1-GE3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 1.5V | — | PDF → | — |
SI2304DDS-T1-GE3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 1.5V | — | PDF → | — |
SI2306BDS-T1-GE3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 1.5V | — | PDF → | — |
SI2316BDS-T1-GE3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 1.5V | — | PDF → | — |
SI2316DS-T1-E3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 1.5V | — | PDF → | — |
SI2366DS-T1-GE3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 1.5V | — | PDF → | — |
SM2306SRL-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 1.5V | — | PDF → | — |
ST2304SRG-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 1.5V | — | PDF → | — |
ZXM61N03F-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 1.5V | — | PDF → | — |
ZXMN3A01F-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 1.5V | — | PDF → | — |
AO3418Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Qg wyzsze (3.2nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.8A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.2nC | 1.8V | 150°C | PDF → | — |
AO3424Alpha & Omega Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Qg wyzsze (3.2nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.8A | 80mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.2nC | 1.8V | 150°C | PDF → | — |
ME2306DMATSUKI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.2A | 40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
ME2306D-GMATSUKI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.2A | 40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
SI2318DS-T1-GE3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- Brak danych: Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.1nC | 1.1V | 150°C | PDF → | — |
SI2304DDS-T1-GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3.6nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.6A | 49mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.6nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
SM3404SRLSPS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5A | 47.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.55nC | 1.21V | 161°C | PDF → | — |
SL3402Slkor(SLKORMICRO Elec.) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 29mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.5nC | 0.9V | 150°C | PDF → | — |
NCE2304Wuxi NCE Power Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.6A | 40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
SK2306Shikues Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.6A | 40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
DMN3110S-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.1nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.3A | 54mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.1nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
DMN3110SQ-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.1nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.3A | 54mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.1nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
LPM3406B3FLOWPOWER Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.1nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.6A | 48mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.1nC | 1.8V | 150°C | PDF → | — |
IRLML0030TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.3A | 27mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.6nC | 1.31V | 150°C | PDF → | — |
YJL2304AYangzhou Yangjie Elec Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.2nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.6A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.2nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
PMV45EN2VLPMV45EN2VL Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3.66nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.1A | 200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.66nC | 2V | 150°C | PDF → | — |
CJ3406Jiangsu Changjing Electronics Technology Co., Ltd. Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.6A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | 150°C | PDF → | — |
PMV37EN2RNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3.66nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.5A | 200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.66nC | 2V | 150°C | PDF → | — |
SI2316BDS-T1-BE3Vishay Siliconix Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5.2V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.9A | 41mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 5.2V | 150°C | PDF → | — |
AO3402Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.34nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 2468mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.34nC | 0.511V | 150°C | PDF → | — |
AO3402AUMW(Youtai Semiconductor Co., Ltd.) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.34nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.34nC | 3V | 150°C | PDF → | — |
CJ3402Jiangsu Changjing Electronics Technology Co., Ltd. Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.34nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.34nC | 3V | 150°C | PDF → | — |
AO3406Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.6A | 50mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 2.5V | 150°C | PDF → | — |
IRLML0040TRPBFFUXINSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3.9nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 40V | 3.6A | 56mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.9nC | 2.5V | 150°C | Szukaj PDF → | — |
HSS3402AHUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 34mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
SI2306BDS-T1-GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 38mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.03V | 150°C | PDF → | — |
BM3402BORN Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.1A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.1nC | 0.8V | 150°C | PDF → | — |
DMG3406L-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.3nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.6A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.3nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
SM3402SRLSPS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.7nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 45.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.7nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
AP2316ALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.8nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 44mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.8nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
SK3414Shikues Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.4V | — | PDF → | — |
SI2316BDS-T1-GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5.2V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.5A | 41mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 5.2V | 150°C | PDF → | — |
DMG3418L-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 70mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.5nC | 0.5V | 150°C | PDF → | — |
DMN100-7-FDiodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 170mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.5nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
SI2304DDS-T1-BE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.7nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.3A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.7nC | 2.2V | 150°C | PDF → | — |
ZXMN3B14FTADiodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.7nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.5A | 80mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.7nC | 0.7V | 150°C | PDF → | — |
SM2306SRLSPS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.8nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 27mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.8nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
