WSF2048Winsok Semicon ↓ Twoj uklad | N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 40A | 6.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 0.5V | 150°C | PDF → | — |
P45N02LDGNIKO Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 15mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.2V | 150°C | PDF → | — |
MOT50N02DMOT Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 50A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
HSU55N02HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 55A | 5.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 0.5V | 150°C | PDF → | — |
2080KShenzhen Fuman Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 8V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 58A | 3.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 8V | 150°C | PDF → | — |
IPF05N03LAGInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 50A | 6.98mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 1.21V | 175°C | PDF → | — |
IPD06N03LAGInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 50A | 7.79mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 1.21V | 175°C | PDF → | — |
HSU60N02HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 60A | 4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 0.8V | 175°C | PDF → | — |
AOD417-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 40A | 23mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
AOD417-MSMSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 40A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
WSF3013BWinsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 45A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1.4nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
FDD6690Aonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 46A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3.5nC | 5V | 175°C | PDF → | — |
PD636BANIKO Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 48A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.8V | 150°C | PDF → | — |
WSF3013Winsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 48A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1nC | 1.8V | 175°C | PDF → | — |
SE30P50BSINO-IC Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
DMG4468LK3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | 175°C | PDF → | — |
DMN3016LK3-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 1.2V | 175°C | PDF → | — |
MDD50N03DMDD(Microdiode Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.02V | 150°C | PDF → | — |
NTD4302-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 2000mΩ Vgs=10V, 25°C | 4.5nC | 1.2V | 175°C | PDF → | — |
PHD71NQ03LT-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 2000mΩ Vgs=10V, 25°C | 4.5nC | 1.2V | 175°C | PDF → | — |
STN484D-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 2000mΩ Vgs=10V, 25°C | 4.5nC | 1.2V | 175°C | PDF → | — |
CJU65SN10LJiangsu Changjing Electronics Technology Co., Ltd. Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 65A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.7nC | 2.12V | — | PDF → | — |
PD616BANIKO Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 55A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.7V | 150°C | PDF → | — |
TSM090N03CP ROGTaiwan Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (2)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 55A | 7.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 1.6V | — | PDF → | — |
FDD6670A-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 80A | 6.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
FDD8896-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 80A | 6.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
IPD060N03LG-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 80A | 6.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
IRFR3709ZPBF-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 80A | 6.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
NTD4858N-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 80A | 6.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
NTD4860N-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 80A | 6.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
PHD97NQ03LT-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 80A | 6.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
FDD8580-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 65A | 6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 0.5V | — | PDF → | — |
FDD8770-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 65A | 6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 0.5V | — | PDF → | — |
AGM6080DAGM-Semi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 82A | 6.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 3V | 150°C | PDF → | — |
HSU90N02HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 90A | 2.7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 0.7V | 175°C | PDF → | — |
BRCS040N02DPFoshan Blue Rocket Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 95A | 3.7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 4.5nC | 0.7V | — | PDF → | — |
2SK2926STL-E-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.02V | — | PDF → | — |
2SK3385-Z-E2-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.02V | — | PDF → | — |
640N06L-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.02V | — | PDF → | — |
FQD20N06TM-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.02V | — | PDF → | — |
HUF76429D3ST-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.02V | — | PDF → | — |
SQD25N06-22L-GE3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.02V | — | PDF → | — |
STD30NF06LT4-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.02V | — | PDF → | — |
AGM303DAGM-Semi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 110A | 2.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
AGM403D1AGM-Semi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 120A | 2.7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1nC | 2.5V | 150°C | PDF → | — |
IPD200N15N3 GInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 50A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 4V | — | PDF → | — |
AGM303D1AGM-Semi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 100A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
AOD456-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 100A | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 0.5V | 175°C | PDF → | — |
AOD472-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 100A | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 0.5V | 175°C | PDF → | — |
FDD8580&-6-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 100A | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 0.5V | 175°C | PDF → | — |
PHD38N02LT-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 100A | 4.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 0.5V | — | PDF → | — |
VBE1206VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 100A | 4.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 0.5V | 175°C | PDF → | — |
VBZE06N02VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 100A | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 0.5V | 175°C | PDF → | — |
VBZE06N03VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 100A | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 0.5V | 175°C | PDF → | — |
VBZE30N02VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 100A | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 0.5V | 175°C | PDF → | — |
VBZE60N02VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 100A | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 5nC | 0.5V | 175°C | PDF → | — |
2N0623-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 1.02V | 175°C | PDF → | — |
30N06L-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 1.02V | 175°C | PDF → | — |
AOD4130-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 1.02V | 175°C | PDF → | — |
AP9971GH-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 1.02V | 175°C | PDF → | — |
CEU20N06-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 1.02V | 175°C | PDF → | — |
CEU6060N-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 1.02V | 175°C | PDF → | — |