AO3434Alpha & Omega Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.2nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.5A | 52mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.2nC | 1.8V | 150°C | PDF → | — |
HSS3404AHUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.6A | 27mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
PMV28ENEARNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.38nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.4A | 2837mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.38nC | 5V | 175°C | PDF → | — |
SI2356DS-T1-GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 3.8V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.3nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 40V | 4.3A | 70mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.3nC | 3.8V | 150°C | PDF → | — |
PMV42ENERNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.59nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.4A | 2936mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.59nC | 2V | 150°C | PDF → | — |
SK2304AAShikues Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (8.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.6A | 70mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8.5nC | 2.2V | — | PDF → | — |
ZXMN3F30FHTADiodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.7nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.8A | 47mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.7nC | 1.03V | 150°C | PDF → | — |
DMN3053L-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.3nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.3nC | 1.4V | 150°C | PDF → | — |
SL3404Slkor(SLKORMICRO Elec.) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5A | 2528mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | 150°C | PDF → | — |
ST3400SRGSTANSON Tech. Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.7nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.5A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.7nC | 0.5V | 150°C | PDF → | — |
DMN3404L-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3.8nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 24mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.8nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
DMG3402L-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5A | 42mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 0.4V | — | PDF → | — |
DMN3150L-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5A | 42mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 0.4V | — | PDF → | — |
DMN3300U-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5A | 42mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 0.4V | — | PDF → | — |
DMN3730U-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5A | 42mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 0.4V | — | PDF → | — |
IRLML6346PBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5A | 42mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 0.4V | — | PDF → | — |
IRLML6346TRPBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5A | 42mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 0.4V | — | PDF → | — |
PMV40UN2R-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5A | 42mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 0.4V | — | PDF → | — |
ZXMN3B01F-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5A | 42mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 0.4V | — | PDF → | — |
AO3400MI-MSMSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 0.5V | 150°C | PDF → | — |
WST3408Winsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.5A | 32mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 2V | — | PDF → | — |
SL2318Slkor(SLKORMICRO Elec.) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.8nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 40V | 4.1A | 29mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.8nC | 1.2V | 150°C | PDF → | — |
SK3402Shikues Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (8.512nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.2A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8.512nC | 2.5V | — | PDF → | — |
HSS3400AHUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.5A | 19mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 0.9V | 150°C | PDF → | — |
AP3400ALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 52mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.4V | 150°C | PDF → | — |
AP3400SALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 29mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.4V | 150°C | PDF → | — |
AP3404ALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 34mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 2.5V | 150°C | PDF → | — |
ASDM3400ZA-RASDsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 29mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.71V | 150°C | PDF → | — |
ATM3400NSAAgertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 27mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.7V | 150°C | PDF → | — |
CJ3400Jiangsu Changjing Electronics Technology Co., Ltd. Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.7V | 150°C | PDF → | — |
CJ3400AJiangsu Changjing Electronics Technology Co., Ltd. Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.7V | 150°C | PDF → | — |
FS3400MLT1 A09TFOSAN Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 3238mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.6V | 150°C | PDF → | — |
HD3400High Diode Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.7V | 150°C | PDF → | — |
MEM2310XGMICRONE(Nanjing Micro One Elec) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 5.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.88V | 150°C | PDF → | — |
SI3400A-TPMCC(Micro Commercial Components) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 0.7V | 150°C | PDF → | — |
AO3434AAlpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 52mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 0.71V | 150°C | PDF → | — |
BRCS3402MAFoshan Blue Rocket Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 44mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 0.85V | 150°C | PDF → | — |
DMG3402L-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.4V | 150°C | PDF → | — |
DMG3402LQ-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 65mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.4V | 150°C | PDF → | — |
LN4812LT1GLRC Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 4.5V | 150°C | PDF → | — |
P3203CMGNIKO Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6A | 32mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1V | — | PDF → | — |
TSM240N03CX RFGTaiwan Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 17mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 1.4V | 150°C | PDF → | — |
TW1754SL-XTWGMC Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.3A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9nC | 0.5V | 150°C | PDF → | — |
SKML2502Shikues Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (8.512nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.5A | 35mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8.512nC | 0.6V | — | PDF → | — |
SI2336DS-T1-GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 2.7V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.2nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.2A | 100mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.2nC | 2.7V | 150°C | PDF → | — |
LM3400Leiditech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.8nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 21mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.8nC | 0.9V | 150°C | PDF → | — |
YJL3400AYangzhou Yangjie Elec Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.8nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 21mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.8nC | 0.9V | 150°C | PDF → | — |