CEU6336-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 1.02V | 175°C | PDF → | — |
DMN6040SK3-13-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 1.02V | 175°C | PDF → | — |
DTU40N06-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 1.02V | 175°C | PDF → | — |
FQD20N06-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 1.02V | 175°C | PDF → | — |
FQD20N06LE-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 1.02V | 175°C | PDF → | — |
FQD30N06-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 1.02V | 175°C | PDF → | — |
FTD36N06N-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 1.02V | 175°C | PDF → | — |
IPD220N06L3G-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 1.02V | 175°C | PDF → | — |
IPD25N06S4L-30-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 1.02V | 175°C | PDF → | — |
IPD640N06LG-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 1.02V | 175°C | PDF → | — |
IRLR2705TRPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 1.02V | 175°C | PDF → | — |
MDD1951RH-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 1.02V | 175°C | PDF → | — |
MTD20N06HDLT4G-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 1.02V | 175°C | PDF → | — |
NTD20N06LT4G-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 1.02V | 175°C | PDF → | — |
NTD24N06LT4G-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 1.02V | 175°C | PDF → | — |
RFD16N05LSM9A-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 1.02V | 175°C | PDF → | — |
RJK0632JPD-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 1.02V | 175°C | PDF → | — |
RU60E25L-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 1.02V | 175°C | PDF → | — |
SM6018NSU-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 1.02V | 175°C | PDF → | — |
STD16NF06-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 1.02V | 175°C | PDF → | — |
STU606S-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 1.02V | 175°C | PDF → | — |
SUD23N06-31-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 1.02V | 175°C | PDF → | — |
SUD40N06-25L-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 1.02V | 175°C | PDF → | — |
TK20S06K3L-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 1.02V | 175°C | PDF → | — |
FDD6680Sonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 3.3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 55A | 17mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6.2nC | 3.3V | 150°C | PDF → | — |
AMD540CE-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 50A | 14mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
AP4525GEH-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 50A | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
AP4525GH-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 50A | 14mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
AP4563GH-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 50A | 14mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
P2003ND5G-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 50A | 14mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
P2204ND5G-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru: brak wartosci Rds(on) po co najmniej jednej stronie — wymagane sprawdzenie dokumentacji
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 50A | — Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
TDM3428BTechcode Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (8nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 45A | 9.7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8nC | 1.8V | 150°C | PDF → | — |
IRFR3710ZTRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 42A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 2V | 175°C | PDF → | — |
SM514T9RLSPS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (8.8nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 46A | 8.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 8.8nC | 1.21V | 150°C | PDF → | — |
WSF3040Winsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.8nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 43A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.8nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
BRCS120N03DPFoshan Blue Rocket Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 42A | 11.7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
IRLR3114ZPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 26.5V | 42A | 40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
AM30N06-39D-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (17nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 17nC | 1.02V | 175°C | PDF → | — |
FR1205-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (17nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 17nC | 1.02V | 175°C | PDF → | — |
HUF75321D3ST-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (17nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 17nC | 1.02V | 175°C | PDF → | — |
IRLR2905TR-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (17nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 17nC | 1.02V | 175°C | PDF → | — |
NTD20N06T4-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (17nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 17nC | 1.02V | 175°C | PDF → | — |
STD35NF06T4&-38-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (17nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 17nC | 1.02V | 175°C | PDF → | — |
SUD25N06-45L-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (17nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 17nC | 1.02V | 175°C | PDF → | — |
IRFR4104PBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (19nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 42A | 4.35mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 19nC | 2V | 175°C | PDF → | — |
IRFR4104TRLPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (19nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 42A | 4.35mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 19nC | 2V | 175°C | PDF → | — |
IRFR4104TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (19nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 42A | 4.35mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 19nC | 2V | 175°C | PDF → | — |
HY1403DHUAYI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (21nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 42A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 21nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
FDD3706onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (16nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 50A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 16nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
AGM603DAGM-Semi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 130A | 2.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 6nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
15N03-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 7.5V | — | PDF → | — |
APM2054NUC-TRL-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 7.5V | — | PDF → | — |
K2046-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 7.5V | — | PDF → | — |
NTD20N03L27T4G-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 7.5V | — | PDF → | — |
NTD40N03RT4G-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 7.5V | — | PDF → | — |
NTD4815NT4G-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 7.5V | — | PDF → | — |
SL50N02DSlkor(SLKORMICRO Elec.) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (20nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 50A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 0.4V | 155°C | PDF → | — |
DC010NGDOINGTER Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.8nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 55A | 1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.8nC | 1.2V | 175°C | PDF → | — |
DOD50N03DOINGTER Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.8nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 55A | 1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.8nC | 1.2V | 175°C | PDF → | — |
BRD50N03Foshan Blue Rocket Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (14nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 45A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 14nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
FDD8878onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 40A | 15mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 1.2V | 175°C | PDF → | — |
AOD403-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (10nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 70A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 10nC | 1.2V | 175°C | PDF → | — |
TK50P03M1(T6RSS-Q)TOSHIBA Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (25.3nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 50A | 9.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 25.3nC | 2.3V | — | PDF → | — |
AOD424Alpha & Omega Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (43nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 43nC | 0.511V | 175°C | PDF → | — |
FDD6690Sonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (17nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 40A | 24mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 17nC | 2V | 150°C | PDF → | — |
ISL9N312AD3_NLonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (13nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
ISL9N312AD3STonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (13nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
ISL9N312AD3STNLonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (13nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
AP30H60KALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (13.3nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13.3nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
NP90N06VDK-E1-AYRENESAS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (63nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 5.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 63nC | 2.1V | — | PDF → | — |
NP90N06VLK-E1-AYRENESAS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (63nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 5.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 63nC | 2.1V | — | PDF → | — |
NP90N04VUK-E1-AYRENESAS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (68nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 68nC | 3V | — | PDF → | — |
NP90N055VUK-E1-AYRENESAS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (68nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 45A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 68nC | 3V | — | PDF → | — |
AGM405DAGM-Semi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (29nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 52A | 5.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 29nC | 2V | 150°C | PDF → | — |
IPD40N03S4L08ATMA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (20nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 40A | 8.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 20nC | 1.01V | 175°C | PDF → | — |
HSU3004HUASHUO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (12.6nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 55A | 7.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 12.6nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
CEU6086-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 97A | 6.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 2.04V | 175°C | PDF → | — |
UTT60N06L-TN3-R-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 97A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 2.04V | 175°C | PDF → | — |
KND3306BKIA Semicon Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 25V | 80A | 263mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 4V | — | PDF → | — |
FDD6030BLonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (22nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 42A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 22nC | 1.6V | 175°C | PDF → | — |
PJM60N20TEPJSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (23nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 60A | 3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 23nC | 3V | 150°C | PDF → | — |
CRTD110N03LCRMICRO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (23nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 45A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 23nC | 0.8V | 175°C | PDF → | — |
AP2080KAALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 0.5V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (62.2nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 50A | 8.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 62.2nC | — | 150°C | PDF → | — |
IRFR1010ZTRLPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 110A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 2.04V | 175°C | PDF → | — |
SP60N03GHTHSiliup Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 0.5V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 110A | 60mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | — | 150°C | PDF → | — |
IPD075N03LGInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (18nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 7.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 18nC | 2.2V | 175°C | PDF → | — |
60N02-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (27nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 60A | 6.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 27nC | 0.75V | — | PDF → | — |
AOD424-MSMSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (27nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 60A | 20mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 27nC | 0.5V | 150°C | PDF → | — |
FDD306P-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (27nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 60A | 4.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 27nC | 0.75V | — | PDF → | — |
HXY60N02DHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (27nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 60A | 4.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 27nC | 0.75V | — | PDF → | — |
MS50N02MSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (27nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 60A | 6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 27nC | 0.5V | 150°C | PDF → | — |
NCE2060KWuxi NCE Power Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (27nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 60A | 6.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 27nC | 0.75V | 150°C | PDF → | — |
AP2080KALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 0.5V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (99.2nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 50A | 8.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 99.2nC | — | 150°C | PDF → | — |
TSD12N06ATWUXI UNIGROUP MICRO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (30nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 60A | 6.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 1.1V | 175°C | PDF → | — |
IRLR2905PBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (48nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 27V | 42A | 27mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 48nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
IRLR2905TRLPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (48nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 27V | 42A | 27mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 48nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
IRLR2905TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (48nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 27V | 42A | 27mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 48nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
STD40NF03LT4STMicroelectronics Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (30nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 40A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
RU3060LShenzhen ruichips Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (30nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 41A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 1.4V | 175°C | PDF → | — |