ASDM3404ZA-RASDsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 2.5V | 150°C | PDF → | — |
YFW3400AYFW Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.2A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 0.85V | 150°C | PDF → | — |
DMN4035L-13Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.9nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 40V | 4.6A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.9nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
DMN4035L-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.9nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 40V | 4.6A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.9nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
ATM3404NSAAgertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
MDD2306MDD(Microdiode Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5A | 3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 1.02V | 150°C | PDF → | — |
AS3404AnBon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.2nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.2nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
YJL3404AYangzhou Yangjie Elec Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.2nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 21mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.2nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
BSS306NH6327-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 1.5V | — | PDF → | — |
DMG3404L-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 1.5V | — | PDF → | — |
DMG3406L-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 1.5V | — | PDF → | — |
DMN3033LSNQ-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 1.5V | — | PDF → | — |
DMN3070SSN-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 1.5V | — | PDF → | — |
DMN3404L-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 1.5V | — | PDF → | — |
FDN537N-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 1.5V | — | PDF → | — |
IRFML8244TRPBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 1.5V | — | PDF → | — |
SI2338DS-T1-GE3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 1.5V | — | PDF → | — |
SQ2348ES-T1_GE3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 1.5V | — | PDF → | — |
SI2366DS-T1-BE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.5A | 36mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 5.5V | 150°C | PDF → | — |
3400HGOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.2nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 961.45mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.2nC | 0.65V | 150°C | PDF → | — |
BLM3404BL(Shanghai Belling) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.2nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 25.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.2nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
NCE3404Wuxi NCE Power Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.2nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 36mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.2nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
WST3400SWinsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 27mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.5nC | 0.8V | 150°C | PDF → | — |
HL3400hongjiacheng Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.6nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 50mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.6nC | 0.65V | 150°C | PDF → | — |
TSM2318CX RFGTaiwan Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 40V | 3.9A | 40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
IRLML6344TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.8nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.8nC | 0.5V | 150°C | PDF → | — |
SI2336DS-T1-BE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4.3A | 42mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
NDS351NNDS351N Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (23.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 4A | 185mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 23.5nC | 0.81V | 150°C | PDF → | — |
SI2366DS-T1-GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.8nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.8nC | 5.5V | 150°C | PDF → | — |
SI2318CDS-T1-BE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4.7V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 40V | 4.3A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9nC | 4.7V | 150°C | PDF → | — |
PMV40UN2RNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 1V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (712nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.7A | 3644mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 712nC | — | 150°C | PDF → | — |
SI2318DS-T1-E3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 40V | 3.9A | 36mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 3V | 150°C | PDF → | — |
CJ3434Jiangsu Changjing Electronics Technology Co., Ltd. Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5A | 42mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
PMV20ENRNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7.21nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6A | 1721mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7.21nC | 2V | 150°C | PDF → | — |
2SK2980ZZ-TR-E-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
2SK3105-T1B-A-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
2SK3290-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
AFN3404S23RG-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
AM2308N-T1-PF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
AM2308NE-T1-PF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
AM2336N-T1-PF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
AO3400-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
AO3400A-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
AO3402-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
AO3404-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
AO3416-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
AO3434-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
AP2306AGN-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
APM2308AC-TRL-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
BSH103-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
BSS316N-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
CES2314-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
CES2320-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
DMG3420U-7-F-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
DMG6968U-7-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
DMG6968U-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
DMN100-7-F-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
DMN3404L-7-F-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
FDN337N-NL-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
FDN359AN-NL-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
FDN372S-NL-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
G2306A-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
HM3400C-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
IRLML0040TRPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
IRLML2030TRPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
IRLML2803TRPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
KD2306A-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
KD3400SRG-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
ME2304-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
ME2306A-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
ME2308S-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
ME2310-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
MTN2306AN3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
NTR4170NT1G-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
NTR4503NT1G-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
NX3020NAK-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
P3203CMG-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
PM606BA-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
PMV40UN-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
RTR025N03TL-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
RTR040N03TL-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
SI2306BDS-T1-GE3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
SI2318CDS-T1-GE3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
SI2338DS-T1-GE3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
SI2356DS-T1-GE3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
SM2312NSA-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
SM2320NSA-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
SPN2306WS23RGB-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
SPN2318S23RGB-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
SPN3400S23RG-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
SSC8034GS6-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
SSM3K329R-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
SSM3K333R-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
SSM3K335-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 4000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
ST2304-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
ST2306S23RG-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
ST2306SRG-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
STK003SF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
UT2304G-AE3-R-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
UT3404-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
VB1330VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 2000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
VBZ3400VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 2000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
VBZ3400BVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 2000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
WNM3003-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
XP151A11B0MR-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.5A | 3200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
PMV13XNRPMV13XNR Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6.69nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 7A | 13.516mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.69nC | 0.9V | 150°C | PDF → | — |
DMN3051L-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 38mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9nC | 2.2V | 150°C | PDF → | — |
PMV30ENEARNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11.7nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 40V | 4.8A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11.7nC | 2.5V | 175°C | PDF → | — |
BLM3400BL(Shanghai Belling) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 59mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.5nC | 0.9V | 150°C | PDF → | — |
NCE3400Wuxi NCE Power Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.5nC | 0.9V | 150°C | PDF → | — |
PJM3400NSAPJSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.5nC | 3V | 150°C | PDF → | — |
PMV15ENEARNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.514nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 150mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.514nC | 5V | 175°C | PDF → | — |
SL3400Slkor(SLKORMICRO Elec.) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 59mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.5nC | 0.7V | 150°C | PDF → | — |
WTM3400WPMtek(Wei Pan Microelectronics) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 5.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.5nC | 0.9V | 150°C | PDF → | — |
AO3480Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.7A | 26.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.05V | 150°C | PDF → | — |
JSM3400JSMSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.7nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 35mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.7nC | 0.71V | 150°C | PDF → | — |
KO3400KEXIN Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.7nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.7nC | 1.1V | 150°C | PDF → | — |
SM3400SRLSPS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.7nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.7nC | 0.71V | 150°C | PDF → | — |
UT3400G-AE3-RUTC(Unisonic Tech) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.7nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 22.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.7nC | 1.1V | 150°C | PDF → | — |
AO3404GOODWORK Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.8nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.8nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
AO3404AAlpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.8nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.8nC | 1.52V | 150°C | PDF → | — |
AO3400Alpha & Omega Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 41mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 0.9V | 150°C | Szukaj PDF → | Zobacz ofertę → |
AO3400-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 41mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 0.9V | — | PDF → | — |
DMG3418L-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 41mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 0.9V | — | PDF → | — |
DMN3042L-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 41mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 0.9V | — | PDF → | — |
HXY3400AIHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 41mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 0.9V | — | PDF → | — |
IRLML2030TRPBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 41mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 0.9V | — | PDF → | — |
IRLML6344PBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 41mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 0.9V | — | PDF → | — |
PJM3400NSCPJSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 3V | 150°C | PDF → | — |
SM3400SRL-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 41mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 0.9V | — | PDF → | — |
MDD3400MDD(Microdiode Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 32mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10.5nC | 1.2V | 150°C | PDF → | — |
AGM3400ELAGM-Semi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 1V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (17nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 17nC | — | 150°C | PDF → | — |
PMV25ENEARNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12.618nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.5A | 150mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.618nC | 2V | 150°C | PDF → | — |
ATM6402NSAAgertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.1A | 22mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
AO3400AAlpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.7A | 2468mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12nC | 0.651V | 150°C | PDF → | — |
PMV20XNERNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12.418nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.7A | 75mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.418nC | 2V | 150°C | PDF → | — |
ME2306AMATSUKI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.38A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15.5nC | 0.7V | 150°C | PDF → | — |
DMN3028LQ-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10.9nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.2A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10.9nC | 1.8V | 150°C | PDF → | — |