ME60N03MATSUKI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (22nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 48.5A | 6.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 22nC | 1.6V | 150°C | PDF → | — |
SM4146T9RLSPS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (16nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 55A | 3.9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 16nC | 1.52V | 150°C | PDF → | — |
FDD8880onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 58A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 1.2V | 175°C | PDF → | Zobacz ofertę → |
VBE5415VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (310nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 50A | 14mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 310nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
ASDM3050KQ-RASDsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (23nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 11.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 23nC | 1.4V | 175°C | PDF → | — |
IPD060N03LGATMA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- wymiary nieuzupelnione w bazie, ale obudowa identyczna (TO-252) — form-fit w obrebie rodziny obudowy
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (23nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: wymiary
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 | 30V | 50A | 6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 23nC | 2.2V | 155°C | PDF → | — |
NCE3050KWuxi NCE Power Semiconductor Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (23nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 23nC | 1.6V | 175°C | PDF → | — |
N0436N-ZK-E1-AYRENESAS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (62nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 56A | 3.9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 62nC | 4V | — | PDF → | — |
TK4R4P06PL,RQTOSHIBA Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (48.2nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 58A | 7.1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 48.2nC | 4V | — | PDF → | — |
AOD417-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 4.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 40A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 4.5V | 150°C | PDF → | — |
AOD425-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 4.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 40A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 4.5V | 150°C | PDF → | — |
AOD425A-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 4.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 40A | 18mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 4.5V | 150°C | PDF → | — |
IRFR4510TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (81nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 56A | 13.9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 81nC | 2.03V | 175°C | PDF → | — |
TTD85N03ATWUXI UNIGROUP MICRO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 46A | 85mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 1.6V | 175°C | PDF → | — |
4060KShenzhen Fuman Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (52nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 60A | 3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 52nC | 1.11V | 175°C | PDF → | — |
AGM609DAGM-Semi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (52nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 60A | 6.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 52nC | 1.4V | 150°C | PDF → | — |
YJD50N03AYangzhou Yangjie Elec Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (28nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 6.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 28nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
AP2055KALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 0.5V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (59.2nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 60A | 4.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 59.2nC | — | 150°C | PDF → | — |
ISL9N306AD3STonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (30nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 5.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
YJD60N02AYangzhou Yangjie Elec Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (65nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 60A | 4.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 65nC | 0.62V | 175°C | PDF → | — |
IPD050N03LGATMA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (31nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 31nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
SM3116NAUC-TRGSinopower Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 48A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 1.8V | 150°C | PDF → | — |
MOT50N03DMOT Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (32.3nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 8.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 32.3nC | 2.5V | 150°C | PDF → | — |
FDD6692onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (25nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 54A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 25nC | 3V | 175°C | PDF → | — |
HY1603DHUAYI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (31nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 62A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 31nC | 1.51V | 150°C | PDF → | — |
STN8882DSTANSON Tech. Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (41.3nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 35mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 41.3nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
STD100NH02LT4STD100NH02LT4 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (84nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 24V | 60A | 4.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 84nC | 1.8V | 175°C | PDF → | — |
STD95NH02LT4STD95NH02LT4 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (17nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 24V | 80A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 17nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
IPD50N03S2-07Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (68nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 5.77mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 68nC | 2.13V | 175°C | PDF → | — |
IPD50N03S207ATMA1Infineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (68nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 5.77mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 68nC | 2.13V | 175°C | PDF → | — |
SPD50N03S2LInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (68nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 50A | 6.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 68nC | 2.134V | 175°C | PDF → | — |
TK90S06N1L,LQTOSHIBA Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (19nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 90A | 5.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 19nC | 2.5V | — | PDF → | — |
AGM15T13DAGM-Semi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 3.2V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (30nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 75A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 3.2V | 150°C | PDF → | — |
TTD120N03ATWUXI UNIGROUP MICRO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 120A | 2.6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 1.7V | 175°C | PDF → | — |
AOD424-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (27nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 80A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 27nC | 0.5V | — | PDF → | — |
AOD424G-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (27nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 80A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 27nC | 0.5V | — | PDF → | — |
IRLR6225-HXYHXY MOSFET Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (27nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 80A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 27nC | 0.5V | — | PDF → | — |
IRLR3103TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (50nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 55A | 19mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 50nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
ASDM40N80KQ-RASDsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 6V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (29nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 80A | 40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 29nC | 6V | 150°C | PDF → | — |
KND3403AKIA Semicon Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 0.5V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (25nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 85A | 4.55mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 25nC | — | 175°C | PDF → | — |
KND3504AKIA Semicon Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 0.5V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (46.5nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 22.5V | 70A | 7.08mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 46.5nC | — | 150°C | PDF → | — |
AP2045KALLPOWER(ShenZhen Quan Li Semiconductor) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 0.5V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (32nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
- Brak danych: Vgs(th)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 80A | 10mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 32nC | — | 150°C | PDF → | — |
HY1606DHUAYI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (33nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 25V | 66A | 10.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 33nC | 3V | 175°C | PDF → | — |
SKTD055N03LCRMICRO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (47nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 58A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 47nC | 5V | 150°C | PDF → | — |
BCD70N07Abaocheng(Shandong Baocheng Elec) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (35nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 80A | 6.68mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 35nC | 2V | 175°C | PDF → | — |
MS100N03MSKSEMI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (27nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 90A | 6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 27nC | 0.5V | 150°C | PDF → | — |
HY1804DHUAYI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (40nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 80A | 4.6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 40nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
AOD403-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (75nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 58A | 9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 75nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
TTD160N03GTWUXI UNIGROUP MICRO Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (15nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 160A | 1.6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 15nC | 1.7V | 175°C | PDF → | — |
G80N03GOFORD Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (51nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 80A | 6mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 51nC | 3V | 175°C | PDF → | — |
HYG045N03LA1DHUAYI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (60nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 80A | 3.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 60nC | 1.4V | 175°C | PDF → | — |
FDD86367onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (68nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 80A | 4.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 68nC | 4V | 175°C | PDF → | — |
BCD90N03baocheng(Shandong Baocheng Elec) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (45nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 90A | 3.34mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 45nC | 1.01V | 175°C | PDF → | — |
NP82N04NDG-S18-AYNEC Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (100nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 82A | 3.4mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 100nC | 1.4V | — | PDF → | — |
TK1R4S04PB,LXHQTOSHIBA Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (30nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 120A | 1.9mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 3V | — | PDF → | — |
MOT100N02DMOT Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (48nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 100A | 4000mΩ Vgs=0V, temperatura nieznana | 48nC | 0.5V | 150°C | PDF → | — |
NP90N04VLG-E1-AYRENESAS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (90nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 90A | 3.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 90nC | 1.4V | — | PDF → | — |
NP90N055VDG-E1-AYRENESAS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (90nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 90A | 4.8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 90nC | 1.4V | — | PDF → | — |
KND3206AKIA Semicon Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (50nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 110A | 6.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 50nC | 2V | 175°C | PDF → | — |
IRLR3636TRPBF-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (125nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 97A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 125nC | 2.04V | 175°C | PDF → | — |
STD65N55F3-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (125nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 97A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 125nC | 2.04V | 175°C | PDF → | — |
VBE1606VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (125nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 97A | 5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 125nC | 2.04V | 175°C | PDF → | — |
HYG023N03LR1DHUAYI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (93nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 110A | 2.1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 93nC | 1.7V | 175°C | PDF → | — |
ASDM30N120KQ-RASDsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (63nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 120A | 2.53mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 63nC | 1.52V | 150°C | PDF → | — |
HYG025N04NA1DHUAYI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (122.6nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 22.74V | 125A | 40mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 122.6nC | 4V | 125°C | PDF → | — |
HYG023N04NR1DHUAYI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 2.8V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (82nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 22.84V | 140A | 2.32mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 82nC | 2.8V | 125°C | PDF → | — |
AP9T18GH-HFAPEC(Advanced Power Elec) Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- UWAGA: Id 38A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 38A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 0.5V | — | PDF → | — |
STD16NF06LT4STD16NF06LT4 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- UWAGA: Id 35A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 35A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 2.5nC | 1.02V | 175°C | PDF → | — |
WSF3038Winsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- UWAGA: Id 38A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 38A | 22mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1.4nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
WSF3036Winsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- UWAGA: Id 36A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 36A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1.3nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
SM3119NAUC-TRGSinopower Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- UWAGA: Id 35A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 35A | 12mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 3nC | 1.9V | 150°C | PDF → | — |