G3404BGOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.6A | 5.6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 1.01V | 150°C | PDF → | — |
DMG3404L-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (13.2nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13.2nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
DMN3042L-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (13.3nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 21mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13.3nC | 1.4V | 150°C | PDF → | — |
PMV19XNEARNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12.418nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6A | 1924mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.418nC | 5V | 175°C | PDF → | — |
SI2338DS-T1-GE3Vishay Siliconix Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (13nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6A | 28mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13nC | 2.5V | 150°C | Szukaj PDF → | — |
AO3480CAlpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.2A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12nC | 1.31V | 150°C | PDF → | — |
VB1330XVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (8nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 8A | 2000mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
KO3404KEXIN Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 4.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (17nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 5.8A | 43mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 17nC | 4.5V | 150°C | PDF → | — |
SSM3K333R,LF(TTOSHIBA Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6A | 18.7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 1.3V | 150°C | PDF → | — |
DMN3023L-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (18.4nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 6.2A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 18.4nC | 1.8V | 150°C | PDF → | — |
PMV52ENEARNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.2A < 3.3A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.2A | 52mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.23nC | 5V | 175°C | PDF → | — |
SK359ANShikues Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- UWAGA: Id 3A < 3.3A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3A | 65mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1.1nC | 0.6V | 125°C | PDF → | — |
IRLML2030TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- UWAGA: Id 2.7A < 3.3A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 2.7A | 260mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1nC | 1.31V | 150°C | PDF → | — |
SI2304BDS-T1-E3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- UWAGA: Id 3.2A < 3.3A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.2A | 70mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.6nC | 1.53V | 150°C | PDF → | — |
SI2304BDS-T1-GE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- UWAGA: Id 3.2A < 3.3A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.2A | 70mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.6nC | 1.53V | 150°C | PDF → | — |
PMV100ENEARNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3A < 3.3A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3.65nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3A | 300mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.65nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
PMV90ENERNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3A < 3.3A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3.65nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3A | 300mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.65nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
PMV37ENShikues Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 3.2A < 3.3A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.2A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.5V | — | PDF → | — |
SI2306BDS-T1-BE3Vishay Siliconix Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.16A < 3.3A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.5nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.16A | 47mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
PMV60ENEARNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3A < 3.3A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (3.65nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 40V | 3A | 75mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.65nC | 5V | 175°C | PDF → | — |
SI2356DS-T1-BE3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 3.8V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.2A < 3.3A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.3nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 40V | 3.2A | 51mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.3nC | 3.8V | 150°C | PDF → | — |
ATM2306NSAAgertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.16A < 3.3A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (6nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.16A | 38mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 3V | 150°C | PDF → | — |
DMG3406L-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 2.8A < 3.3A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.3nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 2.8A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.3nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
PMV65ENEARNexperia Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 2.7A < 3.3A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (4.16nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 40V | 2.7A | 75mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.16nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
ZXMN3A14FTADiodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.2A < 3.3A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.2A | 48mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
SI2316DS-T1-E3Vishay Intertech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 2.9A < 3.3A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 2.9A | 42mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7nC | 0.8V | 150°C | PDF → | — |
SI2306-TPMCC(Micro Commercial Components) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.16A < 3.3A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.16A | 400mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.03V | 150°C | PDF → | — |
DMN3150L-7Diodes Incorporated Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3.1A < 3.3A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.1A | 72mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.4V | 150°C | PDF → | — |
SI2300DS-T1-BE3Vishay Siliconix Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 1V vs 3.2V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 3.1A < 3.3A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 3.1A | 200mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 3.2V | 150°C | PDF → | — |
FDN359BNonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 2.7A < 3.3A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (7nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 30V | 2.7A | 46mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 7nC | 1.8V | 150°C | PDF → | — |
ST2318SRGSTANSON Tech. Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 3A < 3.3A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (16nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 40V | 3A | 53mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 16nC | 0.5V | 150°C | PDF → | — |
IRFML8244TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Vds 25V < 30V oryginalu — dopuszczalne TYLKO gdy napiecie w ukladzie ma zapas
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (5.4nC vs 2.13nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | SOT-23 2.9×1.6mm | 25V | 5.8A | 24mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5.4nC | 1.351V | 150°C | PDF → | — |