WSF3036AWinsok Semicon Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (3)- UWAGA: Id 32A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 32A | 30mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 1.2nC | 1.5V | 150°C | PDF → | — |
20N06HD-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 35A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 35A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.02V | — | PDF → | — |
20N06L TO252-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 35A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 35A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.02V | — | PDF → | — |
30N06 TO252-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 35A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 35A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.02V | — | PDF → | — |
AOD442-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 35A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 35A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.02V | — | PDF → | — |
IPD25CN10N GInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 35A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 35A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 4V | — | PDF → | — |
IPD26N06S2L-35-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 35A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 35A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.02V | — | PDF → | — |
NTD18N06LT4G-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 35A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 35A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.02V | — | PDF → | — |
NTD20N06T4G-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 35A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 35A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.02V | — | PDF → | — |
RFD16N06LESM-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 35A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 35A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.02V | — | PDF → | — |
SPD21N05L-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 35A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 35A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.02V | — | PDF → | — |
SPN9971T252-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 35A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 35A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.02V | — | PDF → | — |
SQD40N06-14L-GE3&15-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 35A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 35A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.02V | — | PDF → | — |
STD16NF06LT4-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 35A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 35A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.02V | — | PDF → | — |
STN442D-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 35A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 35A | 25mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.02V | — | PDF → | — |
MDT40N10DMinos Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- oryginal to logic-level (Vgs(th) 0.5V), a kandydat nie ma Vgs(th) w bazie — sprawdz w datasheecie czy kandydat tez jest logic-level (inaczej sie nie wysteruje)
- UWAGA: Id 33A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs(th)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 33A | 2226mΩ Vgs=10V, temperatura nieznana | — | — | — | PDF → | — |
IRFR540ZTRLPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 35A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 35A | 22.528mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 2V | 175°C | PDF → | — |
IRFR540ZTRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 35A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (11nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 35A | 22.528mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 11nC | 2V | 175°C | PDF → | — |
AOD406-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 35.8A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 35.8A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.5V | — | PDF → | — |
FDD8896-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 35.8A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 35.8A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
STD86N3LH5-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- UWAGA: Id 35.8A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 35.8A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | — | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
SM418T9RLSPS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 36A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (9.5nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 36A | 12.1mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 9.5nC | 1.31V | 150°C | PDF → | — |
ESD4186ElecSuper Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 36A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (17nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 36A | 16mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 17nC | 1.4V | — | PDF → | — |
FDD8780onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 35A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (13nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 25V | 35A | 175mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13nC | 1.21V | 175°C | PDF → | — |
FDD8782onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 35A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (13nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 25V | 35A | 175mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13nC | 1.21V | 175°C | PDF → | — |
FDD8796onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 35A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (13nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 25V | 35A | 175mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 13nC | 1.21V | 175°C | PDF → | — |
HY1310DHUAYI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 33A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (16nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 33A | 19.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 16nC | 1.03V | 150°C | PDF → | — |
KND8606AKIA Semicon Tech Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 5.68V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 35A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (19.3nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 35A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 19.3nC | 5.68V | 150°C | PDF → | — |
NP75N04VDK-E1-AYRENESAS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 38A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (27nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 38A | 5.7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 27nC | 1.8V | — | PDF → | — |
NP75N04VUK-E1-AYRENESAS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 38A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (30nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 38A | 8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 30nC | 3V | — | PDF → | — |
ME20N03MATSUKI Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 39A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (18nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 39A | 11mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 18nC | 1V | 150°C | PDF → | — |
SQD100N02_3M5L4GE3SQD100N02_3M5L4GE3 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (110nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Id
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | — | 3.5mΩ Vgs=10V, 25°C | 110nC | 1.52V | — | PDF → | — |
SQD100N02-3M5L_GE3SQD100N02-3M5L_GE3 Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- kandydat nie ma potwierdzonego Id w bazie — sprawdz w datasheecie przed uzyciem
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- rds_on warunki pomiaru tylko po jednej stronie znane
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (110nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Id
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | — | 3.5mΩ Vgs=10V, 25°C | 110nC | 1.52V | — | PDF → | — |
FDD8586onsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 35A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (34nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 35A | 4.05mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 34nC | 1.21V | 175°C | PDF → | — |
LNG045R210LONTEN Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 35A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (23.4nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 25V | 35A | 21mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 23.4nC | 2V | 125°C | PDF → | — |
ISL9N310AD3STonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 35A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (17nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 35A | 8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 17nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
ISL9N310AD3ST_NLonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 35A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (17nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 35A | 8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 17nC | 1V | 175°C | PDF → | — |
STD35NF3LLT4STMicroelectronics Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 35A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (17nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 35A | 19.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 17nC | 2.5V | 175°C | PDF → | — |
LNG05R230LONTEN Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 32A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (21.5nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 25V | 32A | 23mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 21.5nC | 2V | 125°C | PDF → | — |
VBE1202VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 35.8A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (120nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 35.8A | 2.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 120nC | 7.5V | 175°C | PDF → | — |
VBZE100N02VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 35.8A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (120nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 35.8A | 2.5mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 120nC | 7.5V | 175°C | PDF → | — |
ISL9N2357D3STonsemi Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 35A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (85nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 35A | 7mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 85nC | 4V | 175°C | PDF → | — |
N0607N-ZK-E1-AYRENESAS Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 4V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 32.5A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (58nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 32.5A | 7.2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 58nC | 4V | — | PDF → | — |
IRFR4615TRLPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 33A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (26nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 33A | 3442mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 26nC | 3V | 175°C | PDF → | — |
AOD4132-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 35.8A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (71.5nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 35.8A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 71.5nC | 1.5V | — | PDF → | — |
AOD414-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 35.8A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (71.5nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 35.8A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 71.5nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
AOD438-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 35.8A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (71.5nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 35.8A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 71.5nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
AOD492-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 35.8A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (71.5nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 35.8A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 71.5nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
LR8103V-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 35.8A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (71.5nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 35.8A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 71.5nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
VBE1303VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 35.8A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (71.5nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 35.8A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 71.5nC | 1.5V | 175°C | PDF → | — |
VBZE100N03VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 35.8A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (71.5nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 35.8A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 71.5nC | 7.5V | 175°C | PDF → | — |
VBZE70N03VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 35.8A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (72nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 35.8A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 72nC | 7.5V | 175°C | PDF → | — |
NCE30H12K-VBVBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- UWAGA: Id 35.8A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (81.5nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 35.8A | 2.3mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 81.5nC | 2.5V | 175°C | PDF → | — |
VBZE75N03VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 35.8A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (100nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 35.8A | 8mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 100nC | 7.5V | 175°C | PDF → | — |
VBZE90N03VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 35.8A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (100nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 35.8A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 100nC | 7.5V | 175°C | PDF → | — |
VBZE04N03VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 35.8A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (227nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 35.8A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 227nC | 7.5V | 175°C | PDF → | — |
VBZE80N03VBsemi Elec Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (6)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 7.5V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- UWAGA: Id 35.8A < 40A oryginalu — sprawdz realny prad w aplikacji
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (227nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 30V | 35.8A | 2mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 227nC | 7.5V | 175°C | PDF → | — |
JMTK060N06AJiangsu JieJie Microelectronics Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (5)- rozny typ bramki: logic-level -> standard (Vgs(th) 0.5V vs 3V) — sprawdz czy sterownik da odpowiednie Vgs
- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (103nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 25V | 120A | 4.55mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 103nC | 3V | 175°C | PDF → | — |
IRFR7440TRPBFInfineon Technologies Kandydat do weryfikacji Uwagi do doboru (4)- rds_on warunki pomiaru nieporownywalne lub niepelne — wymagane zgodne Vgs, temperatura i Id; nie oceniamy przewagi ani odrzucenia na podstawie tych wartosci
- verify-switching-losses-in-circuit
- Qg wyzsze (134nC vs 4.5nC) - wolniejsze przelaczanie, wieksze straty switching
- Brak danych: Vgs pomiaru Rds(on)
| N | TO-252 6.5×6.1mm | 20V | 180A | 1.92mΩ Vgs pomiaru nieznane, temperatura nieznana | 134nC | 2.23V | 125°C | PDF → | — |